一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于荧光光谱技术测试领域，尤其涉及一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法。荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，荧光光谱的测试装置包括：激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，激发光源用于生成预设波长的激发光束，激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面，角度调节机构用于调节入射角度的值；旋转结构，用于固定待测材料，并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转；以及检测结构，用于接收待测材料生成的受激光束，并根据受激光束得到对应的荧光光谱。本发明专利技术通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料的角度分布特性。

A testing device for fluorescence spectrum and a testing method for fluorescence spectrum

【技术实现步骤摘要】
一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法
本专利技术属于荧光光谱技术测试领域，尤其涉及一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法。
技术介绍
目前，有机发光二极管(OLED)又称为有机电激光显示、有机发光半导体，具有结构轻薄、低功耗、高效率、制造工艺简单等诸多优良特性，特别是参杂的小分子OLED材料在光致发光领域有较大的潜在应用。通过研究具有水平方向的传输偶极矩分子材料，可以实现OLED薄膜材料的改进。但是，直接提取分子取向的信息较为复杂，常见的方法有边带辐射测量，表面等离子体耦合测量以及在微腔结构中染色分子进行偶极矩取向测量。这些方法虽然工作原理无误，但是分子偶极矩相关信息提取较为复杂，并且传统的OLED材料发光角度分布测量装置仅能实现激发光源以单一入射角度入射待测材料，即激发光源入射待测材料的入射角度是固定设置。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种荧光光谱的测试装置，旨在解决如何使激发光源以不同的入射角度入射待测材料，以获取待测材料在不同旋转角度下的荧光光谱的问题。本专利技术提供了一种荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，所述荧光光谱的测试装置包括：激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，所述激发光源用于生成预设波长的激发光束，所述激发光束以预设的入射角度入射所述待测材料表面，所述角度调节机构用于调节所述入射角度的值；旋转结构，用于固定所述待测材料，并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行同步旋转；以及检测结构，用于接收所述待测材料生成的受激光束，并根据所述受激光束得到对应的荧光光谱；其中，所述检测结构在所述待测材料和所述激发光源进行同步旋转的过程中从所述待测材料的不同位置接收所述受激光束。本专利技术的技术效果是：通过角度调节机构调节入射角度，并在该入射角度下将待测材料和激发光源同时旋转，测量在不同旋转角度下待测材料产生的受激光束的荧光光谱。在预设的入射角度下，通过分析待测材料的不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料的角度分布特性，且结构简单。附图说明图1是本专利技术实施例所提供的荧光光谱的测试装置的结构原理图；图2是图1的荧光光谱的测试装置的立体结构图；图3是图2的滤光轮的结构示意图；图4是本专利技术的另一个实施例提供的待测材料在0～90度的旋转角度的照射下生成的荧光光谱；图5是本专利技术的一个实施例提供的荧光光谱的测试方法的示意图。附图中标号与名称对应的关系如下所示：100、荧光光谱的测试装置；10、激发结构；11、激发光源；111、单色仪；112、透镜组；12、角度调节机构；121、调节电机；122、调节杆；20、旋转结构；21、旋转电机；22、柱面镜；23、旋转杆；30、待测材料；40、探测结构；41、光学收集单元；411、偏振棱镜；412、滤光机构；4121、滤光轮；4122、滤光电机；413、光学收集器；60、光纤；42、光学探测单元；63、滤光孔；具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“厚度”、“上”、“下”、“垂直”、“平行”、“底”、“角”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。请参阅图1至图3，本专利技术实施例提供了一种荧光光谱的测试装置100，用于获取待测材料30的荧光光谱，具体地，本专利技术提供的荧光光谱的测试装置100可以获取在不同入射角度下的待测材料30的荧光光谱。荧光光谱的测试装置100包括：激发结构10、旋转结构20以及检测结构。激发结构10包括激发光源11以及角度调节机构12，激发光源11用于生成预设波长的激发光束，即激发光源11可以生成不同波长的激发光束，以激发不同的待测材料30。激发光束以预设的入射角度入射待测材料30表面，角度调节机构12用于调节入射角度的值。旋转结构20用于固定待测材料30，并在角度调节机构12对入射角度调节到位后，旋转结构20根据用户输入的控制指令对待测材料30和激发光源11进行同步旋转。检测结构用于接收在该入射角度下待测材料30在不同旋转角度的受激光束，并根据受激光束得到对应的荧光光谱。即，检测结构在待测材料30和激发光源11进行同步旋转的过程中从待测材料30的不同旋转角度位置接收受激光束。通过角度调节机构12调节入射角度，并在该入射角度下将待测材料30和激发光源11同时旋转，测量在不同旋转角度下待测材料30产生的受激光束的荧光光谱。通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料30的角度分布特性，且结构简单。在一个实施例中，用户输入的控制指令可以包括顺时针旋转指令和逆时针旋转指令，当旋转结构20接收到顺时针旋转指令时，旋转结构20按照预设的旋转速率进行顺时针旋转，当旋转结构20接收到逆时针旋转指令时，旋转结构20按照预设的旋转速率进行逆时针旋转。在一个实施例中，旋转结构20包括：供待测材料30固定的柱面镜22、旋转电机21以及一端固结柱面镜22的旋转杆23，旋转电机21根据控制指令驱动旋转杆23与激发光源11同步旋转。可选地，激发光源11与柱面镜22均连接至旋转电机21，旋转电机21驱动激发光源11和柱面镜22在预设的入射角度下同步转动，即激发光源11对柱面镜22上的待测材料30的入射角度保持不变，从而使检测结构从柱面镜22得到该入射角度下的不同旋转角度的受激光束，且柱面镜22可以向空间发出均匀的受激光束。在一个实施例中，角度调节机构12包括一端固结激发光源11的调节杆122以及连接调节杆122另一端的调节电机121，调节电机121用于驱动调节杆122相对柱面镜22转动，以调节入射角度的值。具体地，调节电机121接收到调节指令并根据调节指令调节入射角度的值，在调节到位后，调节电机121停止动力输出。旋转电机21驱动调节电机121与柱面镜22同步转动，且激发光源11的入射角度保持不变。可选地，调节电机121与旋转杆23均连接旋转电机21的旋转输出轴，调节杆122连接调节电机121的旋转输出轴。在一个实施例中，旋转电机21的旋转方向与调节电机121的旋转方向相同设置。即，激发光源11发出的激发光束的入射方向与旋转结构20的旋转方向一致，例如，当激发光束以顺时针45°方向照射到待测材料30表面时本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，所述荧光光谱的测试装置包括：/n激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，所述激发光源用于生成预设波长的激发光束，所述激发光束以预设的入射角度入射所述待测材料表面，所述角度调节机构用于调节所述入射角度的值；/n旋转结构，用于固定所述待测材料，并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行同步旋转；以及/n检测结构，用于接收所述待测材料生成的受激光束，并根据所述受激光束得到对应的荧光光谱；/n其中，所述检测结构在所述待测材料和所述激发光源进行同步旋转的过程中从所述待测材料的不同位置接收所述受激光束。/n

