杂散光的测定方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种杂散光的测定方法、装置、电子设备及存储介质。其中，方法包括：在图片中定位由杂散光成像的光斑，所述图片为利用光学镜头在设置有光源的暗箱条件下拍摄得到的图片；确定所述光斑至少一个维度的参数值；根据所述至少一个维度的参数值，判断所述光斑是否满足设定的消除条件，得到判断结果；基于所述判断结果，确定所述杂散光为需要消除的杂散光，或为不需要消除的杂散光。

Determination method, device, electronic equipment and storage medium of stray light

【技术实现步骤摘要】
杂散光的测定方法、装置、电子设备及存储介质
本专利技术涉及光学成像
，尤其涉及一种杂散光的测定方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
在拍摄成像过程中，光源发出的光会在光学元器件表面发生反射或散射，产生的杂散光在成像图像中形成大大小小的光斑。针对上述现象，在光学镜头的设计过程中，需要测定出对成像效果存在肉眼可见影响的杂散光，从而基于测定结果对光学镜头的结构或者光学镜片的镀膜进行调整，以消除这部分杂散光，优化光学镜头的成像效果。在对杂散光进行测定时，相关技术需要由人工方式测定出需要消除的杂散光，测定过程耗时长，测定效率低。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供一种杂散光的测定方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决相关技术中对杂散光的测定过程耗时长，测定效率低的问题。本专利技术实施例的技术方案是这样实现的：本专利技术实施例提供一种杂散光的测定方法，包括：在图片中定位由杂散光成像的光斑，所述图片为利用光学镜头在设置有光源的暗箱条件下拍摄得到的图片；确定所述光斑至少一个维度的参数值；根据所述至少一个维度的参数值，判断所述光斑是否满足设定的消除条件，得到判断结果；基于所述判断结果，确定所述杂散光为需要消除的杂散光，或为不需要消除的杂散光。上述方案中，所述确定所述光斑至少一个维度的参数值，包括：确定所述光斑的成像区域的像素信息；根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑至少一个维度的参数值。上述方案中，所述根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑至少一个维度的参数值时，所述测定方法包括：根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，确定所述光斑的亮度均值和亮度最大值。上述方案中，所述根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑至少一个维度的参数值时，所述测定方法包括：根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，确定所述光斑的尺寸。上述方案中，所述根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，确定所述光斑的尺寸，包括：根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，得到每个亮度值对应的像素数量；根据每个亮度值对应的像素数量，确定所述光斑的成像区域中亮度值大于设定阈值的像素总量；根据所述像素总量确定所述光斑的尺寸。上述方案中，所述根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，确定所述光斑的尺寸，包括：根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，在所述光斑的成像区域绘制关于亮度的等高线图；在所述等高线图中确定对应的亮度值满足设定条件的一条等高线；确定所述等高线所围合出的区域内的像素数量；根据确定的像素数量确定所述光斑的尺寸。上述方案中，所述根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑至少一个维度的参数值时，所述测定方法包括：根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑的形状特征；将所述形状特征与设定形状的特征进行匹配；将匹配到的所述设定形状确定为所述光斑的形状。上述方案中，所述根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑至少一个维度的参数值时，所述测定方法包括：确定所述光斑的成像区域中每个像素的RGB值；根据所述RGB值，确定所述光斑的第一比值和第二比值，所述第一比值为所述成像区域的R值均值与G值均值的比值，所述第二比值为所述成像区域的B值均值与G值均值的比值；根据所述第一比值和所述第二比值确定所述光斑的色偏。上述方案中，所述根据所述至少一个维度的参数值，判断所述光斑是否满足设定的消除条件，得到判断结果，包括：将所述至少一个维度的参数值输入至检测模型中，得到输出结果；根据所述输出结果判断所述光斑是否满足设定的消除条件，得到判断结果。