内径测量仪制造技术

技术编号:22550778 阅读:18 留言:0更新日期:2019-11-13 17:50
本实用新型专利技术涉及测量仪器技术领域,公开了一种内径测量仪。该内径测量仪通过测量端的测头滑块组直接测量深孔内径,第一测量杆、第二测量杆以及同步滑块组的配合可以将测头滑块组的变化同步反映至位于孔外的读数端,通过测量机构测量读数端的径向或者轴向位移实现内径的测量。其结构简单、操作方便,成本低廉,测量效率高、精度高,测量范围广,适用于小口径深孔的测量。

Inner diameter measuring instrument

The utility model relates to the technical field of measuring instruments, and discloses an inner diameter measuring instrument. The inner diameter measuring instrument directly measures the inner diameter of the deep hole through the measuring head slide block group at the measuring end. The first measuring rod, the second measuring rod and the synchronous slide block group can synchronously reflect the change of the measuring head slide block group to the reading end outside the hole. The measurement of the inner diameter is realized by measuring the radial or axial displacement of the reading end through the measuring mechanism. It has the advantages of simple structure, convenient operation, low cost, high measuring efficiency, high precision and wide measuring range, and is suitable for the measurement of small diameter and deep hole.

【技术实现步骤摘要】
内径测量仪
本技术涉及测量仪器
,具体针对孔深在2000mm范围内的内径测量仪。
技术介绍
在机械行业中,传统的孔径测量多采用游标卡尺和内径千分尺来实现指导工件的加工、衡量装配体中孔的装配精度和校正安装位置的目的,但是由于该两种测量仪器受其自身结构的限制,使用范围有限,不能到达深度较深的待测点对小孔内径进行测量,同时内径千分尺测头处的钢球易磨损而影响测量精度。随着微型化和高精度技术的发展,目前国内外测量孔径的方法可分为接触式测量和非接触式测量,其中接触式测量方法有坐标机测量法和电接触法,非接触式测量法有光学法、气动法。坐标机测量法操作复杂,测杆和测头容易因为接触力而发生机械变形,造成较大的测量误差;电接触法是利用测头与孔壁接触瞬间使电路通电进行瞄准测量,测量精度低;光学法多用来测量大孔的内径,并且孔端面的毛刺及其他缺陷会影响测量精度;气动法测量不能测得任意截面的尺寸和形状误差。公开号为CN206399333U的专利申请公开了一种螺杆机内筒测量工具,主要由测量管、第一测量头、第二测量头以及测量杆构成,第一测量头和第二测量头分别设有用于测量的第一横杆和第二横杆。其中,第一测量头与测量管固定件,第二测量头则可沿测量管径向移动,测量杆与第一测量头直面配合,第二测量头与通过斜面配合,推动测量杆沿轴向运动即可将使第二测量头向外运动,第一横杆和第二横杆分别接触孔内壁,通过斜面的角度及测量杆的位移量可以获得内径的变化量。该专利申请的技术方案一定程度上解决了深孔内径测量的问题,但是仍存在一些问题。其测量端结构具有多个滑动配合,即测量杆与第一测量头、测量杆与第二测量头以及第二测量头与测量管均存在滑动配合,多个滑动配合会降低精度测量精度,加之测量端在测量时位于深孔内无法观测其具体状况,较为复杂的配合结构则意味着其可靠性较差。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种结构简单、测量精度高的内径测量仪。本技术公开的内径测量仪,包括第一测量杆、第二测量杆、测头滑块组和同步滑块组,所述第一测量杆和第二测量杆均设有测量端和读数端,第一测量杆和第二测量杆相互平行;所述测头滑块组包括第一测头和第二测头,所述第一测头和第二测头外端面均具有测量面,所述第一测头设置于第一测量杆的测量端,所述第二测头设置于第二测量杆的测量端,第一测头与第二测头通过斜面滑动配合;所述同步滑块组包括第一同步滑块和第二同步滑块,所述第一同步滑块设置于第一测量杆的读数端,所述第二同步滑块设置于第二测量杆的读数端,第一同步滑块和第二同步滑块通过斜面滑动配合;所述测头滑块组和同步滑块组的斜面方向相同且倾角相等;所述第一测量杆和第二测量杆的读数端设置有用于测量第一测量杆和第二测量杆轴向或者径向相对位移的测量机构。