一种适用于TF卡测试分析架制造技术

本实用新型专利技术涉及一种适用于TF卡测试分析架，包括：Flash芯片，所述Flash芯片具有一缺口，所述Flash芯片被所述缺口分隔为第一插头和第二插头；Flash底板，其中一面设有两组排针，所述两组排针分别具有两列，所述两组排针不对称或者至少一组对应的两列排针不对称，所述Flash底板的另一面设有固定座，所述固定座包括被分隔板分隔的插口和插槽，所述插槽的开口背向所述插口向外，所述插口与所述第一插头相适配插接，所述插槽与所述第二插头相适配插接，所述分隔板与所述缺口插接；PCB底板，设有与所述排针对应适配的排母，所述PCB底板向外一体延伸有一延伸部，所述延伸部的外端设有TF卡模拟接头，所述TF卡模拟接头的一侧具有卡口，所述PCB底板上集成有控制器芯片。

A test and analysis frame for tfcard

The utility model relates to a test and analysis frame suitable for a tfcard, which includes: a flash chip, the flash chip has a gap, the flash chip is divided into a first plug and a second plug by the gap; a flash backplane, one side of which is provided with two groups of row pins, the two groups of row pins have two columns respectively, the two groups of row pins are asymmetric or at least one group of corresponding row pins are asymmetric The other side of the flash backplane is provided with a fixing base, which includes a socket and a slot separated by the partition board. The opening of the socket is facing outwards from the socket, the socket is matched with the first plug, the slot is matched with the second plug, the partition board is connected with the gap, and the PCB backplane is provided with a socket corresponding to the row pin The PCB bottom board extends outwards and integrally with an extension part, the outer end of the extension part is provided with a tfcard analog connector, one side of the tfcard analog connector is provided with a bayonet, and the PCB bottom board is integrated with a controller chip.

【技术实现步骤摘要】
一种适用于TF卡测试分析架
本技术涉及数据闪存
，尤其涉及一种适用于TF卡测试分析架。
技术介绍
TF卡又称T-Flash卡，全名：TransFLash，又名：MicroSD，目前基本所有的手机都使用的是TF卡，这主要是由于TF卡体积更小，更利于节省空间，而一般传统的SD卡则主要用于用于MP3、数码摄像机、数码相机、电子图书、AV器材等，不过TF卡也可以安装卡套充当SD卡来使用，但SD卡由于体积较大，不能使用TF卡插槽。TF卡出厂前需要经过检测，主要检测包括读写速度、容量、坏道等，而现有的检测工具装配速度慢，适用型号单一，每次更换型号需要重新焊接组装相应的Flash芯片，造成生产成本高，生产效率低下。
技术实现思路
鉴于上述状况，有必要提供一种能够方便更换Flash芯片的适用于TF卡测试分析架。为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：一种适用于TF卡测试分析架，包括：Flash芯片，所述Flash芯片具有一缺口，所述Flash芯片被所述缺口分隔为第一插头和第二插头；Flash底板，其中一面设有两组排针本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，包括：/nFlash芯片，所述Flash芯片具有一缺口，所述Flash芯片被所述缺口分隔为第一插头和第二插头；/nFlash底板，其中一面设有两组排针，所述两组排针分别具有两列，所述两组排针不对称或者至少一组对应的两列排针不对称，所述Flash底板的另一面设有固定座，所述固定座包括被分隔板分隔的插口和插槽，所述插槽的开口背向所述插口向外，所述插口与所述第一插头相适配插接，所述插槽与所述第二插头相适配插接，所述分隔板与所述缺口插接；/nPCB底板，设有与所述排针对应适配的排母，所述PCB底板向外一体延伸有一延伸部，所述延伸部的外端设有TF卡模拟接头，所...

【技术特征摘要】
1.一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，包括：
Flash芯片，所述Flash芯片具有一缺口，所述Flash芯片被所述缺口分隔为第一插头和第二插头；
Flash底板，其中一面设有两组排针，所述两组排针分别具有两列，所述两组排针不对称或者至少一组对应的两列排针不对称，所述Flash底板的另一面设有固定座，所述固定座包括被分隔板分隔的插口和插槽，所述插槽的开口背向所述插口向外，所述插口与所述第一插头相适配插接，所述插槽与所述第二插头相适配插接，所述分隔板与所述缺口插接；
PCB底板，设有与所述排针对应适配的排母，所述PCB底板向外一体延伸有一延伸部，所述延伸部的外端设有TF卡模拟接头，所述TF卡模拟接头的一侧具有卡口，所述PCB底板上集成有控制器芯片。


2.根据权利要求1所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，两组排针中的至少一组的两列排针形成梯形，所述排母与所述排针对应适配。


3.根据权利要求1所述的一种适用于TF卡测试分析架，其特征在于，两组排针中的至少一组的两列排针中的至少一列具有缺针，所述缺针对应的排母口封堵不可插接。

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【专利技术属性】
技术研发人员：李虎，徐建飞，
申请(专利权)人：深圳市德名利电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44