A complex electrical impedance measurement method for characterizing the electronic nematic phase of iron-based superconductors, including applying AC voltage to measure the in-plane complex electrical impedance of iron-based superconductors, that is, using a temperature control device to characterize the relationship between the complex electrical impedance and the temperature change of the sample piece, the temperature control formula is: setting the software starting temperature of the temperature control device to 300K, the ending temperature to 5K and cooling to the end The temperature stop time is 125 minutes, and then the sample is cooled with the above settings; after the sample is cooled to 5K, it is evenly heated with 2K / min. Combined with other steps, the measurement method effectively avoids that the existing technology needs to apply pressure when measuring the in-plane resistance of iron-based superconductors, which makes the measurement method cumbersome and inconvenient to operate; it also avoids the defect that the in-plane reactance of iron-based superconductors can not be measured at the same time under the condition of DC voltage (current) and the corresponding diamagnetism can be characterized.
【技术实现步骤摘要】
用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法
本专利技术涉及铁基超导体
,也涉及电阻抗测量
,具体涉及一种用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法。
技术介绍
德国物理学家迈斯纳指出,超导体区别于理想金属导体,除了零电阻外,它还具有另一种独立的特性,即完全抗磁性。超导体一旦进入超导态,外界磁场根本进不去,材料内部磁感应强度为零。同时具有零电阻和抗磁性是判断超导体的双重标准,单凭这两大高超性能,超导就具有一系列强电应用前景。利用零电阻的超导材料替代有电阻的常规金属材料,可以节约输电过程中造成的大量热损耗;可以组建超导发电机、变压器、储能环;可以在较小空间内实现强磁场,从而获得高分辨的核磁共振成像、进行极端条件下的物性研究、发展安全高速的磁悬浮列车等等。但是超导体往往需要非常低的低于其超导临界温度的温度环境来发挥其超导性能,这种低温环境一般依赖于昂贵的液氦来维持,这就极大地增加了超导应用的成本。解决这一问题关键在于寻找更高临界温度的超导体,特别是室温超导体。作为继铜基超导体之后的第二大高温超导家族,铁基超导体具有更加丰富的物理性质和更有潜力的应用价值,铁基超导体是指化合物中含有铁,在低温时具有超导现象,且铁扮演形成超导的主体的材料。2006年日本东京工业大学细野秀雄教授的团队发现第一个以铁为超导主体的化合物LaFeOP,打破以往普遍认定铁元素不利形成超导的误区。铁基超导体和铜基超导体在晶体结构、磁性结构和电子态相图方面均非常类似;但是铁基超导体从电子结构的角度又属于类似二硼化镁那样的多带超导体;其母体更具有金属性,和具有绝缘性的铜氧化物母体 ...
【技术保护点】
1.一种用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,包括:施加交流电压来对铁基超导体的面内复电阻抗进行测量。
【技术特征摘要】
