深度检测系统和电子装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种深度检测系统，其包括发射模组，所述发射模组用于发射具有参考图案的检测光束，所述检测光束能够被一个接收模组接收并用于检测对象生物特征信息，或绘制外部对象的图像，或检测外部对象空间坐标变化。所述参考图案包括多列的子参考图案，所述多列的子参考图案在列方向上具有交错的排列。本实用新型专利技术还公开了一种包括所述深度检测系统的电子装置。本实用新型专利技术具有较大的深度信息检测范围。

【技术实现步骤摘要】
深度检测系统和电子装置
本技术涉及光电
，尤其涉及一种深度检测系统和电子装置。
技术介绍
随着技术进步和人们生活水平提高，对于手机、平板电脑、相机等电子产品，用户要求具有更多功能和时尚外观。目前，手机的发展趋势是轻薄、接近全面屏，同时具有前置摄像头或人脸识别等功能。传统的人脸识别技术是基于二维的图像比对，很容易被照片破解。因此，具有更加安全的三维(Three-dimensional，3D)人脸识别技术以及基于此的各种3D生物特征检测和识别是未来电子产品的发展趋势。结构光(structurelight)是指具有特定图案的光束，其可被设计成条纹图案、规则点阵图案、网格图案、散斑图案、编码图案等，甚至更复杂图案的光场。目前结构光被广泛应用在深度检测系统中，用于实现三维的图像绘制或生物特征检测，比如身份识别、投影仪、三维轮廓重现、深度测量、防伪辨识等。然而，现有技术的深度检测用于手机等便携式的电子装置时，能够精确测量的深度范围较小。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供一种用于解决现有技术问题的深度检测系统和电子装置。本技术的一个方面公开了一种深度检测系统，其包括发射模组，所述发射模组用于发射具有参考图案的检测光束，所述检测光束能够被一个接收模组接收并用于检测对象生物特征信息，或绘制外部对象的图像，或检测外部对象空间坐标变化。所述参考图案包括多列的子参考图案，所述多列的子参考图案在列方向上具有交错的排列。可选的，所述深度检测系统还包括用于采集被外部对象反射的具有检测图案的检测光束的接收模组，所述发射模组包括用于发射具有子参考图案的检测光束的发光单元和用于将所述发光单元发射的子参考图案的光束进行复制并投影为具有参考图案的检测光束的衍射光学元件，所述接收模组包括能够采集检测光束的图像传感器。可选的，所述发射模组包括多个发光元件组成的具有不相关二维图案的发光阵列和设置在所述发光阵列上方的衍射光学元件，所述发光阵列用于发射具有子参考图案的检测光束，所述衍射光学元件用于将所述具有子参考图案的检测光束进行复制后向空间投影具有所述参考图案的检测光束，所述子参考图案包括多个与所述发光元件一一对应的光点，所述子参考图案内部光点具有不相关性。可选的，所述多列的子参考图案具有奇偶交错的排列。可选的，所述多列的子参考图案具有逐列交错的排列，所述多列的子参考图案对应的检测长度为H*V/V3，其中H表示所述子参考图像的宽度，V表示所述子参考图案的长度，V3表示所交错位移。可选的，所述多列的子参考图案具有随机交错的排列。可选的，所述多列的子参考图案具有对称交错的排列。可选的，所述多列的子参考图案具有奇偶交错、逐列交错、随机交错、对称交错中的多种排列。可选的，所述子参考图案具有矩形边缘，所述多列的子参考图案的相邻列之间的交错位移为所述子参考图案长度的1/4～1/2。可选的，所述参考图案包括多个相同的具有矩形边缘的子参考图案，所述多个子参考图案对应的检测长度大于或等于所述子参考图案的宽度的两倍。本技术的一个方面公开了一种电子装置，其包括上述的深度检测系统或支架。相较于现有技术，本技术的深度检测系统具有可精确检测的深度范围是现有技术的两倍。因此，所述深度检测系统具有交错的排列的子参考图案，具有较好的深度检测范围。本技术的电子装置包括上述深度检测系统。因此本技术深度检测系统和电子装置具有较大的深度信息的精确检测范围。附图说明图1是本技术的一个实施例的示意图；图2是图1所示实施例的部分示意图；图3是图1所示实施例的部分示意图；图4是图3所示实施例的部分示意图；图5是图3所示实施例的部分示意图；图6是图1所示实施例的示意图；图7是本技术的一个实施例的示意图；图8是本技术的一个实施例的示意图；图9是本技术的一个实施例的示意图；图10是本技术的一个实施例的示意图。具体实施方式在对本技术实施例的具体描述中，应当理解，当基板、框架、片、层或图案被称为在另一个基板、另一个片、另一个层或另一个图案“上”或“下”时，它可以“直接地”或“间接地”在另一个基板、另一个片、另一个层或另一个图案上，或者还可以存在一个或多个中间层。为了清楚的目的，可以夸大、省略或者示意性地表示说明书附图中的每一个层的厚度和大小。此外，附图中元件的大小并非完全反映实际大小。本技术的一实施例中，一种深度检测系统包括发射模组，所述发射模组用于发射具有参考图案的检测光束，所述检测光束能够被一个接收模组接收并用于检测对象生物特征信息，或绘制外部对象的图像，或检测外部对象空间坐标变化。所述参考图案包括多列的子参考图案，所述多列的子参考图案在列方向上交错排列。本实施例中，所述深度检测系统还包括用于采集被外部对象反射的具有检测图案的检测光束的接收模组，所述发射模组包括用于发射具有子参考图案的检测光束的发光单元和用于将所述发光单元发射的子参考图案的光束进行复制并投影为具有参考图案的检测光束的衍射光学元件，所述接收模组包括能够采集检测光束的图像传感器。所述发射模组包括多个发光元件组成的具有不相关二维图案的发光阵列和设置在所述发光阵列上方的衍射光学元件，所述发光阵列用于发射具有子参考图案的检测光束，所述衍射光学元件用于将所述具有子参考图案的检测光束进行复制后向空间投影具有所述参考图案的检测光束，所述子参考图案包括多个与所述发光元件一一对应的光点，所述子参考图案内部光点具有不相关性。本实施例或变更实施例中，所述多列的子参考图案具有奇偶交错的排列；或所述多列的子参考图案具有逐列交错的排列，所述多列的子参考图案对应的检测长度为H*V/V3，其中H表示所述子参考图像的宽度，V表示所述子参考图案的长度，V3表示所交错位移；或所述多列的子参考图案具有随机交错的排列；或所述多列的子参考图案具有对称交错的排列；或所述多列的子参考图案具有奇偶交错、逐列交错、随机交错、对称交错中的多种排列。本实施例中，所述子参考图案具有矩形边缘，所述多列的子参考图案的相邻列之间的交错位移为所述子参考图案长度的1/4～1/2。所述参考图案包括多个相同的具有矩形边缘的子参考图案，所述多个子参考图案对应的检测长度大于或等于所述子参考图案的宽度的两倍。本技术其他实施例还提供了一种包括上述深度检测系统的电子装置。下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1和图2，本技术的一个实施例中，一个深度检测系统10包括发射模组11和接收模组12。所述发射模组11和接收模组12邻近或间隔设置。所述发射模组11和接收模组12之间的连线为基线101。所述发射模本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种深度检测系统，其特征在于，包括：/n发射模组，用于发射具有参考图案的检测光束；所述检测光束能够被一个接收模组接收并用于检测对象生物特征信息，或绘制外部对象的图像，或检测外部对象空间坐标变化；/n其中，所述参考图案包括多列的子参考图案，所述多列的子参考图案在列方向上交错排列。/n

