一种普克尔盒消光比检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术的一种普克尔盒消光比检测装置，包括光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头，调质组件与第二偏振片处于光源的出射方向，且第二偏振片与光源的发射方向呈45度角设置，且反射镜设置在第二偏振片的上方以获取S偏振光，探头分别装设在第二偏振片和反射镜的输出端。本实用新型专利技术通过采用光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头相结合的结构，将普克尔盒放置在调质组件与第二偏振片之间，利用光源发射出测试光，经过调质组件进行调质后，进入普克尔盒中，分别利用第二偏振片和反射镜以获取P偏振光和S偏振光，并通过探头以获取P偏振光和S偏振光的幅值，从而以准确得到普克尔盒的消光比。

A measuring device for extinction ratio of pucker box

The utility model relates to a pucker box extinction ratio detection device, which comprises a light source, a conditioning component, a second polarizer, a reflector and a probe. The conditioning component and the second polarizer are in the outgoing direction of the light source, and the second polarizer and the light source are arranged at an angle of 45 degrees, and the reflector is arranged above the second polarizer to obtain the s-polarized light, and the probes are respectively arranged at the second polarization Output end of vibrator and reflector. The utility model adopts the structure of combining light source, conditioning component, second polarizer, reflector and probe, places the pucker box between the conditioning component and the second polarizer, emits the test light by using the light source, enters the pucker box after conditioning by the conditioning component, uses the second polarizer and the reflector to obtain the p-polarized light and the s-polarized light respectively, and passes Probe to obtain the amplitude of p-polarized light and s-polarized light, so as to accurately obtain the extinction ratio of pucker box.

