一种光插回损校准装置和测试方法制造方法及图纸

本申请提供了一种光插回损校准装置和测试方法，所述装置包括：总光耦合器和光全反射镜；所述总光耦合器，其具有N个输入端口和2个输出端口；通过N个输入端口分别与光插回损测试仪的光源输出端口相连；通过第一输出端口与光全反射镜相连，通过第二输出端口与光插回损测试仪的光功率输入端口相连；其中，N为大于0的整数；所述光全反射镜，用于反射所述总光耦合器由输入端口进入的光信号功率。该光插入回损校准装置由全光无源器件组成，具有体积小、易集成、操作简便，适用多种光插回损测试仪的特点。

A calibration device and test method for optical insertion loss

The application provides an optical insertion back loss calibration device and a test method, the device includes: a total optical coupler and a total optical reflector; the total optical coupler, which has n input ports and 2 output ports; through N input ports, it is respectively connected with the light source output port of the optical insertion back loss tester; through the first output port, it is connected with the total optical reflector and through the second output port The port is connected with the optical power input port of the optical plug back loss tester, wherein n is an integer greater than 0; the optical total reflector is used to reflect the optical signal power of the total optical coupler from the input port. The device is composed of all-optical passive components. It is small in size, easy to integrate, easy to operate and suitable for a variety of optical insertion loss tester.

【技术实现步骤摘要】
一种光插回损校准装置和测试方法
本专利技术涉及测试
，特别涉及一种光插回损校准装置和测试方法。
技术介绍
光插回损测试仪，它是集稳定化光源、高精度光功率计、插损测试仪和回波损耗测试仪为一体的多功能光通信测试仪表。它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损、回损测试以及稳定性测量。现有的校准装置将光插回损测试仪的光插入损耗和回波损耗作为两个独立的部分分别进行校准，即采用两套校准装置，并且要使用光衰减器等有源设备，因此具有校准步骤繁琐、预热和校准时间长、校准场地要求较高等缺点。
技术实现思路
有鉴于此，本申请提供一种光插回损校准装置和测试方法，该光插入回损校准装置由全光无源器件组成，具有体积小、易集成、操作简便，适用多种光插回损测试仪的特点。为解决上述技术问题，本申请的技术方案是这样实现的：在一个实施例中，提供了一种光插回损校准装置，所述装置包括：总光耦合器和光全反射镜；所述总光耦合器，其具有N个输入端口和2个输出端口；通过N个输入端口分别与光插回损测试仪的光源输出端口相连；通过第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光插回损校准装置，其特征在于，所述装置包括：总光耦合器和光全反射镜；/n所述总光耦合器，其具有N个输入端口和2个输出端口；通过N个输入端口分别与光插回损测试仪的光源输出端口相连；通过第一输出端口与光全反射镜相连，通过第二输出端口与光插回损测试仪的光功率输入端口相连；其中，N为大于0的整数；/n所述光全反射镜，用于反射所述总光耦合器由输入端口进入的光信号功率。/n

【技术特征摘要】
1.一种光插回损校准装置，其特征在于，所述装置包括：总光耦合器和光全反射镜；
所述总光耦合器，其具有N个输入端口和2个输出端口；通过N个输入端口分别与光插回损测试仪的光源输出端口相连；通过第一输出端口与光全反射镜相连，通过第二输出端口与光插回损测试仪的光功率输入端口相连；其中，N为大于0的整数；
所述光全反射镜，用于反射所述总光耦合器由输入端口进入的光信号功率。


2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
所述总光耦合器由N个分光耦合器N次级联组成。


3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，N个输入端口的分光比根据所述光插回损测试仪的测试需求确定。


4.一种光插回损校准装置测试方法，其特征在于，应用于包括光插回损测试仪和所述权利要求1-3中任一项所述的光插回损校准装置的系统中，所述方法包括：
当所述光插回损测试仪处于正常工作状态时，将光插回损校准装置的第二输出端口与光插回损测试仪的光功率输入端口相连；
针对每个输入端口分别进行如下操作：
将光插回损测试仪的光源输出端口与光插回损测试仪校准装置的第i个输入端口相连；其中，i为不小于1且不大于N的整数；
启动光插回损测试仪测试程序，记录光插回损测试仪测得连接第i个输入端口时对应的光回波损耗测试值和光插入损耗测试值；
比较第i个输入端口对应的光回波损耗测试值和光回波损耗参考值，以及对应的光插入损耗测试值和光插入损耗参考值。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述比较第i个输入端口对应的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：傅栋博，孙小强，岳蕾，
申请(专利权)人：中国信息通信研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11