一种探头性能测试配套装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种探头性能测试配套装置，包括A型试块、B型试块、C型试块和试块通用转动支承装置；所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转。在测试时，首先确定探头的类型和该探头所需测试的性能，再根据探头的类型选择配套装置进行测试。本实用新型专利技术通过将三种不同类型的试块与支承装置的配合使用构成探头测试的专用配套装置，根据不同类型的探头以及探头需要测试的性能，能够自由选择试块，满足多种类型探头性能测试的需要，同时降低试块数量、减少测试成本、提高测试效果。

A matching device for probe performance test

The utility model provides a probe performance test supporting device, which comprises a type test block, B type test block, C type test block and a general rotation support device of the test block; the a type test block, B type test block and C type test block are clamped and turned through the general rotation support device of the test block. During the test, first determine the type of probe and the performance of the probe to be tested, and then select the matching device to test according to the type of probe. The utility model uses three different types of test blocks and supporting devices together to form a special matching device for probe test. According to different types of probes and the performance that the probe needs to test, the utility model can freely select test blocks to meet the needs of performance test of various types of probes, reduce the number of test blocks, reduce the test cost and improve the test effect.

【技术实现步骤摘要】
一种探头性能测试配套装置
本技术涉及一种机车车辆零部件无损检测用具，尤其是一种探头性能测试配套装置，属于无损检测

技术介绍
超声波检测技术是应用最广泛的无损检测技术。超声波探头的性能直接影响了超声波检测结果的真实性和可靠性。国内外现行的超声波探头性能测试技术需借助大量试块进行判定。探头类型的多样化，使得现有探头性能测试技术的应用更为复杂、繁琐，且测试效果较差。针对不同类型的探头的主要性能的测试方法应用结果不佳。开发一套针对不同类型探头的性能测定综合方法及相关配套装置是解决以上问题的关键。
技术实现思路
本技术针对上述提出的技术问题，提出一种探头性能测试配套装置，能够满足多种类型探头性能测试的需要，同时降低试块数量等测试成本、提高测试效果。