一种内槽直径测量装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种内槽直径测量装置及测量方法，特别是涉及深度较大、尺寸精度较高、位置较深内槽直径的测量装置及测量方法，属于机械加工技术领域。本发明专利技术利用基准垫片将内槽变小，进一步通过测量器具间接测量内槽直径，从而解决测量爪无法与被测内槽接触造成的直径无法测量问题，不同精度等级的测量器具可以实现不同精度的内槽直径的测量。进一步的，采用多段瓦片状结构的基准垫片与测量器具的测头接触，接触面积大，测量值稳定，降低了不同操作者测量的误差。

A device and method for measuring the diameter of inner groove

【技术实现步骤摘要】
一种内槽直径测量装置及测量方法
本专利技术涉及一种内槽直径测量装置及测量方法，特别是涉及深度较大、尺寸精度较高、位置较深内槽直径的测量装置及测量方法，属于机械加工

技术介绍
目前市场上测量内槽直径主要用通用方法测量，如通过游标卡尺、内径百分表、内径千分表、内卡规、带表卡钳、内径千分表、三爪内径千分尺等检测器具直接测量，但根据被测产品结构尺寸不同，通用测量方法在适用性上存在以下不足，如游标卡尺、内径百分表、内卡规、带表卡钳等测量精度及分辨率达不到检测要求，内径千分表、三爪内径千分尺易于测量精度较高的槽而不易测量深度较大的槽。尤其是测量深度较大、位置较深的槽直径，通用测量方法由于测量爪干涉、量程不足、精度不够等问题，不易完成。
技术实现思路
本专利技术的目的：提供一种内槽直径测量装置及测量方法，能实现深度较大、尺寸精度较高、位置较深内槽直径的测量。本专利技术的技术方案：一种内槽直径测量装置，其特征在于，包括基准垫片03、直径检测器具01、测量器具测头04；所述基准垫片03至少两段置于被测零件内槽侧壁上，测量器具测头04装在直径检测器具01的测量端，所述测量器具测头04与所述基准垫片03接触。所述直径检测器具01为内径百分表、内径千分表、三爪内径千分尺。所述基准垫片03为瓦片状结构，能与所述内槽侧壁紧密贴合，外径与零件内槽直径相同。所述基准垫片03的数量与测量器具测头04的测量爪的数量相同。所述测量器具测头04的测量爪与基准垫片03的中心点对应。一种内槽直径测量方法，其特征在于，包括以下步骤：1根据被测零件内槽直径的精度选择直径检测器具01的类型；3根据被测零件内槽的宽度、深度选择所述测量器具测头04；4校准所述直径检测器具01零位；5将对表样圈05置于测量平台上，将所述基准垫片03置于对表样圈内侧，将所述测量器具测头04与所述基准垫片03内侧接触，调整所述直径检测器具01调到0位，将0位尺寸设定为基准尺寸；6将基准垫片3置于所述被测零件内槽中，将所述测量器具测头04与所述基准垫片03内侧接触，调整所述直径检测器具01，读取测量数值并判断该数值是否在图纸内槽直径的公差范围内。所述被测零件内槽内径的图纸尺寸与对表样圈05的内径相同。所述测量器具测头04的测量爪与基准垫片03的中心点对应。本专利技术的有益效果：与现有技术相比，本专利技术提供的内槽直径测量装置与方法利用基准垫片将内槽变小，进一步通过测量器具间接测量内槽直径，从而解决测量爪无法与被测内槽接触造成的直径无法测量问题，不同精度等级的测量器具可以实现不同精度的内槽直径的测量。进一步的，采用多段瓦片状结构的基准垫片与测量器具的测头接触，接触面积大，测量值稳定，降低了不同操作者测量的误差。附图说明：图1是本专利技术所述基准垫片03为三片时的径向剖视图；图2是本专利技术所述对标样圈05结构示意图；图3是本专利技术所述测量器具01调整基准尺寸的示意图；图4是本专利技术所述测量器具01对比测量所述内槽02直径的示意图。其中，01-测量器具、02-内槽、03-基准垫片、04-测量器具测头、05-对表样圈。具体实施方式下面通过具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。一种内槽直径测量装置，其特征在于，包括基准垫片03、直径检测器具01、测量器具测头04；所述基准垫片03为瓦片状结构，所述基准垫片03至少两段置于被测零件内槽侧壁上，能与所述内槽侧壁紧密贴合，外径与零件内槽直径相同,所述基准垫片03的数量与测量器具测头04的测量爪的数量相同，测量器具测头04装在直径检测器具01的测量端，所述测量器具测头04与所述基准垫片03接触；最好与基准垫片03的中心点对应；所述直径检测器具01为内径百分表、内径千分表、三爪内径千分尺。1根据所述内槽02的直径选择尺寸合适的所述对表样圈05及所述基准垫片03；2根据所述内槽02的直径精度选择所述测量器具01的类型；3根据所述内槽02的宽度、深度选择所述测量器具01的测头04；4校准所述测量器具01零位；5将对表样圈05置于测量平台上，将所述基准垫片03置于对表样圈内侧，将所述测量器具测头04与所述基准垫片03内侧接触，调整所述直径检测器具01调到0位，将0位尺寸设定为基准尺寸；所述被测零件内槽内径的图纸尺寸与对表样圈05的内径相同。6正确取出所述测量器具01，并将所述基准垫片03取出；7将基准垫片3置于所述被测零件内槽中，将所述测量器具测头04与所述基准垫片03内侧接触，调整所述直径检测器具01，读取测量数值并判断该数值是否在图纸内槽直径的公差范围内；所述测量器具测头04的测量爪与基准垫片03的中心点对应。本专利技术提供的内槽直径测量装置与方法利用基准垫片将内槽变小，进一步通过测量器具间接测量内槽直径，从而解决测量爪无法与被测内槽接触造成的直径无法测量问题，不同精度等级的测量器具可以实现不同精度的内槽直径的测量。进一步的，采用多段瓦片状结构的基准垫片与测量器具的测头接触，接触面积大，测量值稳定，降低了不同操作者测量的误差。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种内槽直径测量装置，其特征在于，包括基准垫片(03)、直径检测器具(01)、测量器具测头(04)；所述基准垫片(03)至少两段置于被测零件内槽侧壁上，测量器具测头(04)装在直径检测器具(01)的测量端，所述测量器具测头(04)与所述基准垫片(03)接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种内槽直径测量装置，其特征在于，包括基准垫片(03)、直径检测器具(01)、测量器具测头(04)；所述基准垫片(03)至少两段置于被测零件内槽侧壁上，测量器具测头(04)装在直径检测器具(01)的测量端，所述测量器具测头(04)与所述基准垫片(03)接触。


2.如权利要求1所述的内槽直径测量装置，其特征在于，所述直径检测器具(01)为内径百分表、内径千分表、三爪内径千分尺。


3.如权利要求1所述的内槽直径测量装置，其特征在于，所述基准垫片(03)为瓦片状结构，能与所述内槽侧壁紧密贴合，外径与零件内槽直径相同。


4.如权利要求1所述的内槽直径测量装置，其特征在于，所述基准垫片(03)的数量与测量器具测头(04)的测量爪的数量相同。


5.如权利要求1所述的内槽直径测量装置，其特征在于，所述测量器具测头(04)的测量爪与基准垫片(03)的中心点对应。


6.一种内槽直径测量方...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴清雨，姚素娴，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司金城南京机电液压工程研究中心，
类型：发明
国别省市：江苏;32