【技术实现步骤摘要】
一种普克尔盒消光比检测装置
本技术涉及普克尔盒性能检测装置，更具体地，涉及一种普克尔盒消光比检测装置。
技术介绍
目前在建的几台用于惯性约束聚变(ICF)研究的高功率固体激光器，均采用新型的等离子体电极普克尔盒作为光开关，这种普克尔盒利用晶体两侧气体放电形成的高电导率透明等离子体作电极，可以用薄晶体制成大口径电光开关。当普克尔盒内的电光晶体中由于端面电压的不均匀性，在晶体不同的半径上会有不同的消光比，当把晶体作为开关用到激光器中后，由于激光光束有一定的半径，在激光器关门时会产生漏光，从而影响了激光束输出质量。为了激光器的输出光束质量，确保激光束的输出效果，急需专利技术一种可准确获取普克尔盒的封装效果的仪器，从而实现对普克尔盒封装质量控制。
技术实现思路
本技术提供一种结构简单、测量方便的用于获取普克尔盒消光比参数的检测装置，以解决上现有环状电极晶体端面电压不均匀性造成对普克尔盒消光比的影响。根据本技术的一个方面，提供一种普克尔盒消光比检测装置，包括光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头，所述调质组件与所述第二偏振片处于所述光源的出射方向，且所述第二偏振片与所述光源的发射方向呈45度角设置，且所述反射镜设置在所述第二偏振片的上方以获取S偏振光，所述探头分别装设在所述第二偏振片和所述反射镜的输出端，所述普克尔盒装设在所述调质组件与所述第二偏振片之间。在上述方案基础上优选，所述探头为PD探头或功率探头。在上述方案基础上优选，所述调质组件为偏振片。在上述方案基础上优选，所述光源与所述调质组件之间还装设有光高调节件。在上述方案基础上优选，所述光高调节件包括安装座、入射光调节座和出射光调节座，所述入射光调节座滑动式装设在所述安装座上，所述出射光调节座固定在所述安装座上，并在所述入射光调节座上装设有第一反射镜片，所述出射光调节座上装设有第二反射镜片，且所述第一反射镜片与所述第二反射镜片之间的夹角呈45度。在上述方案基础上优选，所述安装座的高度方向上均匀设有多个调节孔，所述入射光调节座上设有腰型长孔，且所述入射光调节座通过锁紧栓装设在所述安装座的调节孔内。在上述方案基础上优选，所述安装座上设有滑轨，所述入射光调节座上设有滑槽，所述入射光调节座通过所述滑槽与所述滑轨相连。本技术的一种普克尔盒消光比检测装置，通过采用光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头相结合的结构，将普克尔盒放置在调质组件与第二偏振片之间，利用光源发射出测试光，经过调质组件进行调质后，进入普克尔盒中，分别利用第二偏振片和反射镜以获取P偏振光和S偏振光，并通过探头以获取P偏振光和S偏振光的幅值，从而以准确得到普克尔盒的消光比。附图说明图1为本技术的普克尔盒消光比检测装置的原理图；图2为本技术的光高调节件的结构图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。请参阅图1，结合图2所示，本技术提供了一种普克尔盒消光比检测装置，包括光源10、调质组件20、第二偏振片30、反射镜40和探头50，其中，调质组件20与第二偏振片30处于光源10的出射方向，且第二偏振片30与光源10的发射方向呈45度角设置，且反射镜40设置在第二偏振片30的上方以获取S偏振光，探头50分别装设在第二偏振片30和反射镜40的输出端，普克尔盒装设在调质组件20与第二偏振片30之间。使用时，光源10发射出探测光，如连续光或脉冲光，通过调质组件20进行调质，以分离出P偏振光和S偏振光，通过普克尔盒后，再分别投射至第二偏振片30和反射镜40上，利用两个不同的探头50以分别获取P偏振光和S偏振光上的幅值，从而以得到普克尔盒的消光比。本技术的一种普克尔盒消光比检测装置，通过采用光源10、调质组件20、第二偏振片30、反射镜40和探头50相结合的结构，将普克尔盒放置在调质组件20与第二偏振片30之间，利用光源10发射出测试光，经过调质组件20进行调质后，进入普克尔盒中，分别利用第二偏振片30和反射镜40以获取P偏振光和S偏振光，并通过探头50以获取P偏振光和S偏振光的幅值，从而以准确得到普克尔盒的消光比。作为技术的优选实施例，本技术的探头50为PD探头50或功率探头50。而本技术的调质组件20为偏振片，通过偏振片的作用可以完成对光源10的P偏振光和S偏振光的分离。为了确保其偏振效果，本技术还在光源10与调质组件20之间还装设有光高调节件60，其结构请参阅图2所示。通过光高调节件60的调节，可以完成对光源10的出射高度和角度调整，从而以确保进入调质组件20内光。本技术的光高调节件60包括安装座61、入射光调节座62和出射光调节座63，入射光调节座62滑动式装设在安装座61上，出射光调节座63固定在所述安装座61上，并在入射光调节座62上装设有第一反射镜40片65，出射光调节座63上装设有第二反射镜40片66，且第一反射镜40片65与第二反射镜40片66之间的夹角呈45度。光源10发出的光直接打在第一反射镜40片65上，通过第一反射镜40片65的反射作用，将其反射在第二反射镜40片66上。在实际使用时，可以通过第一反射镜40片65和第二反射镜40片66将P偏振光和S偏振光分别反射出，并利用探头50以获取其振幅，从而以准确得到普克尔盒的消光比。同时，由于入射光调节座62相对安装座61是可调的，因此，可以根据需要以改变出射光出射高度。在本技术的一个实施例中，本技术的安装座61的高度方向上均匀设有多个调节孔64，入射光调节座62上设有腰型长孔，且入射光调节座62通过锁紧栓装设在安装座61的调节孔64内。在本技术的另一个实施例中，本技术的安装座61上设有滑轨，入射光调节座62上设有滑槽，入射光调节座62通过滑槽与滑轨相连。最后，本申请的方法仅为较佳的实施方案，并非用于限定本技术的保护范围。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种普克尔盒消光比检测装置，其特征在于，包括光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头，所述调质组件与所述第二偏振片处于所述光源的出射方向，且所述第二偏振片与所述光源的发射方向呈45度角设置，且所述反射镜设置在所述第二偏振片的上方以获取S偏振光，所述探头分别装设在所述第二偏振片和所述反射镜的输出端，所述普克尔盒装设在所述调质组件与所述第二偏振片之间。/n

【技术特征摘要】
1.一种普克尔盒消光比检测装置，其特征在于，包括光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头，所述调质组件与所述第二偏振片处于所述光源的出射方向，且所述第二偏振片与所述光源的发射方向呈45度角设置，且所述反射镜设置在所述第二偏振片的上方以获取S偏振光，所述探头分别装设在所述第二偏振片和所述反射镜的输出端，所述普克尔盒装设在所述调质组件与所述第二偏振片之间。


2.如权利要求1所述的一种普克尔盒消光比检测装置，其特征在于，所述探头为PD探头或功率探头。


3.如权利要求1所述的一种普克尔盒消光比检测装置，其特征在于，所述调质组件为偏振片。


4.如权利要求1所述的一种普克尔盒消光比检测装置，其特征在于，所述光源与所述调质组件之间还装设有光高调节件。

【专利技术属性】
技术研发人员：郑煜，
申请(专利权)人：武汉华族激光技术有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42