气体组分测量装置制造方法及图纸

气体组分测量装置的特征在于包括：旋流器，具有气体入口；和激光气体分析仪，被构造成在旋流器中测量对象气体的组分，对象气体含有颗粒物质，且通过气体入口引入到旋流器中。

Gas composition measuring device

The gas component measuring device is characterized in that it includes a hydrocyclone with a gas inlet, and a laser gas analyzer, which is configured to measure the components of the target gas in the hydrocyclone, the target gas contains particulate matter, and is introduced into the hydrocyclone through the gas inlet.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】气体组分测量装置
本专利技术涉及一种气体组分测量装置。
技术介绍
作为气体组分测量装置，其通过根据测量对象气体(下文中称为对象气体)的特性向对象气体诸如从电弧炉排出的排放气体施加激光来测量或多次测量对象气体的一种或多种组分，这种装置可用于将激光从光发射部发射到光接收部，并且在光接收部处检测哪种光的波长被光发射部和光接收部之间的对象气体衰减以及衰减的程度，由此测量对象气体的组分。然而，对象气体含有颗粒物质诸如灰尘和液滴，并且当这种颗粒物质的浓度高时，有激光不能适当地到达光接收部的可能性，并且因此测量不能高精度地进行。因此，在传统情况下，采用这样一种方法，其中预先使用旋流器从对象气体中去除颗粒物质，然后使用气体组分测量装置对去除了颗粒物质之后的对象气体进行测量。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利申请公布特开2016-35408(JP2016-35408A)专利文献2：日本专利申请公布特开2014-240806(JP2014-240806A)
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，在传统情况下，必须在测量对象气体之前单独地执行从对象气体中去除颗粒物质的步骤，因此存在耗时较长的问题。已经考虑到这种问题而作出本专利技术，并且本专利技术的目的是实现一种气体组分测量装置，通过该气体组分测量装置能够快速地测量对象气体的组分。解决问题的手段用于实现以上目的的主专利技术是一种气体组分测量装置，其特征在于包括：旋流器，所述旋流器具有气体入口；和激光气体分析仪，所述激光气体分析仪被构造成在所述旋流器中测量对象气体的组分，所述对象气体含有颗粒物质，并且所述对象气体通过所述气体入口被引入到所述旋流器中。本专利技术的其它特征将由本说明和附图阐明。专利技术的效果根据本专利技术，实现了一种气体组分测量装置，通过该气体组分测量装置能快速地测量对象气体的组分。附图说明图1是根据本专利技术的气体组分测量装置10的顶视图。图2是根据本专利技术的气体组分测量装置10的侧视图。图3是用于解释根据第二实施例的气体组分测量装置10的解释图。具体实施方式本说明和附图将至少阐明下列内容。一种气体组分测量装置，其特征在于包括：旋流器，所述旋流器具有气体入口；和激光气体分析仪，所述激光气体分析仪被构造成在所述旋流器中测量对象气体的组分，所述对象气体含有颗粒物质，并且所述对象气体通过所述气体入口被引入到所述旋流器中。通过这种气体组分测量装置，实现了一种气体组分测量装置，通过该气体组分测量装置能快速地测量对象气体的组分。在这种气体组分测量装置中，优选的是：所述激光气体分析仪被构造成在所述旋流器中的不同于外部区域的中央区域处进行所述对象气体的所述组分的测量。通过这种气体组分测量装置，能够适当地解决颗粒物质阻碍激光到达光接收部的问题。在这种气体组分测量装置中，优选的是：所述旋流器在所述旋流器的侧表面中具有彼此对置的一对开口部，并且所述激光气体分析仪的光发射部被设置成发射激光通过所述一对开口部中的一个开口部进入到所述旋流器中，并且所述激光气体分析仪的光接收部被设置成接收通过所述一对开口部中的另一个开口部出射的所述激光。通过这种气体组分测量装置，能够以简单的方式实现一种用于测量旋流器中的对象气体组分的配置。在这种气体组分测量装置中，优选的是所述气体组分测量装置进一步包括移置装置，所述移置装置被构造成：通过在所述旋流器内在所述一对开口部中的每一个开口部的附近阻碍所述颗粒物质的通过，使所述激光的光路上的所述颗粒物质减少。通过这种气体组分测量装置，能够适当地实现用于执行测量的配置，其瞄准或者选择如下区域或范围，在该区域或范围中颗粒物质的百分比在旋流器中相对低，使得颗粒物质与对象气体离心分离。