1.一种用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,包括:施加交流电压来对铁基超导体的面内复电阻抗进行测量。2.根据权利要求1所述的用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,在所述施加交流电压来对铁基超导体的面内复电阻抗进行测量之前,还包括如下步骤:步骤1:把铁基超导体单晶材料分别切割成长度方向沿x轴方向的长条状试样和长度方向沿y轴方向的长条状试样,所述长度方向沿x轴方向的长条状试样就作为x轴试样,所述长度方向沿y轴方向的长条状试样就作为y轴试样;步骤2:在x轴试样的两端分别设置两个电极一,并且在y轴试样的两端也分别设置两个电极二;步骤3:在两个电极一上分别设置两个外部导线一,在两个电极二上分别设置两个外部导线二。3.根据权利要求2所述的用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,所述在x轴试样的两端分别设置两个电极一,并且在y轴试样的两端也分别设置两个电极二的方式为:在所述x轴试样的两端和y轴试样的两端均涂上银浆,然后把x轴试样和y轴试样裸露在空气中,接着用红外加热灯对所述x轴试样上的银浆和y轴试样上的银浆进行红外线干燥,在所述x轴试样上干燥后的银浆就在x轴试样的两端分别形成两个电极一,在所述y轴试样上干燥后的银浆就在y轴试样的两端分别形成两个电极二;在两个电极一上分别设置两个外部导线一,在两个电极二上分别设置两个外部导线二的方式为:在两个电极一上分别焊接两根金丝一,该两根金丝一就形成了两根外部导线一,在两个电极二上分别焊接两根金丝二,该两根金丝二就形成了两根外部导线二,所述两个电极一、x轴试样与两根外部导线一就构成了样件一,所述两个电极二、y轴试样与两根外部导线二就构成了样件二。4.根据权利要求2所述的用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,所述施加交流电来对铁基超导体的面内复电阻抗进行测量的方式,包括:用复电用电阻抗分析仪进阻抗谱分析,具体分析步骤如下所示:步骤4-1:对电阻抗分析仪的内部阻抗进行校准归零;步骤4-2:校准归零后,把两根外部导线一分别连接在电阻抗分析仪的两个测试端口;步骤4-3:在室温下对样件一进行多次复电阻抗测量,比较多次测量的复电阻抗数据的相对不确定度是否小于设定的阈值,如果该相对不确定度低于设定的阈值,就跳至步骤4-5中执行;步骤4-4:如果该相对不确定度不低于设定的阈值,就要对该电阻抗分析仪增设电磁屏蔽装置,并返回步骤4-3中执行;步骤4-5:利用控温装置对样件一进行降温;步骤4-6:待样件一降温到终止温度时,设置控温装置的软件的均匀升温的速度然后在该软件的控制下按照所设置的均匀升温的速度来对样件一进行升温,同时电阻抗分析仪对所述样件一进行复电阻抗测量;步骤4-7:对所述样件一升温到设定的温度值就结束控温装置对所述样件一的升温;步骤4-8:把x轴试样从两个电极一中取出,然后直接把两根外部导线一串联起来并分别连接在电阻抗分析仪的两个测试端口,然后再用电阻抗分析仪测量出每个温度点下的两个电极一和两根外部导线一串联下的复电阻抗数据;步骤4-9:用每个温度点下的初始数据一减去该温度点下的背景数据一得到x轴试样在该温度点下的复电阻抗数据,然后对所述y轴试样执行与测量所述x轴试样的复电阻抗数据原理一样的测量方法来得到y轴试样在该温度点下的复电阻抗数据。5.根据权利要求4所述的用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,所述用电阻抗分析仪测量出每个温度点下的两个电极一和两根外部导线一串联下的复电阻抗数据的方法,包括如下步骤:步骤4-8-1:利用控温装置对中间件一进行降温;步骤4-8-2:待中间件一降温到终止温度时,设置控温装置的软件的均匀升温的速度,然后在该软件的控制下按照所设置的该均匀升温的速度来对中间件一进行升温,同时电阻抗分析仪对所述中间件一进行复电阻抗测量;步骤4-8-3:对所述中间件一升温到设定的温度值就结束控温装置对所述中间件一的升温。6.根据权利要求4所述的用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,对所述y轴试样执行与测量所述x轴试样的复电阻抗数据原理一样的测量方法,来得到y轴试样在该温度点下的复电阻抗数据的方法,包括如下步骤:步骤4-9-1:把两根外部导线二分别连接在电阻抗分析仪的两个测试端口;步骤4-9-2:在室温下对样件二进行多次复电阻抗测量,比较多次测量的复电阻抗数据的相对不确定度是否小于设定的阈值,如果该相对不确定度低于设定的阈值,就调至步骤4-9-4中执行;步骤4-9-3:如果该相对不确定度不低于设定的阈值,就要对该电阻抗分析仪增设电磁屏蔽装置,并返回步骤4-9-2中执行;步骤4-9-4:利用控温装置对样件二进行降温;步骤4-9-5:待样件二降温到终止温度时,设置控温装置的软件的均匀升温的速度,然后在该软件的控制下按照所设置的该均匀升温的速度来对样件二进行升温,同时电阻抗分析仪对所述样件二进行复电阻抗测量;步骤4-9-6:对所述样件二升温到设定的温度值就结束控温装置对所述样件二的升温;步骤4-9-7:把y轴试样从两个电极二中取出,然后直接把两根外部导线二串联起来并分别连接在电阻抗分析仪的两个测试端口,然后再用电阻抗分析仪测量出每个温度点下的两个电极二和两根外部导线二串联下的复电阻抗数据;步骤4-9-8:用每个温度点下的初始数据二减去该温度点下的背景数据二,得到y轴试样在该温度点下的复电阻抗数据。7.根据权利要求6所述的用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法,其特征在于,所述用电阻抗分析仪测量出每...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈恺,
申请(专利权)人:南京尚众微电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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