机器视觉系统技术方案

公开了一种能够测量绝对尺度的差异的机器视觉系统。在该机器视觉系统中，使用诸如坐标测量机之类的参考测量设备来准确地测量参考物体。在测量中，测量确定的虚拟点的集合。参考测量被用于计算确定的坐标矩阵与参考测量结果之间的偏差矩阵，其随后被用于根据机器视觉测量来计算绝对尺度值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】机器视觉系统
以下公开涉及机器视觉系统。特别地，本申请涉及在质量控制或需要测量物体的其它类似任务中使用的测量机器视觉系统。
技术介绍
计算机控制的机器视觉系统被用在各种应用中。一种典型的应用是制造业中制造的物体的质量控制。通过使用一个或多个相机对制造的物体进行成像，有可能测量物体的各种性质。测量可以涉及测量整个物体或物体的一些选择的特征。因此，取决于所选择的特征，测量可以是一维、二维或三维，或者甚至可以以维度的组合来执行。除了尺寸和形状，还有可能测量其它特性，诸如颜色、粗糙度或其它此类特征。机器视觉系统的测量通常是通过将制造的物体与模型物体进行比较来进行的。获得的结果通常给出被测物体与所使用的模型物体的相对差异。为了测量三维坐标，只需要两个相机，因为可以从两个二维图像来计算三维坐标，前提是被测的点在两个图像中是可见的。但是，通常相机的数量较大。这是因为大量的相机增加测量的覆盖范围和准确性。通常将相机定位成使得它们可以看到被测物体的所有特征，或者至少看到尽可能多的特征。相应地，通常不是所有相机都能看到被测的特征。除了增加相机的数量之外，还本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于机器视觉系统的控制器，包括：/n至少一个处理器(101)；/n至少一个存储器(102)；以及/n至少一个数据通信连接(106)；/n其中控制器(100)被配置为接收偏差矩阵，其中偏差矩阵基于使用参考测量设备对参考物体的测量；以及/n其中处理器(101)被配置为：/n使用机器视觉系统来测量参考物体和至少一个目标物体；/n计算表示目标物体与参考物体之间的差异的差异矩阵；以及/n基于被测的目标物体、相应的差异矩阵和偏差异矩阵来计算至少一个目标物体的绝对尺度结果。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170405 FI 201753181.一种用于机器视觉系统的控制器，包括：
至少一个处理器(101)；
至少一个存储器(102)；以及
至少一个数据通信连接(106)；
其中控制器(100)被配置为接收偏差矩阵，其中偏差矩阵基于使用参考测量设备对参考物体的测量；以及
其中处理器(101)被配置为：
使用机器视觉系统来测量参考物体和至少一个目标物体；
计算表示目标物体与参考物体之间的差异的差异矩阵；以及
基于被测的目标物体、相应的差异矩阵和偏差异矩阵来计算至少一个目标物体的绝对尺度结果。


2.如权利要求1所述的控制器，其中控制器(100)还被配置为接收确定的坐标矩阵，其中确定的坐标矩阵包括至少一个虚拟点的坐标。


3.如权利要求1或2所述的控制器，其中控制器(100)还被配置为接收确定的坐标矩阵。


4.如权利要求3所述的控制器，其中处理器(101)被配置为将至少一个目标物体的绝对尺度结果计算为偏差矩阵、差异矩阵和确定的坐标矩阵的和。


5.一种机器视觉系统，包括：
根据前述权利要求1-4中任一项所述的控制器(100)；以及
与...

【专利技术属性】
技术研发人员：埃萨·莱卡斯，
申请(专利权)人：麦普威有限公司，
类型：发明
国别省市：芬兰;FI