颗粒物检测装置以及带有该颗粒物检测装置的电子设备制造方法及图纸

本申请公开了颗粒物检测装置以及带有该颗粒物检测装置的电子设备。颗粒物检测装置包括：晶圆底部、光源部、透镜部以及罩体部，所述光源部与所述透镜部通过所述罩体部中的限位槽固定在同一直线上，所述晶圆底部的至少两个侧面上设置有罩体部，通过所述罩体部与晶圆底部相连，所述晶圆底部还包括：设置在其上的感光部和集成电路元件部，所述感光部，用于接收经由所述透镜部光束作用于颗粒物引起散射的光束并转化为电信号；所述集成电路元件部与所述感光部相连并安装在所述晶圆底部，用于处理接收到的电信号。本申请解决了空气颗粒物传感器体积较大，且测量精度较差的问题。本申请可使用在手表、手机等微小型电子设备上显示空气颗粒物实时测量数据。

Particle detection device and electronic equipment with the particle detection device

The application discloses a particle detection device and an electronic device with the particle detection device. The particle detection device includes: the bottom of the wafer, the light source part, the lens part and the cover body part. The light source part and the lens part are fixed on the same line through the limit slot in the cover body part. At least two sides of the bottom of the wafer are provided with the cover body part, which is connected with the bottom of the wafer through the cover body part. The bottom of the wafer also includes: the sensitive part and the The integrated circuit element part, the photosensitive part, is used to receive the scattered light beam caused by the light beam acting on the particles through the lens part and convert it into an electrical signal; the integrated circuit element part is connected with the photosensitive part and installed at the bottom of the wafer for processing the received electrical signal. The application solves the problem that the air particle sensor has a large volume and a poor measurement accuracy. The application can display the real-time measurement data of air particles on micro electronic devices such as watches and mobile phones.

