卷轴型机械波侦测装置制造方法及图纸

一种卷轴型机械波侦测装置，包含：一可挠基板；数个矩阵型机械波感测晶片，每个该矩阵型机械波感测晶片包含有数个机械波感测元件与一控制电路，该些矩阵型机械波感测晶片均匀配置于该可挠基板上；一线路层，形成于该可挠基板上，借以电性连接该些矩阵型机械波感测晶片；及一保护胶层，形成于该些矩阵型机械波感测晶片上方与该些矩阵型机械波感测晶片之间，借以于该可挠基板弯曲时，保护该些矩阵型机械波感测晶片，并于该些矩阵型机械波感测晶片接触一待侦测物件时，形成保护。

Scroll type mechanical wave detector

The utility model relates to a scroll type mechanical wave detection device, which comprises: a flexible base plate; a plurality of matrix type mechanical wave sensing chips, each of which comprises a plurality of mechanical wave sensing elements and a control circuit, and the matrix type mechanical wave sensing chips are uniformly arranged on the flexible base plate; a first-line path layer is formed on the flexible base plate, and the matrices are electrically connected A protective rubber layer is formed between the matrix mechanical wave sensing wafers and the matrix mechanical wave sensing wafers, so as to protect the matrix mechanical wave sensing wafers when the flexible substrate is bent, and form the protection when the matrix mechanical wave sensing wafers contact with the object to be detected.

【技术实现步骤摘要】
卷轴型机械波侦测装置
本专利技术是关于一种机械波感测元件，特别关于一种卷轴型机械波侦测装置。
技术介绍
工业上的非破坏检测(Nondestructive-Testing,NDT；或称Nondestructive-Examination,NDE；或称Nondestructive-Inspection，NDI；或称Nondestructive-Evaluation,NDE)是希望通过不会破坏结构体的技术来检测戴测结构物的内部、表面的劣化现象及程度的检测方法。其运用的原理有采用声、光、电、磁，甚至目视法来进行检查。相较于钻孔法、破坏法、磨碎法等，非破坏检测不会产生对结构破坏的结果，速度较快且整体成本较低。其中，运用超音波的机械波侦测的非破坏检测技术已经发展了许久，也有许多相关的仪器已经广泛地运用在各种工业用途上，例如，运用超音波探伤仪器、超音波测厚仪器等来侦测建筑物的结构、桥梁的结构、铁轨的结构、输油管路的结构、输气管路的结构、钢材的厚度、铁轨的厚度等等。这些工业上的检测需求关乎于工业生产的安全与效率，因此，其重要性不可言喻。目前，超音波非破坏检测技术的发展主要受限于探头结构与侦测技术，也就是，大部分传统的超音波非破坏检测仪器均采用传统的压电晶体的单一超音波探头，来进行各种超音波的发射、扫描与接收等。而较为先进的技术则为采用阵列式的超音波矩阵探头，例如，相控阵列超音波侦测技术，其运用了线形阵列(将超音波感测元件以线形排列)、二维阵列(将超音波感测元件以二维方式排列)或圆形阵列(将超音波感测元件以圆形排列)等几种超音波感测阵列，来制作成超音波探头，再借由探头移动到待测物件的不同表面来实现较高解析度、缺陷定位较准确、检测灵敏度较高、人力需求较小等技术优势。然而，由于超音波矩阵探头为采用单一压电晶体的方式来制作，因此，相控阵列的外部控制电路与系统较复杂，成本较高，其解析度则受限于超音波感测元件的排列间距而无法提高。此外，虽然相控阵列超音波侦测技术可达到较大面积的侦测，但对于被侦测物常常是不同形状大小的立体状物体，仍然必须花费较多的时间进行整个立体面的人为扫描动作的执行。因此，如何能够开发出一种可提高解析度，可运用于大面积且不同的形状，借由整体包覆式的方式来执行非破坏侦测，成为非破坏侦测
开发的一个重要方向。
技术实现思路
为达上述目的，本专利技术提供一种卷轴型机械波侦测装置，运用多个矩阵型机械波感测晶片配置于可挠基板上，并于该些矩阵型机械波感测晶片之间形成具有弹性的保护胶层，让矩阵型机械波感测晶片可以随着可挠基板的弯折而构成一个卷轴型机些波侦测装置。借由卷轴型机械波侦测装置的可卷动性，卷轴型机械波侦测装置可以大面积地铺设于不规则的待测物体表面，进而直接以机械波的方式来侦测待测物体的状态，例如结构状态、损伤状态、厚度等等，进而实现快速检测、大面积检测、精准定位检测等特殊技术功效，更可大幅度地节省检测的人力成本。本专利技术提供一种卷轴型机械波侦测装置，包含：一可挠基板；数个矩阵型机械波感测晶片，每个该矩阵型机械波感测晶片包含有数个机械波感测元件与一控制电路，该些矩阵型机械波感测晶片均匀配置于该可挠基板上；一线路层，形成于该可挠基板上，借以电性连接该些矩阵型机械波感测晶片；及一保护胶层，形成于该些矩阵型机械波感测晶片上方与该些矩阵型机械波感测晶片之间，借以于该可挠基板弯曲时，保护该些矩阵型机械波感测晶片，并于该些矩阵型机械波感测晶片接触一待侦测物件时，形成保护。为让本专利技术的上述和其他目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举数个较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下（实施方式）。附图说明图1A-1D，本专利技术的卷轴型机械波侦测装置的第一具体实施例的上视图、剖面图、局部放大图与矩阵型机械波感测元件20的放大上视图。图2A、2B，其为本专利技术图1A-1C的卷轴型机械波侦测装置1A向上翘曲的剖面示意图及局部2的放大示意图。图3A、3B，其为本专利技术图1A-1C的卷轴型机械波侦测装置1A向下翘曲的剖面示意图及局部2的放大示意图。图4A、4B，其为本专利技术卷轴型机械波侦测装置1B的实施例的上视图与剖面图。图5A-5C，其为本专利技术卷轴型机械波侦测装置1C、1D、1E的实施例的上视图。图6A-6B，其为本专利技术卷轴型机械波侦测装置1F、1G的实施例的上视图。符号说明：1A、1B、1C、1D、1E、1F、1G卷轴型机械波侦测装置，2局部，10基板，11线路层，12连接器，13、13-1、13-2保护胶层，20、20-1、20-2矩阵型机械波感测晶片，21晶片结构体，22机械波感测元件。具体实施方式根据本专利技术的多个实施例，本专利技术提供了一个卷轴型机械波侦测装置，运用多个矩阵型机械波感测晶片配置于可挠基板上，并于该些矩阵型机械波感测晶片之间形成具有弹性的保护胶层，让矩阵型机械波感测晶片可以随着可挠基板的弯折而构成一个卷轴式机械波侦测装置。借由卷轴型机械波侦测装置的可卷动性，卷轴型机械波侦测装置可以大面积地铺设于不规则的待测物体表面，进而直接以机械波的方式来侦测待测物体的状态，例如结构状态、损伤状态、厚度等等，进而实现快速检测、大面积检测、精准定位检测等特殊技术功效，更可大幅度地节省检测的人力成本。请参考图1A-1D，本专利技术的卷轴型机械波侦测装置1A的第一具体实施例的上视图、剖面图、局部2放大图与矩阵型机械波感测元件20的放大上视图。由图1A-1C可知，本专利技术的卷轴型机械波侦测装置1A，结构上包含：可挠基板10、数个矩阵型机械波感测晶片20、线路层11、连接器12与保护胶层13(保护胶层13-1、保护胶层13-2形成于矩阵型机械波感测晶片20上)。其中，矩阵型机械波感测晶片20包含，数个机械波感测元件22、晶片结构体21与控制电路(未绘出)，如图1D所示，矩阵型机械波感测晶片20均匀配置于可挠基板10上。线路层11，形成于可挠基板10上，图1C中，其配置于矩阵型机械波感测晶片20的对侧，也就是可挠基板10的下方。线路层11借以电性连接矩阵型机械波感测晶片20，使矩阵型机械波感测晶片20可电性连接到连接器12。保护胶层13，形成于矩阵型机械波感测晶片20上方与矩阵型机械波感测晶片20之间，如图1C所示者，借以于可挠基板10弯曲时，保护矩阵型机械波感测晶片20，并于矩阵型机械波感测晶片20接触一待侦测物件时，形成保护。请参考图1B、1C，此为本专利技术之卷轴型机械波侦测装置1A的剖面图与局部2的剖面放大图，其为卷轴型机械波侦测装置1A平置时的剖面图。从图1C中可以清楚看到，形成于矩阵型机械波感测晶片20上方的保护胶层13-1、13-2与矩阵型机械波感测晶片20之间的保护胶层13，彼此可连结。就本专利技术的一个实施例而言，矩阵型机械波感测晶片20之间的保护胶层13，可以与形成于矩阵型机械波感测晶片20上方的保护胶层13-1、13-2为相同材料，例如，硅化合物，如氧化硅、氮化硅或硅化玻璃等材料。就本专利技术的另一个实施例而言，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种卷轴型机械波侦测装置，其特征在于，其包含：/n一可挠基板；/n数个矩阵型机械波感测晶片，每个该矩阵型机械波感测晶片包含有数个机械波感测元件与一控制电路，该些矩阵型机械波感测晶片均匀配置于该可挠基板上；/n一线路层，形成于该可挠基板上，借以电性连接该些矩阵型机械波感测晶片；及/n一保护胶层，形成于该些矩阵型机械波感测晶片上方与该些矩阵型机械波感测晶片之间，借以于该可挠基板弯曲时，保护该些矩阵型机械波感测晶片，并于该些矩阵型机械波感测晶片接触一待侦测物件时，形成保护。/n