优选地,所述第一同步滑块上远离第一测量杆的一端设置有第一延长杆,所述第二同步滑块远离第二测量杆的一端设置有第二延长杆,所述测量机构设置于第一延长杆与第二延长杆之间。优选地,所述测量机构是用于测量第一测量杆和第二测量杆轴向相对位移的百分表,所述百分表的主体安装于第一延长杆上,百分表的测杆沿第二测量杆轴向布置,测杆的端部与第二延长杆的端面接触配合。优选地,所述测量机构是用于测量第一测量杆和第二测量杆径向相对位移的百分表,所述百分表的主体安装于第一延长杆上,百分表的测杆沿第二测量杆径向布置,测杆的端部与第二延长杆的侧面接触配合。优选地,所述第二延长杆上设置有与测杆相配合的测量凹槽,所述测量凹槽沿第二延长杆与测杆的相对滑动方向设置。优选地,所述第一测量杆和第二测量杆的读数端设置有锁定机构,所述锁定机构包括第一连接件、第二连接件和调节螺杆;所述第一连接件固定于第一测量杆或第一延长杆上;所述第二连接件上沿第二测量杆的径向移动方向设置开设有腰型孔,所述第二延长杆穿过第二连接件的腰型孔,所述腰型孔两侧分别设置有锁定螺母,所述锁定螺母与第二延长杆螺纹连接;所述第一连接件和第二连接件的其中之一与调节螺杆转动连接,另一个与调节螺杆螺纹连接。优选地,所述第一测头和第二测头的斜面上分别设置有相互匹配的滑槽和定位凸块;所述第一同步滑块和第二同步滑块也分别设置有相互匹配的滑槽和定位凸块;所述滑槽和定位凸块均沿斜面滑动方向设置。优选地,所述第一测量杆、第二测量杆、测头滑块组和同步滑块组均通过可拆卸方式连接。优选地,所述第一测量杆和第二测量杆上设置有用于表示内径测量位置深度的刻度。优选地,所述第一测头和第二测头的测量面为圆柱面。本技术的有益效果是:该内径测量仪通过测量端的测头滑块组直接测量深孔内径,第一测量杆、第二测量杆以及同步滑块组的配合可以将测头滑块组的变化同步反映至位于孔外的读数端,通过测量机构测量读数端的径向或者轴向位移实现内径的测量。其结构简单、操作方便,成本低廉,测量效率高、精度高,测量范围广,适用于小口径深孔的测量。附图说明图1是本技术一个实施例的示意图;图2是本技术另一个实施例的示意图;图3是测头滑块组的示意图;图4是图3的左视图;图5是同步滑块组的示意图;图6是图5的右视图;图7是锁定机构的第二连接件的示意图;图8是图7的A-A剖视图。附图标记:第一测头1,第二测头2,第一测量杆3,第二测量杆4,第一同步滑块5,第二同步滑块6,第一连接件7,第二连接件8,调节螺杆9,锁定螺母10,第一延长杆11,第二延长杆12,滑槽13,定位凸块14,测量凹槽15,腰型孔16,百分表17。具体实施方式下面结合附图对本技术进一步说明。如图1或2所示,本技术的内径测量仪包括第一测量杆3、第二测量杆4、测头滑块组和同步滑块组,所述第一测量杆3和第二测量杆4均设有测量端和读数端,第一测量杆3和第二测量杆4相互平行;所述测头滑块组包括第一测头1和第二测头2,所述第一测头1和第二测头2外端面均具有测量面,所述第一测头1设置于第一测量杆3的测量端,所述第二测头2设置于第二测量杆4的测量端,第一测头1与第二测头2通过斜面滑动配合;所述同步滑块组包括第一同步滑块5和第二同步滑块6,所述第一同步滑块5设置于第一测量杆3的读数端,所述第二同步滑块6设置于第二测量杆4的读数端,第一同步滑块5和第二同步滑块6通过斜面滑动配合;所述测头滑块组和同步滑块组的斜面方向相同且倾角相等;所述第一测量杆3和第二测量杆4的读数端设置有用于测量第一测量杆3和第二测量杆4轴向或者径向相对位移的测量机构。该内径测量仪在测量前,根据待测孔径,选择合适的测头和测量机构,要保证待测孔径在测头总移动量的中间位置;检查测头的灵活性,确定测头能平稳滑动,没有卡滞现象。测量时,将内径测量仪的测量端缓慢伸入深孔中,当测头滑块组到达待测点处后,晃动测量仪防止卡阻,然后通过调整第一测量杆3和第二测量杆4的相对位置,使第一测头1和第二测头2沿其配合斜面相对滑动,直至测量面良好接触深孔内壁。在同步滑块组的作用下,第一测量杆3和第二测量杆4之间的相对位移与第一测头1和第二测头2之间的相对位移保持一致。通过测量机构读取第一测量杆3和第二测量杆4的轴向位移或者径向位移,其中,测量机构测得的第一测量杆3和第二测量杆4的径向位移,即等于第一测头1与第二测头2的径向位移,而测量机构测得的第一测量杆3和第二测量杆4的轴向本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.内径测量仪,其特征在于,包括第一测量杆(3)、第二测量杆(4)、测头滑块组和同步滑块组,所述第一测量杆(3)和第二测量杆(4)均设有测量端和读数端,第一测量杆(3)和第二测量杆(4)相互平行;所述测头滑块组包括第一测头(1)和第二测头(2),所述第一测头(1)和第二测头(2)外端面均具有测量面,所述第一测头(1)设置于第一测量杆(3)的测量端,所述第二测头(2)设置于第二测量杆(4)的测量端,第一测头(1)与第二测头(2)通过斜面滑动配合;所述同步滑块组包括第一同步滑块(5)和第二同步滑块(6),所述第一同步滑块(5)设置于第一测量杆(3)的读数端,所述第二同步滑块(6)设置于第二测量杆(4)的读数端,第一同步滑块(5)和第二同步滑块(6)通过斜面滑动配合;所述测头滑块组和同步滑块组的斜面方向相同且倾角相等;所述第一测量杆(3)和第二测量杆(4)的读数端设置有用于测量第一测量杆(3)和第二测量杆(4)轴向或者径向相对位移的测量机构。

