一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质技术

本申请公开了一种测试方法、一种电子设备和一种计算机可读存储介质，该方法包括：利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数；其中，所述待测试器件为使用PCIe接口的器件，所述目标参数包括影响信号完整性的参数；利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测；在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。由此可见，本申请提供的测试方法，通过无人值守的方式确定PCIe接口的最优参数，提高测试效率的同时，提高了PCIe接口通信的稳定性。

A test method, electronic equipment and computer readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质
本申请涉及计算机
，更具体地说，涉及一种测试方法、一种电子设备和一种计算机可读存储介质。
技术介绍
PCIe(中文全称：高速串行计算机扩展总线标准，英文全称：peripheralcomponentinterconnectexpress)接口具有点对点的传输特性：传输速率高、带宽大、易拓展等。在过去相当长的时间的发展中，已经形成了一个非常完备的生态体系，大量的外设都采用这个接口，可以说PCIe接口是目前传统服务器领域最重要的一种外围总线接口。在实际应用中，需要对使用PCIe接口的器件的稳定性进行测试。在相关技术，一般采用带内压测方式测量器件发送端口和接收端口的波形图，不符合标准要求时需要测试人员通过带内控制的方式调整PCIe接口的参数，每次调整都需要人为参与，测试人员与器件存在多次交互，测试效率较低。另外，在实践检验中发现由于人工调整无法确定PCIe接口的最优参数，导致链路上仍然存在大量的可修复错误(英文全称：CorrectableError，英文简称：CE)，链路稳定性较差。因此，如何提高PCIe接口稳定性测试效率，并提高通信的稳定性是本领域技术人员需要解决的技术问题。
技术实现思路
本申请的目的在于提供一种测试方法、一种电子设备和一种计算机可读存储介质，提高了PCIe接口稳定性测试效率，并提高了通信的稳定性。为实现上述目的，本申请提供了一种测试方法，包括：利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数；其中，所述待测试器件为使用PCIe接口的器件，所述目标参数包括影响信号完整性的参数；利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测；在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。其中，所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数，包括：确定每个所述目标参数对应的候选值集，并根据所有所述候选值集确定所有候选值组；其中，所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应；将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组；相应的，所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，包括：当每次设置生效时，利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。其中，所述当每次设置生效时，利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，包括：在每次设置所有所述目标参数后，重启所述待测试器件，重启成功后利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。其中，所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，包括：确定所述待检测器件的器件类型，并启动所述器件类型对应的带内压测脚本。其中，所述在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，包括：在进行带内压测过程中，每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器，以便记录可修复错误的出现次数。其中，所述在进行带内压测过程中，每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器，以便记录可修复错误的出现次数，包括：在进行带内压测过程中，每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器，若所述CE状态寄存器为1，则将所述可修复错误的出现次数加一，并将所述CE状态寄存器清零。其中，所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值，包括：将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率；将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。其中，所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值，包括：将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。其中，所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数，包括：通过BMC向BIOS发送第一目标命令，以便通过所述第一目标命令设置所述待测试器件的每个所述目标参数；其中，所述第一目标命令为遵循ipmi协议的命令。其中，所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数之后，还包括：利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否设置成功；若是，则执行所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本的步骤。其中，所述利用所述带外控制脚本判断所有所述目标参数是否全部设置成功，包括：通过BMC向BIOS发送第二目标命令，以便判断所有所述目标参数是否全部设置成功；其中，所述第二目标命令为遵循ipmi协议的命令。其中，所述目标参数包括均衡参数和/或差分输出电压。其中，所述待测试器件包括GPU、NVME硬盘和网卡中的任一项或任几项的组合。为实现上述目的，本申请提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现：利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数；利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测；在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值；其中，所述待测试器件为使用PCIe接口的器件，所述目标参数包括影响信号完整性的参数。其中，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现：确定每个所述目标参数对应的候选值集，并根据所有所述候选值集确定所有候选值组；将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组；当每次设置生效时，利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本；其中，所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应。其中，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现：确定所述待检测器件的器件类型，并启动所述器件类型对应的带内压测脚本。其中，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现：在进行带内压测过程中，每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器，以便记录可修复错误的出现次数。其中，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现：将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率；将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。其中，所述计算机程序被所述处理器执行时还实现：将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。为实现上述目的，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述测试方法的步骤。通过以上方案可知，本申请提供的一种测试方法，包括：利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数；其中，所述待测试器件为使用PCIe接口的器件，所述目标参数包括影响信号完整性的参数；利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测；在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，并基于所述出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：/n利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数；其中，所述待测试器件为使用PCIe接口的器件，所述目标参数包括影响信号完整性的参数；/n利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测；/n在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：
利用带外控制脚本设置待测试器件的每个目标参数；其中，所述待测试器件为使用PCIe接口的器件，所述目标参数包括影响信号完整性的参数；
利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，以便利用所述带内压测脚本对所述待测试器件进行带内压测；
在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，并基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值。


2.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数，包括：
确定每个所述目标参数对应的候选值集，并根据所有所述候选值集确定所有候选值组；其中，所述候选值组中的每个值与每个所述目标参数一一对应；
将所有所述目标参数依次设置为每个所述候选值组；
相应的，所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，包括：
当每次设置生效时，利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。


3.根据权利要求2所述测试方法，其特征在于，所述当每次设置生效时，利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，包括：
在每次设置所有所述目标参数后，重启所述待测试器件，重启成功后利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本。


4.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述利用所述带外控制脚本启动带内压测脚本，包括：
确定所述待检测器件的器件类型，并启动所述器件类型对应的带内压测脚本。


5.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述在进行带内压测过程中，利用所述带外控制脚本监测所述待测试器件可修复错误的出现次数，包括：
在进行带内压测过程中，每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器，以便记录可修复错误的出现次数。


6.根据权利要求5所述测试方法，其特征在于，所述在进行带内压测过程中，每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器，以便记录可修复错误的出现次数，包括：
在进行带内压测过程中，每隔预设时间间隔读取可修复错误状态寄存器，若所述CE状态寄存器为1，则将所述可修复错误的出现次数加一，并将所述CE状态寄存器清零。


7.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值，包括：
将所述可修复错误的出现次数与测试时间的比值作为可修复错误的出现频率；
将所有所述出现频率中的最小频率对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。


8.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述基于所述出现次数确定所有所述目标参数的最优值，包括：
将所有所述出现次数中最小次数对应的候选值组确定为所有所述目标参数的最优值。


9.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述利用带外控制脚本设置所述待测试器件的每个目标参数，包括：
通过BMC向BIOS发送第一目标命令，以便通过所述第一目标命令设置所述待测试器件的每个所述目标参数；其中，所述第一目标命令为遵循ipmi协议的命令。

【专利技术属性】
技术研发人员：孙一心，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32