本技术解决以上技术问题的技术方案是:提供一种探头性能测试配套装置，包括A型试块、B型试块、C型试块和试块通用转动支承装置；所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转，所述A型试块为具有正面、上端面、左端面、右端面、背面和底面的立方体状测试块体，在所述测试块体的正面上设有与背面相通的横通孔；所述左端面与所述底面相邻的一端设有平底孔；所述左端面和右端面的中部各设有一个中心孔；所述底面为上设有一段凸圆弧面；所述正面设有三组刻线，第一组长度刻线a位于正面与上端面交汇处，第二组刻线为角度刻线a位于正面与底面平面交汇处，第三组角度刻线b位于正面与底面的凸圆弧面交汇处；在背面设有一组位于背面与底面的凸圆弧面交汇处的长度刻线b；r>所述B型试块包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体、第二扇体和第三扇体，所述第一扇体、第二扇体和第三扇体的圆心在同一直线上，所述第二扇体的半圆柱体的半径小于所述第一扇体的半圆柱体的半径，所述第一扇体的半圆柱体的半径小于第三扇体的半圆柱体的半径，第三扇体的半圆柱半径是第二扇体的半圆柱体的半径的2±0.5倍；所述第一扇体和第二扇体与圆弧面相对的侧立面上均具有凸圆弧面和平面；所述第三扇体与圆弧面相对的侧立面为平面；所述C型试块包括轴心在一条直线上并连成一体的第一半圆柱体、第二半圆柱体、第三半圆柱体、第四半圆柱体、第五半圆柱体、第六半圆柱体和第七半圆柱体，所述第一半圆柱体至第七半圆柱体的半径逐级减少；并且所述的七个半圆柱体侧立面的平面在同一平面上，在侧立面的平面、第一半圆柱体和第七半圆柱体的端面上设有C型试块平面刻线和C型试块端面刻线；所述试块通用转动支承装置包括支架、第一固定座、第二固定座、可滑动支架端、第一轴、第二轴、第一定位销、第二定位销、防转轴销、第一顶轴、第二顶轴、第一螺帽和第二螺帽，所述支架的两端分别与第一固定座和第二固定座连接固定，所述支架上表面开设滑槽，所述可滑动支架端、第一顶轴和第二顶轴嵌入在所述滑槽内滑动，第一螺帽和第二螺帽分别将第一顶轴和第二顶轴固定限位在所述支架的滑槽上，所述支架一端具有竖板与所述可滑动支架端相对设置，所述竖板上具有第一孔，所述可滑动支架端具有第二孔和第三孔，所述可滑动支架端在支架的滑槽上滑动时，所述第一孔和第二孔的中心连线与两孔轴线方向重合，第一轴插在第一孔中并由所述第一定位销将第一轴固定，所述第二轴插在第二孔中并由第二定位销将第二轴固定，所述防转轴销插在第三孔中。本技术的进一步限定技术方案，前述的探头性能测试配套装置，所述A型试块的横通孔共设有七个，每个横通孔的圆心共线，圆心连线与所述上端面的夹角呈45°前述的探头性能测试配套装置，所述第一扇体的侧立面上依次设有第一平面、第一凸圆弧面、第二平面以及第二凸圆弧面，所述第一扇体顶端具有第一端面；所述第二扇体的侧立面上依次设有第三凸圆弧面、第三平面以及第四平面；所述第三扇体的侧立面为第五平面，所述第三扇体顶端为第二端面。所述第一凸圆弧面、第二凸圆弧面以及第三凸圆弧面的圆弧半径相等，所述第一凸圆弧面、第二凸圆弧面以及第三凸圆弧面的圆弧的圆心处于同一轴线上。前述的探头性能测试配套装置，所述第三扇体的侧立面上设有轴向刻线，第二端面上设有第二端面刻线；所述第一扇体的第一端面设有第一端面刻线。前述的探头性能测试配套装置，所述第一半圆柱体至第四半圆主体长度相等，所述第五半圆柱体与第六半圆柱体长度相等，所述第七半圆柱体的长度是第一半圆柱体长度的一半。前述的探头性能测试配套装置，所述第一螺帽和第二螺帽采用低硬度材料制作而成，并在所述第一螺帽和第二螺帽表面进行滚花处理；所述第一固定座和第二固定座以焊接的方式固定在所述支架底面的两端。采用上述配套装置后，A型试块可以检测的探头性能为：凹面斜探头、平面斜探头的折射角，直探头、斜探头的声轴偏斜角及双晶直探头的焦距，A型试块可通过试块通用转动支承装置进行翻转和固定，B型试块可以检测的探头性能为：凹面斜探头、平面斜探头的入射点和前沿长度及直探头、斜探头的声轴偏斜角，各类型探头的脉冲宽度、相对脉冲回波灵敏度、中心频率和相对带宽，C型试块可以检测的探头性能为：斜探头的声束宽度，双晶探头的扰动始波增益，平面斜探头的入射点和前沿长度，斜探头及直探头的声轴偏斜角。本技术有益效果是:本技术通过将三种不同类型的试块与支承装置的配合使用构成探头测试的专用配套装置，根据不同类型的探头以及探头需要测试的性能，能够自由选择试块，满足多种类型探头性能测试的需要，同时降低试块数量、减少测试成本、提高测试效果。附图说明以下结合附图给出的实施例对本技术作进一步详细的说明。