【技术实现步骤摘要】
颗粒物检测装置以及带有该颗粒物检测装置的电子设备
本申请涉及空气传感器领域，具体而言，涉及一种颗粒物检测装置以及带有该颗粒物检测装置的电子设备。
技术介绍
空气颗粒物传感器通常采用激光传感器，但是其面积较大，使用场景通常在室内净化器或新风系统。专利技术人发现，空气颗粒物传感器由于采用二次封装后体积都较大。不方便使用在手机、手表等小微型产品中。进一步，外界的光线容易对传感器的测量精度造成影响。针对相关技术中空气颗粒物传感器体积较大，且测量精度较差的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本申请的主要目的在于提供一种颗粒物检测装置以及带有该颗粒物检测装置的电子设备，以解决现有空气颗粒物传感器体积较大，且测量精度较差的问题。为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种颗粒物检测装置。根据本申请的颗粒物检测装置包括：晶圆底部、光源部、透镜部以及罩体部，所述光源部与所述透镜部通过所述罩体部中的限位槽固定在同一直线上，所述晶圆底部的至少两个侧面上设置有罩体部，通过所述罩体部与晶圆底部相连，所述晶圆底部还包括：设置在其上的感光部和集成电路元件部，所述感光部，用于接收经由所述透镜部光束作用于颗粒物引起散射的光束并转化为电信号；所述集成电路元件部与所述感光部相连并安装在所述晶圆底部，用于处理接收到的电信号。进一步地，所述罩体部上的进风口具有开口通道结构。进一步地，所述罩体部上的出风口具有开口通道结构。进一步地，在所述感光部至少包括一有效接收面。r>进一步地，在所述晶圆底部还包括：与外部载体连接的电性连接件。进一步地，所述罩体部还包括：用于隔离所述光源部激光光束的隔离部。进一步地，所述罩体部还包括：用于处理经由所述透镜部的激光光束的处理部。进一步地，所述晶圆底部的四个侧面上分别设置有罩体部，在所述晶圆底部的上方还设置有罩体部。进一步地，所述罩体部与所述晶圆底部为一体成型结构。本申请的另一方面，还提供了电子设备，包括：所述的空气颗粒传感器。在本申请实施例中，采用晶圆底部、光源部、透镜部以及罩体部一次封装的方式，通过罩体部与晶圆底部相连，通过设置在晶圆底部上的感光部和集成电路元件部，所述感光部，用于接收经由所述透镜部光束作用于颗粒物引起散射的光束并转化为电信号；所述集成电路元件部与所述感光部相连并安装在所述晶圆底部，用于处理接收到的电信号。达到了减小传感器体积的同时屏蔽外界干扰的技术效果，进而解决空气颗粒物传感器体积较大，且测量精度较差的的技术问题。本申请抗干扰能力强，可用于手机、手表等小微型产品中，大小比如可以是5*5*4。附图说明构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，使得本申请的其它特征、目的和优点变得更明显。本申请的示意性实施例附图及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1是根据本申请一实施例中的颗粒物检测装置结构示意图；图2是根据本申请一实施例中的颗粒物检测装置内部结构示意图；以及图3是根据本申请实施例的颗粒物检测装置结构电路结构原理示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。在本申请中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本申请及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本申请中的具体含义。此外，术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”、“套接”应做广义理解。例如，可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。如图1至2所示，本申请实施例中的一种颗粒物检测装置，包括：晶圆底部1、光源部2、透镜部3以及罩体部300，所述光源部2与所述透镜部3通过所述罩体部300中的限位槽固定在同一直线上，所述晶圆底部1的至少两个侧面上设置有罩体部300，通过所述罩体部300与晶圆底部1相连，所述晶圆底部1还包括：设置在其上的感光部5和集成电路元件部(未示出，可以采用现有技术中可以实现相同目的的电路元器件)，所述感光部5，用于接收经由所述透镜部3光束作用于颗粒物引起散射的光束并转化为电信号；所述集成电路元件部与所述感光部5相连并安装在所述晶圆底部1，用于处理接收到的电信号。在本申请实施例中的颗粒物检测装置，晶圆底部1用于集成电路元件。具体地，晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片。通常可以在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构，得到有特定电性功能的集成电路产品。光源部2用于发射激光光束，可以将光源部2电联至晶圆底部1上实现电路导通。透镜部3用于对光源部2发射的激光光束进行处理。处理部4的用于削弱激光光束，需要注意的是处理部4可以设计得具有多个折反射面用于通过多次的光线折射和/或反射对激光光束进行削弱。感光部5用于在空气从风口结构100进入后与激光光束混合发生散射，激光经过散射后进入到感光部5。需要注意的是，感光部5接收到的激光可以是只要通过某种方式造成激光光路发生改变的激光。在本申请的实施例中优选的是当空气中含有遮挡光束的颗粒时，激光光束通过散射到所述感光部5上。罩体部300至少包括设置在所述圆底部1两侧的罩体，并通过罩体部300中的两个相对位置上的限位槽将进风口100和出风口200固定在同一直线上，需本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种颗粒物检测装置，其特征在于，包括：晶圆底部、光源部、透镜部以及罩体部，所述光源部与所述透镜部通过所述罩体部中的限位槽固定在同一直线上，所述晶圆底部的至少两个侧面上设置有罩体部，通过所述罩体部与晶圆底部相连，/n所述晶圆底部还包括：设置在其上的感光部和集成电路元件部，所述感光部，用于接收经由所述透镜部光束作用于颗粒物引起散射的光束并转化为电信号；所述集成电路元件部与所述感光部相连并安装在所述晶圆底部，用于处理接收到的电信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种颗粒物检测装置，其特征在于，包括：晶圆底部、光源部、透镜部以及罩体部，所述光源部与所述透镜部通过所述罩体部中的限位槽固定在同一直线上，所述晶圆底部的至少两个侧面上设置有罩体部，通过所述罩体部与晶圆底部相连，
所述晶圆底部还包括：设置在其上的感光部和集成电路元件部，所述感光部，用于接收经由所述透镜部光束作用于颗粒物引起散射的光束并转化为电信号；所述集成电路元件部与所述感光部相连并安装在所述晶圆底部，用于处理接收到的电信号。


2.根据权利要求1所述的颗粒物检测装置，其特征在于，所述罩体部上的进风口具有开口通道结构。


3.根据权利要求1所述的颗粒物检测装置，其特征在于，所述罩体部上的出风口具有开口通道结构。


4.根据权利要求1所述的颗粒物检测装置，其特征在于，在所述感光部至少包括一有效接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗柱华，
申请(专利权)人：深圳益杉创新科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44