一种碳化硅肖特基二极管及其制备方法技术

技术编号:22848614 阅读:52 留言:0更新日期:2019-12-17 23:13
本发明专利技术提供的一种肖特基二极管及其制备方法,其中所述肖特基二极管包括基底,以及若干P型结,其包括相对设置的第一端部和第二端部,且所述P型结嵌插设置于所述基底内以使所述第二端部位于所述基底内,相邻P型结间隔设置;连接所述第一端部和第二端部且位于P型结侧面上的连线为光滑的弧线。通过连接所述第一端部和第二端部且位于P型结侧面上的连线为光滑的弧线的结构,使得注入P型结边缘的电场强度更加均匀,进一步提高碳化硅肖特基二极管芯片的反向耐压以及可靠性。

A silicon carbide Schottky diode and its preparation method

【技术实现步骤摘要】
一种碳化硅肖特基二极管及其制备方法
本专利技术涉及功率半导体器件
,具体涉及一种碳化硅肖特基二极管及其制备方法。
技术介绍
碳化硅是第三代半导体材料中最具吸引力的材料之一,具有临界电场大、禁带宽度大、高温电子漂移速度高等优点,因此,广泛应用于制作高温、高压、大功率、耐辐照等半导体器件;其中,碳化硅肖特基二极管在电力电子技术中具有整流和续流的作用,因而广泛应用于功率变换电路中。目前,碳化硅肖特基二极管大多是采用离子注入技术,并与光刻、刻蚀等工艺结合实现面内可控区域注入;由于碳化硅掺杂剂扩散所需的温度极高,超过2300K,因此,高温离子注入是碳化硅肖特基二极管主要掺杂形成的必要过程。现有的碳化硅肖特基二极管P型结以及结终端是由多次垂直高温离子注入及高温退火激活形成,为了防止有源区边缘的电场过于集中,通常采用高温离子注入技术将离子注入在有源区边缘,形成结终端。当器件处于反偏状态时,耗尽区会随着反向电压的不断增大而逐渐发生纵向与横向的扩展,但是,垂直注入方式会使得P型结区边缘凹凸不平,导致注入结边缘的电场强度过大,碳化硅肖特基二极本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种肖特基二极管,包括基底,其特征在于,还包括:/n若干P型结,其包括相对设置的第一端部和第二端部,且所述P型结嵌插设置于所述基底内以使所述第二端部位于所述基底内,相邻P型结间隔设置;/n连接所述第一端部和第二端部且位于P型结侧面上的连线为光滑的弧线。/n

【技术特征摘要】
1.一种肖特基二极管,包括基底,其特征在于,还包括:
若干P型结,其包括相对设置的第一端部和第二端部,且所述P型结嵌插设置于所述基底内以使所述第二端部位于所述基底内,相邻P型结间隔设置;
连接所述第一端部和第二端部且位于P型结侧面上的连线为光滑的弧线。


2.根据权利要求1所述的肖特基二极管,其特征在于,所述第二端部为球形端部或者椭圆形端部。


3.根据权利要求1或2所述的肖特基二极管,其特征在于,所述基底包括碳化硅衬底及设置其上的碳化硅外延层,所述P型结设置于所述碳化硅外延层上;
所述碳化硅外延层包括有源区及位于有源区至少一侧的终端区。


4.根据权利要求3所述的肖特基二极管,其特征在于,位于所述终端区的碳化硅外延层上设置二氧化硅层;
位于所述有源区的碳化硅外延层上设置第一电极,所述第一电极边缘朝向所述二氧化硅层延伸形成延伸部,所述延伸部覆盖部分二氧化硅层。


5.根据权利要求4所述的肖特基二极管,其特征在于,还包括,
钝化层,至少覆盖部分延伸部和至少覆盖部分二氧化硅层,以保护终端区;第二电极,设置于所述基底远离所述P型结的一侧上。


6.一种权利要求1-5任一项所述肖特基二极管的制备方法,包括如下步骤:
围绕基底一侧的盲孔旋转并同时向所述盲孔内进行离子注入,以在所述盲孔内形成P型结,在离子注入的过程中,离子注入的...

【专利技术属性】
技术研发人员:姜春艳吴昊田亮吴军民潘艳
申请(专利权)人:全球能源互联网研究院有限公司国网山东省电力公司国家电网有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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