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本实用新型涉及一种适用于TF卡测试分析架，包括：Flash芯片，所述Flash芯片具有一缺口，所述Flash芯片被所述缺口分隔为第一插头和第二插头；Flash底板，其中一面设有两组排针，所述两组排针分别具有两列，所述两组排针不对称或者至少一...
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