干涉仪检具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种干涉仪检具，包括圆台，圆台下中部设置定位插柱，圆台上中部设置立柱，圆台外周设置有限位槽，避免检具使用过程中转动，圆台、定位插柱、立柱同轴心，且直径依次递减，立柱上端设置镜片放置面，为便于镜片检测时的拿取，提高检查效率，镜片放置面的左右两侧铣扁形成避让台阶面，避让台阶面位于定位面下方，定位面前面设置有定位块，定位块内侧设置中部向外拱形成V型定位面，V型定位面包括左右对称设置的两个内端相连接的斜面，两个斜面外端的直线距离小于其所检测的镜片的外径，立柱直径大于所检测的镜片的外径，本检具结构简单，设计合理，操作使用方便，通用性强，提高了检查效率，降低了生产成本。

Interferometer gauge

The utility model relates to an interferometer inspection tool, which comprises a circular platform, a positioning inserting post is arranged in the middle under the circular platform, a column is arranged in the middle above the circular platform, a limited position slot is arranged around the circular platform to avoid rotation during the use of the inspection tool, the circular platform, the positioning inserting post and the column are in the same axis, and the diameter is successively reduced, the upper end of the column is provided with a lens placing surface, so as to facilitate the access of the lens during the inspection and improve the inspection efficiency Rate: the left and right sides of the lens placement surface are milled to form the avoidance step surface, the avoidance step surface is located below the positioning surface, the front of the positioning surface is provided with a positioning block, the inner side of the positioning block is provided with a central outward arched V-shaped positioning surface, the V-shaped positioning surface includes two inner ends connected symmetrically on the left and right sides, and the straight-line distance between the outer ends of the two slopes is less than the outer diameter of the inspected lens The diameter of the column is larger than the outer diameter of the inspected lens. The inspection tool has the advantages of simple structure, reasonable design, convenient operation, strong universality, improved inspection efficiency and reduced production cost.

【技术实现步骤摘要】
干涉仪检具
本技术涉及一种用于球面镜片检测的干涉仪检具。
技术介绍
球面镜片亚斯/局部面精度是光学成像的重要指标，在镜片研磨完成后需使用干涉仪进行抽检，当不良比例超标时需对整批次产品进行全检确认，在干涉仪上检测时，需使用干涉仪检具进行定位。传统干涉仪检具采用圆周定位，即治具内孔稍大于镜片外径（通常为0.1-0.2mm）。这样的检具通用性差，镜片外径差异大于0.5mm时，定位效果差，易平移，亚斯成像位置偏移，同时，生产加工时，需针对不同型号镜片需更换不同型号检具，更换频率高，影响检查效率，检具数量多，也会造成生产管理的浪费和治工具成本的提高。
技术实现思路
本技术的目的是针对以上不足之处，提供了一种干涉仪检具。本技术解决技术问题所采用的方案是，一种干涉仪检具，包括圆台，圆台下中部设置定位插柱，圆台上中部设置立柱，圆台外周设置有限位槽，圆台、定位插柱、立柱同轴心，且直径依次递减，立柱上端设置镜片放置面，镜片放置面的左右两侧铣扁形成避让台阶面，避让台阶面位于定位面下方，定位面前面设置有定位块，定位块内侧设置中部向外拱形成V本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种干涉仪检具，其特征在于：包括圆台，圆台下中部设置定位插柱，圆台上中部设置立柱，圆台外周设置有限位槽，立柱上端设置镜片放置面，镜片放置面的左右两侧铣扁形成避让台阶面，避让台阶面位于定位面下方，定位面前面设置有定位块，定位块内侧设置中部向外拱形成V型定位面。/n

【技术特征摘要】
1.一种干涉仪检具，其特征在于：包括圆台，圆台下中部设置定位插柱，圆台上中部设置立柱，圆台外周设置有限位槽，立柱上端设置镜片放置面，镜片放置面的左右两侧铣扁形成避让台阶面，避让台阶面位于定位面下方，定位面前面设置有定位块，定位块内侧设置中部向外拱形成V型定位面。


2.根据权利要求1所述的干涉仪检具,其特征在于：V型定位面包括左右对称设置的两个内端相连接的斜面，两个斜面之间的夹角为120度。


3.根据权利要求2所述的干涉仪检具，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚新宇，林根，夏礼锟，刘琴，陈芳婷，
申请(专利权)人：福建福光光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35