【技术实现步骤摘要】
键盘检测方法及其系统
本专利技术涉及一种检测方法及其系统，且特别涉及一种键盘种检测方法及其系统。
技术介绍
现有的键盘组装程序是将键盘的多个按键固定在一底座上，接着以人工目检确认各个按键是否摆放在正确的位置，并检查按键是否有歪斜或是漏印等问题产生，确认无误后并直接以热压成形的方式形成键盘成品以供出货。然而，以人工目检的方式进行键盘按键良率的检测容易产生疏漏以及人工时间难以掌握的问题，若不能有效的管理则容易造成出货品质与出货的数量不稳定。另外，若大量出货时，长时间的人工目检对作业员的健康负担影响很大同时也存在降低品质的可能性，如何缩短检测时间以及确保品质的稳定度是键盘组装中一个很重要的课题。
技术实现思路
本专利技术提供一种键盘检测方法，利用影像辨识的方式对键盘按键进行高品质且稳定的检测。本专利技术提供一种键盘检测系统，适于上述的键盘检测方法。本专利技术的键盘检测方法包括：获得一待测键盘的一待测影像；对待测影像进行定位影像处理程序，而得到待测影像中多个待测按键位置；根据多个待测按键位...
【技术保护点】
1.一种键盘检测方法，其特征在于，所述键盘检测方法包括：/n获得一待测键盘的一待测影像；/n对该待测影像进行一定位影像处理程序，而得到该待测影像中多个待测按键位置；/n根据所述多个待测按键位置，对该待测影像中位在所述多个待测按键位置上的多个待测部位进行一清晰化影像处理程序，而得到多个待测按键影像；以及/n进行一比对程序，以判断所述多个待测按键影像是否符合一标准键盘的多个标准按键影像。/n
【技术特征摘要】
1.一种键盘检测方法，其特征在于，所述键盘检测方法包括：
获得一待测键盘的一待测影像；
对该待测影像进行一定位影像处理程序，而得到该待测影像中多个待测按键位置；
根据所述多个待测按键位置，对该待测影像中位在所述多个待测按键位置上的多个待测部位进行一清晰化影像处理程序，而得到多个待测按键影像；以及
进行一比对程序，以判断所述多个待测按键影像是否符合一标准键盘的多个标准按键影像。
2.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，该定位影像处理程序包括：
对该待测影像进行影像处理而得到一按键轮廓图，其特征在于，该按键轮廓图包括多个按键轮廓，所述多个按键轮廓沿着一第一方向排列成多排；
统计所述多个按键轮廓在该第一方向上的像素累积量，以界定出所述多个按键轮廓在一第二方向上所排列成的位置；以及
辨识各该排的所述多个按键轮廓中，各该按键轮廓在该第一方向上的位置。
3.如权利要求2所述的键盘检测方法，其特征在于，依据所述多个按键轮廓在该第一方向上的像素累积量，判断出各该排的所述多个按键轮廓在该第二方向上的一上边界与一下边界，且辨识在各该排的所述多个按键轮廓的该上边界与该下边界之间的像素量，以判断出各该排的各该按键轮廓的一左边界与一右边界。
4.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，该清晰化影像处理程序包括：
对所述多个待测部位进行一灰阶化处理；以及
对所述多个待测部位进行一第一自适应二值化处理。
5.如权利要求4所述的键盘检测方法，其特征在于，在该第一自适应二值化处理之后，该清晰化影像处理程序还包括：
对所述多个待测部位进行模糊化处理；以及
对所述多个待测部位进行一第二自适应二值化处理。
6.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，该清晰化影像处理程序还包括：
进行滤波处理，以去除噪声。
7.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，在该比对程序之前，包括：
输入该待测键盘的一料号，以载入该料号所对应的该标准键盘的所述多个标准按键影像。
8.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，在该比对程序中，包括：
比对所述多个待测按键影像的轮廓图样是否符合该标准键盘的多个标准按键影像的轮廓图样。
9.如权利要求8所述的键盘检测方法，其特征在于，在该比对程序中，还包括：
比对所述多个待测按键影像的轮廓总长是否符合该标准键盘的多个标准按键影像的轮廓总长。
10.如权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，在获得该待测键盘的该待测影像之前，还包括：
配置该待测键盘至一定位结构，其特征在于，该定位结构包括沿着一第一方向延伸的一第一定位部及沿着一第二方向延伸的一第二定位部，该待测键盘抵靠至该第一定位部与该第二定位部；以及
获取该待测键盘的该待测...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢泳龙，孟宪明，孙武雄，廖祝湘，张基霖，
申请(专利权)人：技嘉科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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