【技术实现步骤摘要】
一种电子器件的固定及测试装置
本专利技术属于电子器件测试
，具体涉及一种电子器件的固定及测试装置。
技术介绍
目前，针对于电子器件的相关性能测试，往往是在一个工装台上进行，利用夹具将待测试元件夹紧，再接通相关电路，以实现测试过程。该过程中，由于与待测试元件的触头相连接的测试工具较为尖锐，容易对待测试元件造成刮伤，如WO/2003/049147描述的测试系统中，其采用杠杆接触的方式，测量尖端容易对触点造成刮伤。现有技术中的测试系统一般较为复杂，体积较大，不适宜安装于一些光学支架上，导致其灵活性较差。另外，现有的测试系统中，一般不具有抽真空功能或不具有一个密闭的测试环境，一些待测试元件以及测量元件由于周围空气的影响，在测试时，容易产生老化，影响了其测试的准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电子器件的固定及测试装置，以解决上述提到的现有技术中导致的上述缺陷。一种电子器件的固定及测试装置，包括底座、锁定环、电环组件、电性连接件、外罩、保持器、电接触组件以及封闭环，所述锁定环套设于底座...
【技术保护点】
1.一种电子器件的固定及测试装置，其特征在于，包括底座(1)、锁定环(2)、电环组件(3)、电性连接件(4)、外罩(5)、保持器(6)、电接触组件(7)以及封闭环(11)，所述锁定环(2)套设于底座(1)的外圆周上并与其过盈配合，所述电环组件(3)螺纹连接于底座(1)的下部且所述电性连接件(4)安装于电环组件(3)内并能够与电接触组件(7)电性连接，所述外罩(5)安装于底座(1)上并位于底座(1)的上方，所述封闭环(11)安装于外罩(5)的上端，封闭环(11)与外罩(5)的上端之间还安装有一块石英玻璃(12)，所述保持器(6)安装于外罩(5)的内腔内并夹紧固定于底座(1)与...
【技术特征摘要】
1.一种电子器件的固定及测试装置，其特征在于，包括底座(1)、锁定环(2)、电环组件(3)、电性连接件(4)、外罩(5)、保持器(6)、电接触组件(7)以及封闭环(11)，所述锁定环(2)套设于底座(1)的外圆周上并与其过盈配合，所述电环组件(3)螺纹连接于底座(1)的下部且所述电性连接件(4)安装于电环组件(3)内并能够与电接触组件(7)电性连接，所述外罩(5)安装于底座(1)上并位于底座(1)的上方，所述封闭环(11)安装于外罩(5)的上端，封闭环(11)与外罩(5)的上端之间还安装有一块石英玻璃(12)，所述保持器(6)安装于外罩(5)的内腔内并夹紧固定于底座(1)与石英玻璃(12)之间，所述电接触组件(7)滑动连接于保持器(6)的内腔内并能够通过升降机构上下移动，保持器(6)的上部还设有用于安装待测试元件(15)的安装部(13)。
2.根据权利要求1所述的一种电子器件的固定及测试装置，其特征在于：所述电环组件(3)包括上电环(31)和下电环(32)，上电环(31)螺纹连接底座(1)的下部，下电环(32)螺纹连接于上电环(31)的下部。
3.根据权利要求2所述的一种电子器件的固定及测试装置，其特征在于：所述电性连接件(4)包括圆形连接件一(41)和若干个电触头一(42)，所述电触头一(42)安装于圆形连接件上，上电环(31)与下电环(32)的连接处设有一台阶面，圆形连接件一(41)压接与台阶面与下电环(32)之间。
4.根据权利要求3所述的一种电子器件的...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁荣，方敏，李扬，吴倩倩，王涛，
申请(专利权)人：亳州文青测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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