图1为本技术中探头性能测试通用流程图；图2为本技术中凹面斜探头性能测试流程图；图3为本技术中平面斜探头性能测试流程图；图4为本技术中直探头性能测试流程图；图5为本技术中双晶直探头性能测试流程图；图6为本技术中A型试块的结构示意图；图7为图6的俯视图；图8为图6的后视图；图9为本技术中B型试块的结构示意图；图10为图9的俯视图；图11为图9的前视图；图12为图9的后视图；图13为本技术中C型试块的结构示意图；图14为图13的俯视图；图15为图13的前视图；图16为图13的后视图；图17为本技术中试块通用转动支撑装置的结构示意图；图18为图17的俯视图；图19、图20、图21为本技术在进行凹面斜探头入射点和前沿长度测定时的状态示意图；图22为本技术在进行凹面斜探头折射角的测定时的状态示意图；图23、图24、图25、图26为本技术在进行平面斜探头入射点和前沿长度的测定时的状态示意图；图27、图28、图29为本技术在进行平面斜探头声束宽度的测定时的状态示意图；图30、图31为本技术在进行平面斜探头声轴偏斜角的测定时的状态示意图；图32、图33为本技术在进行直探头声轴偏斜角的测定时的状态示意图；图34为本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探头性能测试配套装置，包括A型试块（1）、B型试块（2）、C型试块（3）和试块通用转动支承装置（4）；所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转，其特征在于：/n所述A型试块（1）为具有正面、上端面、左端面、右端面、背面和底面的立方体状测试块体（1-1），在所述测试块体（1-1）的正面上设有与背面相通的横通孔（1-4）；所述左端面与所述底面相邻的一端设有平底孔（1-8）；所述左端面和右端面的中部各设有一个中心孔（1-7）；所述底面（1-2）为上设有一段凸圆弧面（1-3）；所述正面设有三组刻线，第一组长度刻线a（1-10）位于正面与上端面交汇处，第二组刻线为角度刻线a（1-5）位于正面与底面平面交汇处，第三组角度刻线b（1-6）位于正面与底面的凸圆弧面（1-3）交汇处；在背面设有一组位于背面与底面的凸圆弧面（1-3）交汇处的长度刻线b（1-9）；/n所述B型试块（2）包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体（2-1）、第二扇体（2-2）和第三扇体（2-3），所述第一扇体（2-1）、第二扇体（2-2）和第三扇体（2-3）的圆心在同一直线上，所述第二扇体（2-2）的半圆柱体的半径小于所述第一扇体（2-1）的半圆柱体的半径，所述第一扇体（2-1）的半圆柱体的半径小于第三扇体（2-3）的半圆柱体的半径，第三扇体（2-3）的半圆柱半径是第二扇体（2-2）的半圆柱体的半径的2±0.5倍；所述第一扇体（2-1）和第二扇体（2-2）与圆弧面相对的侧立面上均具有凸圆弧面和平面；所述第三扇体（2-3）与圆弧面相对的侧立面为平面；/n所述C型试块（3）包括轴心在一条直线上并连成一体的第一半圆柱体（3-1）、第二半圆柱体（3-2）、第三半圆柱体（3-3）、第四半圆柱体（3-4）、第五半圆柱体（3-5）、第六半圆柱体（3-6）和第七半圆柱体（3-7），所述第一半圆柱体至第七半圆柱体的半径逐级减少；并且所述的七个半圆柱体侧立面的平面在同一平面上，在侧立面的平面、第一半圆柱体和第七半圆柱体的端面上设有C型试块平面刻线（3-8）和C型试块端面刻线（3-9）；/n所述试块通用转动支承装置（4）包括支架（4-1）、第一固定座（4-2）、第二固定座（4-3）、可滑动支架端（4-4）、第一轴（4-5）、第二轴（4-6）、第一定位销、第二定位销、防转轴销、第一顶轴（4-10）、第二顶轴（4-11）、第一螺帽（4-12）和第二螺帽（4-13），所述支架（4-1）的两端分别与第一固定座（4-2）和第二固定座（4-3）连接固定，所述支架（4-1）上表面开设滑槽，所述可滑动支架端（4-4）、第一顶轴（4-10）和第二顶轴（4-11）嵌入在所述滑槽内滑动，第一螺帽（4-12）和第二螺帽（4-13）分别将第一顶轴（4-10）和第二顶轴（4-11）固定限位在所述支架（4-1）的滑槽上，所述支架（4-1）一端具有竖板与所述可滑动支架端（4-4）相对设置，所述竖板上具有第一孔（4-7），所述可滑动支架端（4-4）具有第二孔（4-8）和第三孔（4-9），所述可滑动支架端（4-4）在支架的滑槽上滑动时，所述第一孔（4-7）和第二孔（4-8）的中心连线与两孔轴线方向重合，第一轴插在第一孔（4-7）中并由所述第一定位销将第一轴（4-5）固定，所述第二轴插在第二孔（4-8）中并由第二定位销将第二轴（4-6）固定，所述防转轴销插在第三孔（4-9）中。/n...

