【技术实现步骤摘要】
一种振镜校正系统及其校正方法
本专利技术属于增材制造
，涉及一种振镜校正系统，还涉及一种利用该振镜校正系统的校正方法。
技术介绍
在增材制造
一般利用振镜控制光(激光等)路来照射粉末(金属、树脂等)令其凝固实现复杂零件的形成；温度、湿度、震动等环境变化、电机的机械磨损等原因，导致振镜电机丢步，一定时间后产生偏差，影响零件的成型质量，因此需要及时对振镜进行误差补偿以减少偏差。在增材制造
，一般在校正板上打出标靶阵列，再使用昂贵的辅助测量设备(光学影像仪等)进行测量，人工计算出标靶阵列的理论与实际的偏差，再通过补偿计算软件生成校正文件；如此方式操作复杂、费时、成本高，且不容易随时对振镜进行校正，效率低下。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种振镜校正系统，解决振镜校正系统需要借助辅助测量设备导致成本高、耗时、操作复杂且不能随时对振镜进行校正的问题。本专利技术的目的还在于提供一种振镜校正系统的校正方法。本专利技术所采用的第一种技术方案是，一种振镜校正系统包括...
【技术保护点】
1.一种振镜校正系统，其特征在于，所述振镜校正系统包括/n光路发射器(1)，用于发射出光束；/n振镜控制系统(2)，用于控制光路发射器(1)发射出的光束偏转打出标靶阵列，并将标靶阵列烧结到振镜校正系统(3)上；/n振镜校正系统(3)，用于接受光路发射器(1)发出的光束，从而形成所述标靶阵列以及生成振镜补偿文件。/n
【技术特征摘要】
1.一种振镜校正系统，其特征在于，所述振镜校正系统包括
光路发射器(1)，用于发射出光束；
振镜控制系统(2)，用于控制光路发射器(1)发射出的光束偏转打出标靶阵列，并将标靶阵列烧结到振镜校正系统(3)上；
振镜校正系统(3)，用于接受光路发射器(1)发出的光束，从而形成所述标靶阵列以及生成振镜补偿文件。
2.根据权利要求1所述的一种振镜校正系统，其特征在于，所述振镜校正系统(3)包括振镜校正板(31)、接触式扫描仪(32)和图像处理模块(33)，所述振镜校正板(31)用于接收接受光束照射从而形成所述标靶阵列，所述接触式扫描仪(32)用来对振镜校正板(31)的标靶阵列进行图像采集，所述图像处理模块(33)用于处理接触式扫描仪(32)采集的图像，生成振镜补偿文件。
3.根据权利要求1所述的一种振镜校正系统，其特征在于，所述振镜校正板(31)是平整度良好且不易变形的平板状材质。
4.根据权利要求2所述的一种振镜校正系统，其特征在于，所述接触式扫描仪(32)包括透光玻璃平板，在所述透光玻璃平板的外侧纹有间隔固定的两组平行斜线，两组所述平行斜线垂直相交形成若干个均匀排列的交叉点。
5.根据权利要求2所述的一种振镜校正系统，其特征在于，所述接触式扫描仪(32)的分辨率在600dpi到2400dpi之间。
6.一种振镜校正系统的校正方法，其特征在于，具体操作步骤如下：
步骤1：振镜控制系统2控制光路发射器1发出的光束在振镜校正板31上打出标靶阵列；
步骤2，将振镜校正板31放置在接触式扫描仪32上，运行接触式扫描仪32采集标靶阵列图像；
步骤3，图像处理模块33利用步骤2采集的标靶阵列图像获取到图像中各个像素点的相对坐标值，记作集合S5
步骤3.1：将所述标靶阵列图像中所有像素点集合记作S＝{(x，y)|x，y∈N}；x、y分别是像素点在直角坐标系中各x、y轴坐标，N是自然数；
步骤3.2：识别出接触式扫描仪透光玻璃平板上所有平行斜线交叉点在图像中的位置，记作S1＝{p|p∈S}；以任一平行斜线的交叉点为原点、沿所述原点斜向下平行斜线方向为X轴正方向、沿所述原点斜向上平行斜线方向为Y轴正方向创建网格坐标系，网格坐标系记作C1＝{x，y，p|x，y∈Z，p∈S1}；
步骤3.3：识别出所有标靶阵列在图像中的位置，记作S2＝{p|p∈S}；以振镜的出光原点的标靶位置为原点、振镜扫射X、Y方向为X...
【专利技术属性】
技术研发人员：范美极，杨东辉，袁佐鹏，
申请(专利权)人：西安铂力特增材技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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