CT系统和用于CT系统的探测装置制造方法及图纸

技术编号:22644000 阅读:47 留言:0更新日期:2019-11-26 16:42
本实用新型专利技术公开了一种CT系统和用于CT系统的探测装置。该装置包括:高能探测器组件,高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器;低能探测器组件,与高能探测器组件层叠设置,低能探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排低能探测器;其中,低能探测器的排数小于高能探测器的排数;每排低能探测器均覆盖一排高能探测器。根据本实用新型专利技术实施例提供的CT系统和用于CT系统的探测装置,提高了对材料的分辨能力。

CT system and detection device for CT system

The utility model discloses a CT system and a detection device for a CT system. The device includes: a high energy detector assembly, which includes a plurality of rows of high energy detectors arranged along a predetermined trajectory; a low energy detector assembly, which is arranged in layers with a high energy detector assembly, and a low energy detector assembly which includes a plurality of rows of low energy detectors arranged at intervals along a predetermined trajectory; wherein, the number of rows of low energy detectors is less than the number of rows of high energy detectors; each row of low energy detectors Both cover a row of high energy detectors. The CT system and the detection device for the CT system provided according to the embodiment of the utility model improve the resolution ability of the material.

【技术实现步骤摘要】
CT系统和用于CT系统的探测装置
本技术涉及辐射检测领域,尤其涉及一种CT系统和用于CT系统的探测装置。
技术介绍
目前,基于射线辐射成像的计算机断层扫描技术被广泛应用于安全检查,尤其用于检查行李物品中的可疑物品。在基于射线辐射成像的CT技术中,通过CT数据重建可以得到断层内的被扫描物体的特征分布数据,通过对特征数据进行分析,可实现对行李中常见的嫌疑物质进行识别。目前常用双能CT系统采用双层探测器结构,获取双能投影数据,以对被检测物体进行分辨。但是,目前的CT系统中的双层探测器结构最多只能提供双能投影数据,限制了对材料的分辨能力。
技术实现思路
本技术实施例一种CT系统和用于CT系统的探测装置,通过利用多能投影数据,提高了对材料的分辨能力。根据本技术实施例的一方面,提供一种用于CT系统的探测装置,该装置包括:高能探测器组件,高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器;低能探测器组件,与高能探测器组件层叠设置,低能探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排低能探测器;其中,低能探测器的排数小于高能探测器的排数;每排低能探测器均覆盖一排高能探测器。在一个实施例中,任意相邻两排高能探测器紧密设置。在一个实施例中,多排高能探测器沿预定轨迹间隔排布。在一个实施例中,任意相邻两排高能探测器之间均具有第一预设间距。在一个实施例中,被低能探测器覆盖的任意相邻两排高能探测器之间,设置有至少一排未被低能探测器覆盖的高能探测器。在一个实施例中,被低能探测器覆盖的高能探测器,与未被低能探测器覆盖的高能探测器按预定轨迹交替排布。在一个实施例中,任意相邻两排低能探测器之间均具有第二预设间距。在一个实施例中,第二预设间距为5至80毫米;或,第二预设间距为30至50毫米。在一个实施例中,预定轨迹为圆弧。根据本技术实施例的另一方面,提供一种用于CT系统的探测装置,该装置包括:层叠设置的第一层探测器组件、第二层探测器组件、……、第N层探测器组件,N为大于2的整数;其中,第一层探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排第一探测器,第二层探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排第二探测器,……,第N层探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排第N探测器;第一探测器的能量响应峰值对应的能量、第二探测器的能量响应峰值对应的能量、……、第N探测器的能量响应峰值对应的能量依次减小;第k+1层探测器组件中探测器的排数小于第k层探测器组件中探测器的排数,k=1,2,……N-1;第k+1层探测器组件中的每排探测器均覆盖第k层探测器组件中的一排探测器。根据本技术实施例的再一方面,提供一种CT系统,该系统包括:扫描通道,用于被检查物体进出CT系统;滑环,用于围绕扫描通道旋转;与滑环连接的射线源;以及与射线源相对设置并连接在滑环上的探测装置,探测装置是如本技术实施例提供的装置。