【技术特征摘要】
1.一种荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，所述荧光光谱的测试装置包括：
激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，所述激发光源用于生成预设波长的激发光束，所述激发光束以预设的入射角度入射所述待测材料表面，所述角度调节机构用于调节所述入射角度的值；
旋转结构，用于固定所述待测材料，并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行同步旋转；以及
检测结构，用于接收所述待测材料生成的受激光束，并根据所述受激光束得到对应的荧光光谱；
其中，所述检测结构在所述待测材料和所述激发光源进行同步旋转的过程中从所述待测材料的不同位置接收所述受激光束。


2.如权利要求1所述的荧光光谱的测试装置，其特征在于：所述旋转结构包括：供所述待测材料固定的柱面镜、旋转电机以及一端固结所述柱面镜的旋转杆，所述旋转电机根据所述控制指令驱动所述旋转杆与所述激发光源同步旋转。


3.如权利要求2所述的荧光光谱的测试装置，其特征在于：所述角度调节机构包括一端固结所述激发光源的调节杆以及连接所述调节杆另一端的调节电机，所述调节电机用于驱动所述调节杆相对所述柱面镜转动，以调节所述入射角度的值。


4.如权利要求3所述的荧光光谱的测试装置，其特征在于：所述旋转电机的旋转方向与所述调节电机的旋转方向相同设置。


5.如权利要求2-4任意一项所述的荧光光谱的测试装置，其特征在于：所述检测结构包括：接收所...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛占强，郭翠，潘奕，
申请(专利权)人：深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司，深圳市太赫兹系统设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44