【技术实现步骤摘要】
具有相位检测自动聚焦像素的图像传感器
本专利技术大体上涉及半导体图像传感器，并且确切地说但非排他地，涉及具有微透镜(ML)相位检测自动聚焦(PDAF)像素的图像传感器。
技术介绍
图像传感器已变得随处可见。它们广泛用于数码静态相机、蜂窝式电话、安全性相机，以及医学、汽车和其它应用。例如自动聚焦和三维(3D)成像的一些应用可能需要电子装置提供立体和/或深度感测能力。此类图像传感器装置通常包含在单个图像传感器中的图像像素和相位检测自动聚焦(PDAF)像素两者。通过这种类型的布置，相机可以使用芯片上PDAF像素以聚焦图像而不需要单独的相位检测传感器。在典型的布置中，PDAF像素都具有相同色彩并且连续布置在像素阵列中的行中。当PDAF像素以此方式布置时，光学串扰变为成问题的。举例来说，绿色图像像素与绿色PDAF像素之间的光学串扰和绿色图像像素与红色图像像素之间的光学串扰相比可以是更加难以校正的。因此，所期望的是提供具有较少光学串扰的改进的PDAF像素。
技术实现思路
根据本申请的实施例，一种图像传感器像素阵列包括...
【技术保护点】
1.一种图像传感器像素阵列，其包括：/n多个图像像素单元，用以收集图像信息；以及/n多个相位检测自动聚焦PDAF像素单元，用以收集相位信息，其中：/n所述PDAF像素单元中的每一个基本上由所述图像像素单元围绕；/n所述PDAF像素单元中的每一个包含彼此邻近的两个第一图像传感器像素，其中：/n所述第一图像传感器像素中的每一个包含安置在半导体衬底中的第一光电二极管；以及/n共享第一微透镜覆盖所述第一图像传感器像素中的两者；/n所述图像像素单元中的每一个包含彼此邻近的四个第二图像传感器像素，其中：/n所述第二图像传感器像素中的每一个包含安置在所述半导体衬底中并且由小于所述第一微透...
【技术特征摘要】
20180625 US 16/017,5661.一种图像传感器像素阵列，其包括：
多个图像像素单元，用以收集图像信息；以及
多个相位检测自动聚焦PDAF像素单元，用以收集相位信息，其中：
所述PDAF像素单元中的每一个基本上由所述图像像素单元围绕；
所述PDAF像素单元中的每一个包含彼此邻近的两个第一图像传感器像素，其中：
所述第一图像传感器像素中的每一个包含安置在半导体衬底中的第一光电二极管；以及
共享第一微透镜覆盖所述第一图像传感器像素中的两者；
所述图像像素单元中的每一个包含彼此邻近的四个第二图像传感器像素，其中：
所述第二图像传感器像素中的每一个包含安置在所述半导体衬底中并且由小于所述第一微透镜的个体第二微透镜覆盖的第二光电二极管；以及
涂层，其安置在所述第一微透镜和所述第二微透镜两者上，其中所述涂层跨越所述整个图像传感器像素阵列形成平坦化表面以接收入射光。
2.根据权利要求1所述的图像传感器像素阵列，其进一步包括：
第二层间介电层，其覆盖所述第一图像传感器像素和所述第二图像传感器像素两者；以及
第三层间介电层，其仅覆盖所述第二图像传感器像素，其中：
所述第三层间介电层直接地安置在所述第二层间介电层上；
所述第一微透镜直接地安置在所述第二层间介电层上；
所述第二微透镜直接地安置在所述第三层间介电层上；以及
所述第二微透镜的顶部表面在与所述第一微透镜的顶部表面相同的水平处。
3.根据权利要求2所述的图像传感器像素阵列，其中所述第二层间介电层的折射率并不低于所述第一微透镜的折射率和所述第二微透镜的折射率。
4.根据权利要求3所述的图像传感器像素阵列，其中所述第三层间介电层的折射率并不高于所述第二层间介电层的所述折射率并且也不低于所述第二微透镜的所述折射率和所述第一微透镜的所述折射率。
5.根据权利要求3所述的图像传感器像素阵列，其中所述涂层的折射率低于所述第一微透镜的所述折射率和所述第二微透镜的所述折射率。
6.根据权利要求1所述的图像传感器像素阵列，其中在所述图像像素单元中的每一个中的所述四个第二图像传感器像素经布置以形成跨越所述整个图像传感器像素阵列重复的2x2图案。
7.根据权利要求1所述的图像传感器像素阵列，其中在所述PDAF像素单元中的每一个中的所述两个第一图像传感器像素经布置以形成跨越所述整个图像传感器像素阵列分布以通过各种角度响应采集相位信息的2x1图案。
8.根据权利要求1所述的图像传感器像素阵列...
【专利技术属性】
技术研发人员：陆震伟，钱胤，戴森·戴，彭进宝，张博洋，赵诚，
申请(专利权)人：豪威科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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