在一个实施例中,CT系统还包括:数据处理模块,用于基于探测装置输出的数据信号重建被检查物体的CT图像。根据本技术实施例中的CT系统和用于CT系统的探测装置,探测装置包括高能探测器组件以及与高能探测器组件层叠设置的低能探测器组件,高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器,低能探测器组件包括沿所述预定轨迹间隔排布的多排低能探测器,由于低能探测器的排数小于高能探测器的排数,并且每排低能探测器均覆盖一排高能探测器,因此射线源发出的射线可以具有三种穿透探测装置的方式,从而可以获取三能投影图像,提高了对材料的分辨率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对本技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1示出本技术一些实施例提供的CT系统的结构示意图;图2示出本技术一实施例提供的用于CT系统的探测装置的示例性结构示意图;图3示出本技术一些实施例提供的单排探测器的结构示意图;图4示出图2中探测装置的侧视图;图5示出图2中探测装置中低能探测器和高能探测器的能量响应曲线;图6示出本技术另一实施例提供的探测装置的侧视图;图7示出本技术再一实施例提供的探测装置的侧视图。具体实施方式下面将详细描述本技术的各个方面的特征和示例性实施例,为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细描述。应理解,此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本技术,并不被配置为限定本技术。对于本领域技术人员来说,本技术可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本技术的示例来提供对本技术更好的理解。需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。为了更好的理解本技术,下面将结合附图,详细描述根据本技术实施例的CT系统和用于CT系统的探测装置,应注意,这些实施例并不是用来限制本技术公开的范围。图1示出本技术实施例提供的CT系统的结构示意图。如图1所示,CT系统包括:扫描通道1、射线源2、探测装置3、滑环4、控制装置5和数据处理装置6。在本技术的实施例中,被检查物体沿传送方向V通过扫描通道1进出CT系统。射线源2与滑环连接,用于发出射线束。射线源2可以是常用的各种型号的X光机、加速器,也可以是放射性同位素、同步辐射光源等能够发出X射线或γ射线的装置。探测装置3与射线源2相对设置,并且探测装置3连接在滑环4上。探测装置3接收射线源2发出的穿过被检查物体的射线束。滑环4围绕扫描通道1旋转。其中,滑环4的旋转轴线与扫描通道1传送被检查物体的传送方向V大致平行。滑环4按照预设的扫描参数旋转,以带动射线源2和探测装置3围绕被检查物体旋转,从而完成对被检查物体的旋转扫描。控制装置5控制射线源2的辐射发射,以及控制对探测装置3输出的数据信号的采集。并且,控制装置5还用于控制扫描通道1和滑环4的动作。数据处理装置6基于探测装置3在扫描被检查物体的过程中产生的数据信号进行处理,从而重建被检查物品的CT图像。图2示出本实用新本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于CT系统的探测装置,其特征在于,所述装置包括:/n高能探测器组件,所述高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器;/n低能探测器组件,与所述高能探测器组件层叠设置,所述低能探测器组件包括沿所述预定轨迹间隔排布的多排低能探测器;/n其中,所述低能探测器的排数小于所述高能探测器的排数;/n每排所述低能探测器均覆盖一排所述高能探测器。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于CT系统的探测装置,其特征在于,所述装置包括:
高能探测器组件,所述高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器;
低能探测器组件,与所述高能探测器组件层叠设置,所述低能探测器组件包括沿所述预定轨迹间隔排布的多排低能探测器;
其中,所述低能探测器的排数小于所述高能探测器的排数;
每排所述低能探测器均覆盖一排所述高能探测器。


2.根据权利要求1所述装置,其特征在于,任意相邻两排所述高能探测器紧密设置。


3.根据权利要求1所述装置,其特征在于,所述多排高能探测器沿所述预定轨迹间隔排布。


4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,任意相邻两排所述高能探测器之间均具有第一预设间距。


5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,被所述低能探测器覆盖的任意相邻两排所述高能探测器之间,设置有至少一排未被所述低能探测器覆盖的所述高能探测器。


6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,被所述低能探测器覆盖的所述高能探测器,与未被所述低能探测器覆盖的所述高能探测器按所述预定轨迹交替排布。


7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,任意相邻两排所述低能探测器之间均具有第二预设间距。


8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第二预设间距为5至80毫米;或,
所述第二预设间距为30至50毫米...

【专利技术属性】
技术研发人员:张丽陈志强黄清萍孙运达金鑫沈乐李亮赵眺
申请(专利权)人:同方威视技术股份有限公司清华大学
类型:新型
国别省市:北京;11

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