【技术特征摘要】
1.一种卷轴型机械波侦测装置，其特征在于，其包含：
一可挠基板；
数个矩阵型机械波感测晶片，每个该矩阵型机械波感测晶片包含有数个机械波感测元件与一控制电路，该些矩阵型机械波感测晶片均匀配置于该可挠基板上；
一线路层，形成于该可挠基板上，借以电性连接该些矩阵型机械波感测晶片；及
一保护胶层，形成于该些矩阵型机械波感测晶片上方与该些矩阵型机械波感测晶片之间，借以于该可挠基板弯曲时，保护该些矩阵型机械波感测晶片，并于该些矩阵型机械波感测晶片接触一待侦测物件时，形成保护。


2.如权利要求1所述的卷轴型机械波侦测装置，其特征在于，每个该矩阵型机械波感测晶片包含至少二条线路，一信号线、一时脉线。


3.如权利要求1所述的卷轴型机械波侦测装置，其特征在于，每个该矩阵型机械波感测晶片包含至少四条线路，一电源线、一地线、一致能线、一信号传输线。


4.如权利要求1所述的卷轴型机械波侦测装置，其特征在于，每个该矩阵型机械波感测晶片包含至少五条线路，一电源线、一地线、一第一致能线、一第二致能线、一信号传输线。


5.如权利要求1所述的卷轴型机械波侦测装置，其特征在于，其还...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈健章，梁贻德，吴强，张管青，林晓逸，
申请(专利权)人：风起科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;TW