【技术特征摘要】
1.一种探头性能测试配套装置，包括A型试块（1）、B型试块（2）、C型试块（3）和试块通用转动支承装置（4）；所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转，其特征在于：
所述A型试块（1）为具有正面、上端面、左端面、右端面、背面和底面的立方体状测试块体（1-1），在所述测试块体（1-1）的正面上设有与背面相通的横通孔（1-4）；所述左端面与所述底面相邻的一端设有平底孔（1-8）；所述左端面和右端面的中部各设有一个中心孔（1-7）；所述底面（1-2）为上设有一段凸圆弧面（1-3）；所述正面设有三组刻线，第一组长度刻线a（1-10）位于正面与上端面交汇处，第二组刻线为角度刻线a（1-5）位于正面与底面平面交汇处，第三组角度刻线b（1-6）位于正面与底面的凸圆弧面（1-3）交汇处；在背面设有一组位于背面与底面的凸圆弧面（1-3）交汇处的长度刻线b（1-9）；
所述B型试块（2）包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体（2-1）、第二扇体（2-2）和第三扇体（2-3），所述第一扇体（2-1）、第二扇体（2-2）和第三扇体（2-3）的圆心在同一直线上，所述第二扇体（2-2）的半圆柱体的半径小于所述第一扇体（2-1）的半圆柱体的半径，所述第一扇体（2-1）的半圆柱体的半径小于第三扇体（2-3）的半圆柱体的半径，第三扇体（2-3）的半圆柱半径是第二扇体（2-2）的半圆柱体的半径的2±0.5倍；所述第一扇体（2-1）和第二扇体（2-2）与圆弧面相对的侧立面上均具有凸圆弧面和平面；所述第三扇体（2-3）与圆弧面相对的侧立面为平面；
所述C型试块（3）包括轴心在一条直线上并连成一体的第一半圆柱体（3-1）、第二半圆柱体（3-2）、第三半圆柱体（3-3）、第四半圆柱体（3-4）、第五半圆柱体（3-5）、第六半圆柱体（3-6）和第七半圆柱体（3-7），所述第一半圆柱体至第七半圆柱体的半径逐级减少；并且所述的七个半圆柱体侧立面的平面在同一平面上，在侧立面的平面、第一半圆柱体和第七半圆柱体的端面上设有C型试块平面刻线（3-8）和C型试块端面刻线（3-9）；
所述试块通用转动支承装置（4）包括支架（4-1）、第一固定座（4-2）、第二固定座（4-3）、可滑动支架端（4-4）、第一轴（4-5）、第二轴（4-6）、第一定位销、第二定位销、防转轴销、第一顶轴（4-10）、第二顶轴（4-11）、第一螺帽（4-12）和第二螺帽（4-13），所述支架（4-1）的两端分别与第一固定座（4-2）和第二固定座（4-3）连接固定，所述支架（4-1）上表面开设滑槽，所述可滑动支架端（4-4）、第一顶轴（4-10）和第二顶轴（4-11）嵌入在所述滑槽内滑动，第一螺帽（4-1...

【专利技术属性】
技术研发人员：万升云，桑劲鹏，葛佳棋，章文显，郑小康，李广立，
申请(专利权)人：中车戚墅堰机车车辆工艺研究所有限公司，常州中车铁马科技实业有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32