成像装置和监控装置制造方法及图纸

[问题]提供一种成像装置和监控装置，其能够对使用单个测距相机难以直接测量的对象区域进行精确的距离和形状测量。[解决方案]提供了一种成像装置，包括：传感器单元，用于将光照射到对象上并检测由对象反射的光；距离计算单元，用于基于来自传感器单元的感测数据来计算到对象的距离；镜面反射器，其位于对象与传感器单元相对的一侧；以及校正单元，用于校正包括在计算的距离中并且由沿着从传感器单元到对象的第一路径行进的光和沿着从传感器单元通过镜面反射器处的反射到对象的第二路径行进的光之间的干涉引起的误差。

Imaging device and monitoring device

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成像装置和监控装置
本公开涉及一种成像装置和一种监控装置。
技术介绍
已知一种向对象发射红外光等并接收由对象反射的红外光以测量到对象的距离或对象的表面形状的测距相机。这种测距相机的实例包括下面专利文献1中公开的技术。顺便说一下，当试图用测距相机测量对象时，可能存在不能由一个测距相机测量的区域，具体地，由于对象本身的阻挡等而不能直接测量的背面。在这种情况下，可以设想使用一个测距相机和镜面反射器组合来测量对象等的背面。作为这样的方法，例如，可以引用下面专利文献2中公开的技术。引用列表专利文献专利文献1：日本专利申请公开号2012-57960专利文献2：日本PCT国家公开号2012-509470
技术实现思路
本专利技术要解决的问题顺便提及，在使用镜面反射器测量对象的情况下，有两条光路。第一路径中的光从测距相机到达对象、被对象直接反射并返回到测距相机。同时，第二路径中的光从测距相机到达镜面反射器、被镜面反射器反射到达对象，并且进一步在同一路径中经由镜面反射器从对象返回到测距相机。除此本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种成像装置，包括：/n传感器单元，被配置为用光照射对象并检测由所述对象反射的光；/n距离计算单元，被配置为基于所述传感器单元的感测数据来计算到所述对象的距离；/n镜面反射器，跨所述对象位于所述传感器单元的相对侧上；以及/n校正单元，被配置为校正包括在所计算的距离中的误差，所述误差是由沿着从所述传感器单元朝向所述对象的第一路径的光和沿着从所述传感器单元由所述镜面反射器反射而朝向所述对象的第二路径的光之间的干涉引起的。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170711 JP 2017-1353811.一种成像装置，包括：
传感器单元，被配置为用光照射对象并检测由所述对象反射的光；
距离计算单元，被配置为基于所述传感器单元的感测数据来计算到所述对象的距离；
镜面反射器，跨所述对象位于所述传感器单元的相对侧上；以及
校正单元，被配置为校正包括在所计算的距离中的误差，所述误差是由沿着从所述传感器单元朝向所述对象的第一路径的光和沿着从所述传感器单元由所述镜面反射器反射而朝向所述对象的第二路径的光之间的干涉引起的。


2.根据权利要求1所述的成像装置，还包括固定构件，所述固定构件固定所述传感器单元和所述镜面反射器之间的距离。


3.一种成像装置，包括：
传感器单元，被配置为用光照射对象并检测由所述对象反射的光；
距离计算单元，被配置为基于所述传感器单元的感测数据来计算到所述对象的距离；以及
校正单元，被配置为校正包括在所计算的距离中的误差，所述误差是由沿着从所述传感器单元朝向所述对象的第一路径的光和沿着从所述传感器单元由镜面反射器反射而朝向所述对象的第二路径的光之间的干涉引起的，所述镜面反射器跨过所述对象位于所述传感器单元的相对侧。


4.根据权利要求1所述的成像装置，其中，
所述传感器单元包括：
照射单元，被配置为发射光，
光接收单元，被配置为接收反射的光，以及
相位差计算单元，被配置为计算发射的光和接收的光之间的相位差，并且
所述距离计算单元基于所述相位差来计算所述距离。


5.根据权利要求1所述的成像装置，其中，所述校正单元通过将所述传感器...

【专利技术属性】
技术研发人员：小仓洋平，城坚诚，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP