一种关于内存ADDDC功能的测试方法、系统及设备技术方案

本发明专利技术提出的一种关于内存ADDDC功能的测试方法、系统及设备，主要用于服务器内存ADDDC功能测试，通过模拟内存故障情形，验证ADDDC功能是否正常。即可提高测试效率，提高测试质量也同时节约测试时间和成本。

A test method, system and equipment of memory adddc function

The invention provides a test method, system and device for the function of memory adddc, which is mainly used for the function test of server memory adddc, and verifies whether the function of adddc is normal by simulating the memory failure situation. It can improve the test efficiency, improve the test quality and save the test time and cost.

【技术实现步骤摘要】
一种关于内存ADDDC功能的测试方法、系统及设备
本专利技术涉及计算机网络
，更具体的说是涉及一种关于内存ADDDC功能的测试方法、系统及设备。
技术介绍
ADDDC是一种自适应双DRAM设备更正技术，用于管理DDR4DRAMDIMM可能在产品使用寿命期间诱发的错误，ADDDC(MR)可以纠正连续的两个DRAM故障。如果该区域的第二个设备发生故障，仍然支持可修复错误检测和纠正，并允许系统继续运行。ADDDC的出现，内存子系统通常配置为以性能模式运行。当DRAM设备的更正数量达到目标阀值，所识别的故障DRAM区域将在UEFI运行时代码的帮助下自适应地被放置在锁步模式下，以便从ECC中标记出DRAM设备的故障区域。持续在DIMM上提供SDDCECC覆盖，进而延长DIMM的使用寿命。这一操作通常在DRAMBank和/或Rank的精细化过程中进行，以便对整个系统性能产生的影响达到最小。因此，为了保证ADDDC的稳定执行，亟需一种ADDDC功能的测试方法，用于服务器出厂时验证ADDDC功能。专利技术内容针对以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种关于内存ADDDC功能的测试方法，其特征在于，包括：/n进入被测试机台的Set up下，配置测试环境参数，并重启系统；/n指定被测试机台的内存设备寄存器地址并向其注入可修复错误并查看系统日志和BMC日志中的错误记录日志；/n如果系统没有因为内存故障异常，且所述注入的可修复错误在BMC日志中的错误记录日志中已被记录，则测试成功。/n

【技术特征摘要】
1.一种关于内存ADDDC功能的测试方法，其特征在于，包括：
进入被测试机台的Setup下，配置测试环境参数，并重启系统；
指定被测试机台的内存设备寄存器地址并向其注入可修复错误并查看系统日志和BMC日志中的错误记录日志；
如果系统没有因为内存故障异常，且所述注入的可修复错误在BMC日志中的错误记录日志中已被记录，则测试成功。


2.根据权利要求1所述的关于内存ADDDC功能的测试方法，其特征在于，所述进入被测试机台的Setup下，配置测试环境参数包括：
设置ADDDCsparing及SDDCplusone为Enabled；
设置CorrectableErrorThreshold为1；
设置SystemErrors为Enable；
设置WHEASupport为Enable；
设置WHEAErrorInjection为Enable。


3.根据权利要求1所述的关于内存ADDDC功能的测试方法，其特征在于，所述指定被测试机台的内存设备寄存器地址并向其注入可修复错误并查看系统日志和BMC日志中的错误记录日志包括：
指定内存设备寄存器的第一地址并给内存的第一Bank注入可修复错误，所述可修复错误达到阈值触发Bankvirtuallockstep；
查看系统日志中的内存故障异常记录，查看系统日志及BMC日志中记录ADCBankVLS日志。


4.根据权利要求3所述的关于内存ADDDC功能的测试方法，其特征在于，所述指定被测试机台的内存设备寄存器地址并向其注入可修复错误并查看系统日...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘学艳，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32