自动测试切换装置、方法和系统制造方法及图纸

本申请涉及硬件测试领域，提出一种自动测试切换装置、方法和系统，自动测试方法以测试终端内自启动测试模块对存储装置进行测试，所述测试终端内包括多个所述自启动测试模块，包括步骤：配置切换装置，在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令；将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令；根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换。可根据获取的自动切换装置生成的切换指令，测试终端可以实施自动切换，不需要操作人员再以外接输入装置进行手动控制。

Automatic test switching device, method and system

The application relates to the field of hardware testing, and proposes an automatic test switching device, method and system. The automatic test method tests the storage device with a self starting test module in the test terminal. The test terminal includes a plurality of self starting test modules, including the steps of: configuring the switching device to automatically generate input to the The switching instruction of the test terminal; connecting the switching device to the test terminal to input the switching instruction to the test terminal; executing the switching of the self starting test module according to the input switching instruction. According to the switching instructions generated by the obtained automatic switching device, the test terminal can implement automatic switching without the need for the operator to connect the input device for manual control.

【技术实现步骤摘要】
自动测试切换装置、方法和系统
本专利技术涉及硬件测试领域，特别是涉及一种自动测试切换装置、方法和系统。
技术介绍
内存或者硬盘此类存储装置在生产制造过程中需要进行性能测试，目前，一般是将内存或者硬盘插接在电脑主板上，通过在电脑上运行测试模块进行测试。但实际测试过程中，内存或者硬盘通常需要进行多项测试，但现有测试终端的操作系统开机后，只能自动运行指定的一个自启动测试模块，或者同时运行指定的两个或多个测试模块，而同时运行测试模块因为存在明显性能干扰的问题，明显不可行，若需要选择测试模块时，需要等待系统完成开机后再进行人工选择，或者需要等待前一项测试完成后，再由人工通过鼠标或者键盘的方式切换下一项测试，人工等待的过程，费时也费人力。每次需要人工操作鼠标或者键盘，操作繁琐。且每测试一个内存，需要重启一次电脑。电脑重启进入电脑操作系统需要时间，此段时间内需要人工等待，等待进入操作系统后，人工再通过鼠标或者键盘选择测试模块，等待过程浪费时间和人力。
技术实现思路
为了解决现有技术存在的还不能实现自动化切换，致使人工成本高的技术问题，本申请提供了一种自动测试切换装置、方法和系统。第一方面，本申请提供了一种自动测试方法，以测试终端内自启动测试模块对存储装置进行测试，所述测试终端内包括多个所述自启动测试模块，包括步骤：配置切换装置，在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令；将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令；根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换。本申请实施例提供的该方法，所述配置切换装置，在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令；包括：将所述测试终端配置为根据指定引脚的电平信号识别为切换指令；配置一个位于所述测试终端的启动模块，所述启动模块根据输入的切换指令执行自启动测试模块的切换。本申请实施例提供的该方法，所述将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令，包括：所述切换装置通过数据接口连接于所述测试终端；所述数据接口的电位引脚连接为高电平；所述电位引脚通过单向传导电路向所述数据接口的状态引脚单向传导电位；以此向所述测试终端输入所述切换指令。本申请实施例提供的该方法，所述根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换，包括：启动模块检测数据接口数据状态；若检测到切换装置输入的切换指令，则启动所述切换指令对应的测试模块进行测试；若未检测到切换装置输入的切换指令，则启动预设的测试模块进行测试；其中，所述切换指令对应的测试模块与预设的测试模块不同。本申请实施例提供的该方法，所述根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换，包括：关闭当前运行的自启动测试模块；打开下一个待启动的自启动测试模块进行测试。