取向指数的导出方法、计算机程序及装置制造方法及图纸

本发明专利技术的取向指数的导出方法具有：第1工序，导出利用发光光谱的峰强度、发光性客体的取向指数及函数来制作出空间时能够描述包含在该空间的绘图的函数ξ，并利用函数ξ制作出峰强度I

Derivation method, computer program and device of orientation index

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】取向指数的导出方法、计算机程序及装置
本专利技术涉及一种导出发光性客体分子的取向指数的取向指数的导出方法、利用该方法的计算机程序及装置。
技术介绍
已知在有机电致发光元件(有机EL元件)等有机发光元件中，相对于发光体的基板表面的分子取向的状态对元件的性能影响较大，正积极进行欲通过控制该发光体的分子取向来改善元件的性能的研究。例如，报告有如下内容：关于在基板上具有发光性客体分散于主体中的薄膜(以下，称为“主客体膜”)的有机EL元件，通过使发光性客体相对于基板表面沿水平方向进行分子取向，与发光性客体的分子取向随机的情况相比，光提取效率或外部量子效率显著提高。然而，为了适当控制膜中发光性客体的分子取向，需要调查并掌握该发光性客体的取向状态，具体而言，需要从成为调查对象的膜获取与发光性客体的分子取向相关的一些数据，并根据该数据获知发光性客体的分子取向的状态。作为调查这种发光性客体的分子取向的方法，提出有利用通过角度依赖PL测定获得的辐射图案的方法(参考非专利文献1、2。)。角度依赖PL测定是指一边改变入射角度一边对主客体膜照射TM模式(本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种取向指数的导出方法，其具有：/n第1工序，导出利用发光光谱的峰强度I

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170501 JP 2017-0910181.一种取向指数的导出方法，其具有：
第1工序，导出利用发光光谱的峰强度ISP、发光性客体的取向指数及函数来制作出空间时能够描述包含在该空间的绘图的函数ξ，并利用所述函数ξ预先制作出峰强度ISP与取向指数的关系式，所述发光光谱是针对包含主体和分散于主体中的发光性客体的膜，在相对于该膜界面的法线的角度为40～60°的范围内一边连续改变入射角度一边照射激发光时观测到的；及
第2工序，针对包含主体和分散于主体中的发光性客体的膜，在相对于该膜界面的法线的角度为40～60°的范围内一边连续改变入射角度一边照射激发光来观测发光光谱，并将所述发光光谱的峰强度代入所述关系式的ISP，由此导出所述发光性客体的取向指数。


2.根据权利要求1所述的取向指数的导出方法，其中，
所述取向指数为取向秩序参数S。


3.根据权利要求1或2所述的取向指数的导出方法，其中，
用于所述第1工序的膜是作为将迁移偶极子视为发光性客体分子的模型的膜。


4.根据权利要求1～3中任一项所述的取向指数的导出方法，其中，
以模拟制作出所述空间。


5.根据权利要求4所述的取向指数的导出方法，其中，
所述模拟是光子模式密度模拟。


6.根据权利要求1～5中任一项所述的取向指数的导出方法，其中，
所述关系式是sigmoid函数。


7.根据权利要求1～6中任一项所述的取向指数的导出方法，其中，
所述函数ξ是将膜的折射率norg、空气的折射率nair及激发光的波长λ中的至少1个作为参数的值。


8.根据权利要求1～7...

【专利技术属性】
技术研发人员：小蓑刚，兴雄司，安达千波矢，
申请(专利权)人：国立大学法人九州大学，
类型：发明
国别省市：日本;JP