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一种用于表征铁基超导体电子向列相的复电阻抗测量方法，包括施加交流电压来对铁基超导体的面内复电阻抗进行测量，也就是利用控温装置对样件进行表征复电阻抗随温度变化关系，该控温方式为：设置控温装置的软件起始温度为300K、终止温度为5K和均降温到终...
该专利属于南京尚众微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京尚众微电子科技有限公司授权不得商用。

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