本申请实施例提供的该方法，所述切换装置通过串行接口连接于所述测试终端，所述测试终端内配置控制串行接口的通信控件，所述通信控件连接于所述测试终端的任务管理器，以控制所述任务管理器进行自启动测试模块的关闭与启动。本申请另一方面提供一种自动测试的切换装置，所述切换装置包括数据接口以及输入电路，所述数据接口包括状态引脚以及电位引脚；所述输入电路连接于电位引脚与所述状态引脚之间，用于由所述电位引脚向所述状态引脚单向传导电位，以此产生所述切换指令。本申请实施例提供的该装置，所述数据接口为串行接口，其中DCD引脚为状态引脚，DTR引脚为电位引脚。本申请实施例提供的该装置，所述数据接口包括用于插接于串口母座的插接侧以及用于焊接引线的引线侧，所述输入电路在所述数据接口的引线侧连接于所述状态引脚以及所述电位引脚。本申请实施例提供的该装置，所述输入电路包括电阻以及二极管，所述二极管导电方向由连接所述电位引脚一端指向连接于所述状态引脚一端。本申请再方面提供一种自动测试系统，用于对存储装置进行测试，自动测试系统包括测试终端以及如前所述的切换装置，其中：所述测试终端包括通信模块、任务管理模块以及多个自启动测试模块，所述通信模块供所述切换装置连接，所述通信模块另一端连接于所述任务管理模块，所述切换装置通过所述通信模块向所述任务管理模块输入切换指令，所述任务管理模块根据切换指令切换自启动测试模块。本申请实施例提供的该系统，所述测试终端具有用于连接于所述切换装置的数据接口座，所述切换装置插入所述数据接口座以建立信号连接，所述数据接口座中电位引脚设置为高电平。本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：相比现有技术的手动切换完成测试的方法，本申请实施例中由于使用了自动切换装置，所以在需要切换测试模块时，可根据获取的自动切换装置生成的切换指令，测试终端实施自动切换，不需要操作人员再以外接输入装置进行手动控制，且操作人员无需等待开机或检测程序运行，在产线上的大规模测试时可以节约操作人员时间，从而减少人力，节约生产成本。另一方面，由于采用开机自启动测试模块进行自动测试，且接入了切换装置进行自动切换，所以操作人员将待测试存储装置接入测试终端后，重启测试终端后便可离开，一个存储装置的测试过程不再需要操作人员值守。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的一种自动测试方法流程示意图。图2为本申请实施例提供的一种自动测试方法准备步骤的流程示意图。图3为本申请实施例提供的一种自动测试方法切换步骤的流程示意图。图4为本申请实施例提供的一种切换装置的结构示意图。图5为本申请实施例提供的一种测试系统中测试终端的结构示意图。图6为本申请实施例提供的另一种切换装置的结构示意图。具体实施方式为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。为解决现有技术存在的浪费时间和人力的技术问题，本申请实施例提供了一种自动测试方法，以测试终端内自启动测试模块对存储装置进行测试，测试终端内包括多个能自启动的测试模块，图1为本申请实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动测试方法，以测试终端内自启动测试模块对存储装置进行测试，所述测试终端内包括多个能自启动的所述测试模块，其特征在于，包括步骤：/n配置切换装置，在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令；/n将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令；/n根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动测试方法，以测试终端内自启动测试模块对存储装置进行测试，所述测试终端内包括多个能自启动的所述测试模块，其特征在于，包括步骤：
配置切换装置，在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令；
将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令；
根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换。


2.如权利要求1所述的自动测试方法，其特征在于，所述配置切换装置，在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令；包括：
将所述测试终端配置为根据指定引脚的电平信号识别为切换指令；
配置一个位于所述测试终端的启动模块，所述启动模块根据输入的切换指令执行自启动测试模块的切换。


3.如权利要求1所述的自动测试方法，其特征在于，所述将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令，包括：
所述切换装置通过数据接口连接于所述测试终端；
所述数据接口的电位引脚连接为高电平；
所述电位引脚通过单向传导电路向所述数据接口的状态引脚单向传导电位；
以此向所述测试终端输入所述切换指令。


4.如权利要求1所述的自动测试方法，其特征在于，所述根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换，包括：
启动模块检测数据接口数据状态；
若检测到切换装置输入的切换指令，则启动所述切换指令对应的测试模块进行测试；
若未检测到切换装置输入的切换指令，则启动预设的测试模块进行测试；
其中，所述切换指令对应的测试模块与预设的测试模块不同。


5.如权利要求1至4任一项所述的自动测试方法，其特征在于，所述切换装置通过串行接口连接于所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员：李创锋，邹念锋，
申请(专利权)人：深圳市金泰克半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44