在这种气体组分测量装置中，优选的是：所述移置装置包括气体喷射装置，所述气体喷射装置被构造成通过所述一对开口部中的每一个开口部向内喷射吹扫气体。通过这种气体组分测量装置，能够适当地实现用于执行测量的配置，其瞄准或者选择下列区域或范围，在该区域或范围中颗粒物质的百分比在旋流器中相对低，使得颗粒物质与对象气体离心分离。在这种气体组分测量装置中，优选的是：所述移置装置包括中空管，所述中空管被设置成从所述一对开口部中的每一个开口部向内突出。通过这种气体组分测量装置，能够适当地实现用于执行测量的配置，其瞄准或者选择下列区域或范围，在该区域或范围中颗粒物质的百分比在旋流器中相对低，使得颗粒物质与对象气体离心分离。在这种气体组分测量装置中，优选的是：所述旋流器的顶部被顶板部封闭，所述气体入口被设置在所述旋流器的侧表面中，并且在所述旋流器的下端处设置气体出口，所述对象气体与所述颗粒物质一起从所述气体出口排出。通过这种气体组分测量装置，能够简化旋流器的结构。在这种气体组分测量装置中，优选的是：所述旋流器具有突出部，所述突出部从所述顶板部向下延伸，并且所述突出部的外形是回转表面，所述回转表面的轴线是所述旋流器的竖直中心轴线。通过这种气体组分测量装置，能够引起对象气体的回旋(旋转流动)，并且因此能够抑制对象气体的回流的发生。在这种气体组分测量装置中，优选的是：所述突出部具有倒圆锥状形状，其中所述倒圆锥状形状的直径向下减小。通过这种气体组分测量装置，能够引起对象气体的回旋(旋转流动)，因此能够抑制对象气体的回流的发生。在这种气体组分测量装置中，优选的是：所述气体入口和气体出口都连接至排放管道，所述对象气体与所述颗粒物质一起从所述气体出口排出，从炼钢电弧炉排出的排放气体流动通过所述排放管道，并且所述气体组分测量装置被构造成进行所述排放气体的所述组分的测量。通过这种气体组分测量装置，本专利技术的效果将更有利。＝＝＝根据实施例的气体组分测量装置10＝＝＝然后将参考图1和图2描述根据实施例的气体组分测量装置10。图1是气体组分测量装置10的顶视图。图2是气体组分测量装置10的侧视图。根据本专利技术的气体组分测量装置10用于测量或多次测量从炼钢电弧炉排出的排放气体的组分或多种组分。这意味着排放气体是气体组分测量装置10的(测量)对象气体。从电弧炉排出的排放气体通过排放管道流动到集尘器，诸如袋式过滤器或静电除尘器，气体组分测量装置10以旁通方式连接到排放管道。具体地，气体组分测量装置10的后面描述的气体入口22和气体出口24两者都连接到排放管道，从炼钢电弧炉排出的排放气体流动通过排放管道。以这种方式，气体组分测量装置10被构造成测量排放气体中的组分，以便例如确定电弧炉中的状况。气体组分测量装置10包括旋流器20和激光气体分析仪40，激光气体分析仪40被构造成对旋流器20中的排放气体组分进行测量。具体地，激光气体分析本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种气体组分测量装置，包括：/n旋流器，所述旋流器具有气体入口；和/n激光气体分析仪，所述激光气体分析仪被构造成在所述旋流器中测量对象气体的组分，所述对象气体含有颗粒物质，并且所述对象气体通过所述气体入口被引入到所述旋流器中。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170322 JP 2017-0554751.一种气体组分测量装置，包括：
旋流器，所述旋流器具有气体入口；和
激光气体分析仪，所述激光气体分析仪被构造成在所述旋流器中测量对象气体的组分，所述对象气体含有颗粒物质，并且所述对象气体通过所述气体入口被引入到所述旋流器中。


2.根据权利要求1所述的气体组分测量装置，其中
所述激光气体分析仪被构造成在所述旋流器中的不同于外部区域的中央区域处进行所述对象气体的所述组分的测量。


3.根据权利要求1或2所述的气体组分测量装置，其中
所述旋流器在所述旋流器的侧表面中具有彼此对置的一对开口部，并且
所述激光气体分析仪的光发射部被设置成发射激光通过所述一对开口部中的一个开口部进入到所述旋流器中，并且所述激光气体分析仪的光接收部被设置成接收通过所述一对开口部中的另一个开口部出射的所述激光。


4.根据权利要求3所述的气体组分测量装置，进一步包括：
移置装置，所述移置装置被构造成通过在所述旋流器内在所述一对开口部中的每一个开口部的附近阻碍所述颗粒物质的通过来使所述激光的光路上的所述颗粒物质减少。


5.根据权利要求4所述的气体组分测量装置，其中
所述移置...

【专利技术属性】
技术研发人员：菅泽敏明，山口隆二，松尾贵人，藤本光仁，
申请(专利权)人：钢铁普蓝特克股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP