一种屏缺陷检测方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及一种屏缺陷检测方法和系统。所述屏缺陷检测方法，包括：采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中同一所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。通过采用上述方法，可以判定缺陷所在层位置,从而对缺陷进行区分处理。

【技术实现步骤摘要】
一种屏缺陷检测方法和系统
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种屏缺陷检测方法和系统。
技术介绍
在显示屏生产过程中，由于各种原因显示屏可能会存在缺陷，这些缺陷包括划伤，异物，毛屑，刮伤，赃物等。缺陷的存在使得工厂产品的生产良率降低，可以通过缺陷检测检测出存在缺陷的显示屏，提升出货品质。现有的显示屏缺陷检测方法，一般采用如图1所示的方式，使用侧光源进行照明，屏膜内以及膜外的异物都会将光线照亮，因而用相机进行检测时，不管是膜内还是膜外的异物都会被检测出来，将有异物的屏标记为缺陷屏。但是现有显示屏缺陷检测方法无法区分缺陷所在层位置，即缺陷在表面还是下层，一旦屏被标记为缺陷屏，需要全部更换，导致屏生产成本较高。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提出了一种屏缺陷检测方法和系统，能够检测屏缺陷所在层位置。根据本专利技术的一个方面，本专利技术的一种屏缺陷检测方法，包括：采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中同一所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。通过采用此方法,可以判定屏缺陷所在层位置,从而可以区分屏缺陷是位于上表面还是里层,配套地进行区分处理,而不用全部更换缺陷屏,可以大大降低屏生产的成本。作为本专利技术的进一步改进，所述判断该缺陷点在所述屏的层位置具体是：若所述第一距离和所述第二距离的差值小于或等于第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏上表面，若所述差值大于所述第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏下层。作为本专利技术的进一步改进，所述判定所述缺陷点位于屏下层具体是：所述缺陷点位于屏下层的具体层位置是根据所述第一距离和所述第二距离的差值大小确定，即所述差值越大，所述缺陷点所在层越远离所述屏上表面。作为本专利技术的进一步改进，所述第一预设阈值是根据所述缺陷点在与屏表面平行的平面坐标系中的水平坐标位置预先设置的。作为本专利技术的进一步改进，所述第一成像装置被设置在屏正前方，所述第二成像装置被设置在屏侧前方。作为本专利技术的进一步改进，所述第一成像装置和/或第二成像装置均为线扫相机。通过采用了线扫相机,可以准确定位距离,使得检测准确性更高。根据本专利技术的另一个方面，本专利技术提供了一种屏缺陷检测系统，包括：设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置，用来对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；控制装置，用来根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。综上所述，总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：可以判定屏缺陷所在层位置,从而可以区分屏缺陷是位于上表面还是里层,配套地进行区分处理,而不用全部更换缺陷屏,可以大大降低屏生产的成本。如果缺陷位于屏上表面的保护玻璃盖板,可以通过擦拭方式去除保护玻璃盖板的灰尘或赃物来去除缺陷或仅仅更换保护玻璃盖板去除缺陷,而不用全部更换缺陷屏。擦拭或更换玻璃盖板的成本远远小于更换整块屏的成本,从而可以大大降低屏生产的成本。附图说明图1是现有屏缺陷检测方法示意图；图2至4是本专利技术实施例提供的屏缺陷检测方法示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。此外，下面所描述的本专利技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。本专利技术实施例所提供的方案，可以采用位于屏不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行成像判定屏缺陷所在层位置,从而可以区分屏缺陷是位于上表面还是里层,配套地进行缺陷处理,而不用全部更换缺陷屏,可以大大降低屏生产的成本。图2是本专利技术的屏缺陷检测方法和系统应用到实际屏检测中的示意图。本专利技术可以应用到现有电脑、通讯、消费型电子等行业中，本文所指的屏包括但不限于各种类型的面板、LED显示屏、LCD显示屏、OLED显示屏、手机屏、游戏机屏幕、玻璃、亚克力板等。屏缺陷检测系统包括设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置，用来对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；控制装置(图中未示出)，用来根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离判断所述缺陷点所在层位置。优选地，第一成像装置被设置在屏正前方，所述第二成像装置被设置在屏侧前方。优选地，第一成像装置到屏中心点的连线与第二成像装置到屏中心点的连线所形成的夹角范围为30°～45°。此角度下获取的第一距离和第二距离较为准确，经实验验证能够获得更好的检测精度。优选地，第一成像装置和第二成像装置均为线扫相机。面阵相机每次即可拍摄一整幅图像，但是其景深不足，即只能判断一定深度范围内的缺陷，超过景深范围内的缺陷拍摄不到，无法定位距离远近。而线扫相机每次只拍摄一条线的图像，通过连续采图拼接合成成一整幅图像，可以准确定位距离,因而缺陷检测精度较高相对于面阵相机更高。以第一成像装置为正视线扫相机，第二成像装置为侧视线扫相机为例说明。根据要检测的精度，以及线扫镜头的焦距，计算出所需要的工作距离，即沿着拍摄方向线扫相机镜头距离屏幕表面中心点的距离。使得正视线扫相机、侧视线扫相机均满足满足WD＝f(1+L/l)。其中WD为线扫相机的工作距离，f为镜头焦距，L为线扫相机拍摄的视场宽度，l为线扫相机靶面宽度。在屏的两侧各架设一只侧光源，且光源的角度需要可调。可以有其他照明方案，如背光源等，不影响本专利实施。结合图3至4说明本专利技术的屏检测方法包括步骤：S1采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图。皮带线/载台控制被测屏移动，第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取不同角度的两张图像。S2根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断所述缺陷点在屏的层位置。可以采用现有技术中任意方法从图像中获取缺陷怎么从拍摄图片中找出缺陷点，例如通过计算每个小区域的平均图像灰度值与背景灰度值的差值来比较，一般缺陷的灰度会大于背景的灰度。以第一成像装置为正视线扫相机，第一成像装置为侧视线扫相机为例说明如何判断缺陷点所在层位置。假设获取到缺陷点A，由于成像是在二维平面内的，图像没有深度信息，在正视线扫相机拍摄的图片中，拍摄的缺陷点A距离屏边缘点O的水平距离即缺陷点A与正本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种屏缺陷检测方法，其特征在于，包括：/n采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；/n根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中同一所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种屏缺陷检测方法，其特征在于，包括：
采用设置在屏前不同角度的第一成像装置和第二成像装置对屏进行连续成像获取第一视图和第二视图；
根据所述第一视图和第二视图获取缺陷点，并根据所述第一视图中所述缺陷点到预设参考点的第一距离和所述第二视图中同一所述缺陷点到所述预设参考点的第二距离的比较判断该缺陷点在所述屏的层位置。


2.如权利要求1所述的一种屏缺陷检测方法，其特征在于，所述判断该缺陷点在所述屏的层位置具体是：
若所述第一距离和所述第二距离的差值小于或等于第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏上表面，若所述差值大于所述第一预设阈值，则判定所述缺陷点位于屏下层。


3.如权利要求2所述的一种屏缺陷检测方法，其特征在于，所述判定所述缺陷点位于屏下层具体是：
所述缺陷点位于屏下层的具体层位置是根据所述第一距离和所述第二距离的差值大小确定，即所述差值越大，所述缺陷点所在层越远离所述屏上表面。


4.如权利要求2所述的一种屏缺陷检测方法，其特征在于，所述第一预设阈值是根据所述缺陷点在与屏表面平行的平面坐标系中的水平坐标位置预先设置的。


5.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪志坤，张胜森，欧昌东，郑增强，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42