A method for the direct growth of a patterned transition metal disulfide monolayer includes the following steps: providing a substrate covered by a mask having a pattern defined by one or more shaped holes; depositing salt on the substrate by means of one or more shaped holes, making the deposited salt set on the substrate by the mask pattern; and depositing transition metal oxides and Chalcogenides are thermally co deposited on deposited salts to form a patterned transition metal disulfide monolayer with a mask pattern. A graphical transition metal disulfide monolayer prepared according to the method is also provided.
【技术实现步骤摘要】
用于原子层过渡金属二硫属化物的直接图形化生长的方法相关申请的交叉引用本申请要求2018年5月31日提交的美国临时申请No.62/678802的优先权。该优先权申请的公开内容通过引用整体并入本文。
技术介绍
原子层过渡金属二硫属化物(TMDs)由于其有前途的光电属性和催化属性以及新一代电路而成为深入研究的主题。在电路中使用TMDs不仅需要保持与单层材料的低接触电阻,而且还需要与具有必要图形化的非常精细的光刻工艺兼容。然而,利用光刻工艺是复杂的,因为不仅掩模分辨率问题而且所需的反应离子蚀刻都可能无意地改变TMD单层的固有属性。因此,对于这些材料的持续性挑战不仅在于大单层域的合成,而且还在于根据电路设计控制它们的生长图形。
技术实现思路
根据一些方面,本公开涉及用于图形化的TMD单层直接生长的方法,其包括将盐沉积在衬底上,其中该衬底由具有图形化形状的掩模覆盖,以在该衬底上形成预沉积的图形化盐;和将过渡金属氧化物和硫族元素热共沉积到位于该衬底上的该预沉积的图形化盐上,以在该预沉积的图形化盐上形成图形化的TMD单层。本公开还涉及制备TMD单层的方法,其包括提供衬底,将盐沉积在该衬底上,和将过渡金属氧化物和硫族元素沉积到该沉积盐上,以形成该TMD单层。附图说明图1示出了根据本公开的一些方面用于通过掩模在加热衬底上热沉积图形化盐层的示例方案。图2示出了根据本公开的一些方面用于在真空室中的冷却衬底上热沉积盐的示例方案。图3示出了根据本公开的一些方面用于在衬底上沉积图形化的TMD单层的示例 ...
【技术保护点】
1.一种图形化的过渡金属二硫属化物单层的直接生长的方法,所述方法包括:/n提供由掩模覆盖的衬底,所述掩模具有由一个或多个成形孔洞限定的图形;/n通过所述一个或多个成形孔洞将盐热沉积在所述衬底上,使得沉积盐以所述掩模的所述图形设置在所述衬底上;和/n将过渡金属氧化物和硫族元素热共沉积到所述沉积盐上,以形成具有所述掩模的所述图形的所述图形化的过渡金属二硫属化物单层。/n
【技术特征摘要】
20180531 US 62/678,802;20181212 US 16/217,8451.一种图形化的过渡金属二硫属化物单层的直接生长的方法,所述方法包括:
提供由掩模覆盖的衬底,所述掩模具有由一个或多个成形孔洞限定的图形;
通过所述一个或多个成形孔洞将盐热沉积在所述衬底上,使得沉积盐以所述掩模的所述图形设置在所述衬底上;和
将过渡金属氧化物和硫族元素热共沉积到所述沉积盐上,以形成具有所述掩模的所述图形的所述图形化的过渡金属二硫属化物单层。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,通过所述一个或多个成形孔洞将所述盐热沉积在所述衬底上包括:
将由所述掩模覆盖的所述衬底设置在包含有所述盐的第一托盘上,使得所述衬底的由所述掩模覆盖的面接触所述盐;和
将由所述掩模覆盖的所述衬底和所述盐加热到第一温度。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述第一温度介于约600℃和900℃之间。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,通过所述一个或多个成形孔洞将所述盐热沉积在所述衬底上包括:
将由所述掩模覆盖的所述衬底设置在加热装置中的第一托盘上,使得所述衬底的由所述掩模覆盖的面与所述第一托盘相对;
将包含有所述盐的盐托盘设置在所述加热装置中;
将所述加热装置抽空至不超过约200毫托的减压;
将所述盐托盘独立地加热至沉积温度,
其中位于所述第一托盘上的由所述掩模覆盖的所述衬底保持在冷却温度,所述冷却温度不同于所述沉积温度。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述冷却温度不超过约100℃。
6.根据权利要求4所述的方法,其中,所述沉积温度介于100℃和1100℃之间。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,将所述过渡金属氧化物和所述硫族元素热共沉积到所述沉积盐上包括:
将具有所述沉积盐的所述衬底设置在加热装置中,其中所述衬底位于包含有所述过渡金属氧化物的过渡金属氧化物托盘上,使得所述衬底的具有所述沉积盐的面接触所述过渡金属氧化物;
将包含有硫族元素的硫族元素托盘设置在所述加热装置中,相对于惰性气体流处于所述过渡金属氧化物托盘的下游;
将具有所述沉积盐的...
【专利技术属性】
技术研发人员:李煦凡,A·哈鲁特尤亚恩,
申请(专利权)人:本田技研工业株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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