【技术特征摘要】
1.一种深度检测系统，其特征在于，包括：
发射模组，用于发射具有参考图案的检测光束；所述检测光束能够被一个接收模组接收并用于检测对象生物特征信息，或绘制外部对象的图像，或检测外部对象空间坐标变化；
其中，所述参考图案包括多列的子参考图案，所述多列的子参考图案在列方向上交错排列。


2.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述深度检测系统还包括用于采集被外部对象反射的具有检测图案的检测光束的接收模组，所述发射模组包括用于发射具有子参考图案的检测光束的发光单元和用于将所述发光单元发射的子参考图案的光束进行复制并投影为具有参考图案的检测光束的衍射光学元件，所述接收模组包括能够采集检测光束的图像传感器。


3.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述发射模组包括多个发光元件组成的具有不相关二维图案的发光阵列和设置在所述发光阵列上方的衍射光学元件，所述发光阵列用于发射具有子参考图案的检测光束，所述衍射光学元件用于将所述具有子参考图案的检测光束进行复制后向空间投影具有所述参考图案的检测光束，所述子参考图案包括多个与所述发光元件一一对应的光点，所述子参考图案内部光点具有不相关性。


4.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述多列的子参考图案具有奇偶交...

【专利技术属性】
技术研发人员：田浦延，王小明，
申请(专利权)人：柳州阜民科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广西;45