【技术特征摘要】
1.内径测量仪,其特征在于,包括第一测量杆(3)、第二测量杆(4)、测头滑块组和同步滑块组,所述第一测量杆(3)和第二测量杆(4)均设有测量端和读数端,第一测量杆(3)和第二测量杆(4)相互平行;所述测头滑块组包括第一测头(1)和第二测头(2),所述第一测头(1)和第二测头(2)外端面均具有测量面,所述第一测头(1)设置于第一测量杆(3)的测量端,所述第二测头(2)设置于第二测量杆(4)的测量端,第一测头(1)与第二测头(2)通过斜面滑动配合;所述同步滑块组包括第一同步滑块(5)和第二同步滑块(6),所述第一同步滑块(5)设置于第一测量杆(3)的读数端,所述第二同步滑块(6)设置于第二测量杆(4)的读数端,第一同步滑块(5)和第二同步滑块(6)通过斜面滑动配合;所述测头滑块组和同步滑块组的斜面方向相同且倾角相等;所述第一测量杆(3)和第二测量杆(4)的读数端设置有用于测量第一测量杆(3)和第二测量杆(4)轴向或者径向相对位移的测量机构。2.如权利要求1所述的内径测量仪,其特征在于:所述第一同步滑块(5)上远离第一测量杆(3)的一端设置有第一延长杆(11),所述第二同步滑块(6)远离第二测量杆(4)的一端设置有第二延长杆(12),所述测量机构设置于第一延长杆(11)与第二延长杆(12)之间。3.如权利要求2所述的内径测量仪,其特征在于:所述测量机构是用于测量第一测量杆(3)和第二测量杆(4)轴向相对位移的百分表(17),所述百分表(17)的主体安装于第一延长杆(11)上,百分表(17)的测杆沿第二测量杆(4)轴向布置,测杆的端部与第二延长杆(12)的端面接触配合。4.如权利要求2所述的内径测量仪,其特征在于:所述测量机构是用于测量第一测量杆(3)和第二测量杆(4)径向相对位移的百分表(17),所述百分表(17)的...

【专利技术属性】
技术研发人员:汤达川孔立平姚鹏飞张尚斌戴照宝刘乔
申请(专利权)人:二重德阳重型装备有限公司
类型:新型
国别省市:四川,51

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