本专利技术实施例还提供了一种杂散光的测定装置，包括：定位单元，用于在图片中定位由杂散光成像的光斑，所述图片为利用光学镜头在设置有光源的暗箱条件下拍摄得到的图片；第一确定单元，用于确定所述光斑至少一个维度的参数值；判断单元，用于根据所述至少一个维度的参数值，判断所述光斑是否满足设定的消除条件，得到判断结果；第二确定单元，用于基于所述判断结果，确定所述杂散光为需要消除的杂散光，或为不需要消除的杂散光。本专利技术实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器，其中，所述处理器用于运行所述计算机程序时，执行上述任一杂散光的测定方法的步骤。本专利技术实施例还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一杂散光的测定方法的步骤。本专利技术实施例提供的方案中，基于设置有光源的暗箱条件下拍摄得到的图片进行分析，确定图片中由杂散光成像的光斑至少一个维度的参数值，进而根据光斑至少一个维度的参数值判断导致该光斑成像的杂散光是否需要消除，上述杂散光的测定过程无需依赖人工进行，只需导入图片即可自动分析完成，缩短了杂散光测定过程的耗时，提高了杂散光的测定效率。附图说明图1为本专利技术实施例提供的杂散光的测定方法的实现流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的暗箱的内部结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的0°至40°拍摄角度的拍摄图片示意图；图4为本专利技术实施例提供的25°拍摄角度的拍摄图片示意图；图5为本专利技术实施例提供的实景拍摄图片中杂散光的示意图；图6为本专利技术实施例提供的杂散光的测定方法中确定光斑至少一个维度的参数值的实现流程示意图；图7为本专利技术实施例提供的杂散光的测定方法中确定光斑的尺寸的实现流程示意图；图8为本专利技术另一实施例提供的杂散光的测定方法中确定光斑的尺寸的实现流程示意图；图9为本专利技术实施例提供的杂散光的测定方法中确定光斑的形状的实现流程示意图；图10为本专利技术实施例提供的杂散光的测定方法中确定光斑的色偏的实现流程示意图；图11为本专利技术实施例提供的杂散光的测定方法中判断光斑是否满足设定的消除条件的实现流程示意图；图12为相关技术提供的对杂散光进行测定的示例图；图13为本专利技术实施例提供的杂散光的测定装置的结构示意图；图14为本专利技术实施例电子设备的硬件组成结构示意图。具体实施方式下面结合附图及具体实施例对本专利技术作进一步详细的说明。以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本专利技术实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本专利技术。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本专利技术的描述。需要说明的是，本专利技术实施例所记载的技术方案之间，在不冲突的情况下，可以任意组合。图1示出了本专利技术实施例提供的杂散光的测定方法的实现流程，在本专利技术实施例中，杂散光的测定方法的执行主体可以为终端、服务器等电子设备。参照图1，本专利技术实施例提供的杂散光的测定方法，包括：S101：在图片中定位由杂散光成像的光斑，该图片为利用光学镜头在设置有光源的暗箱条件下拍摄得到的图片。在本专利技术实施例中，利用光学镜头在设置有光源的暗箱条件下拍摄得到图片，其中，暗箱为一密封箱，图2为暗箱的内部结构示意图，从图2可以看出，暗箱的顶部中间位置设置有光源21，底部设置有弧形轨道22，弧形轨道上安放有摄像设备23，在弧形轨道上移动摄像设备，并利用摄像设备中的光学镜头进行拍摄，得到不同拍摄角度下的图片。如图2中示出的，夹角θ即为拍摄角度，在实际应用中，摄像设备可以从正对光源的角度开始拍摄本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种杂散光的测定方法，其特征在于，包括：在图片中定位由杂散光成像的光斑，所述图片为利用光学镜头在设置有光源的暗箱条件下拍摄得到的图片；确定所述光斑至少一个维度的参数值；根据所述至少一个维度的参数值，判断所述光斑是否满足设定的消除条件，得到判断结果；基于所述判断结果，确定所述杂散光为需要消除的杂散光，或为不需要消除的杂散光。

【技术特征摘要】
1.一种杂散光的测定方法，其特征在于，包括：在图片中定位由杂散光成像的光斑，所述图片为利用光学镜头在设置有光源的暗箱条件下拍摄得到的图片；确定所述光斑至少一个维度的参数值；根据所述至少一个维度的参数值，判断所述光斑是否满足设定的消除条件，得到判断结果；基于所述判断结果，确定所述杂散光为需要消除的杂散光，或为不需要消除的杂散光。2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述确定所述光斑至少一个维度的参数值，包括：确定所述光斑的成像区域的像素信息；根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑至少一个维度的参数值。3.根据权利要求2所述的测定方法，其特征在于，所述根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑至少一个维度的参数值时，所述测定方法包括：根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，确定所述光斑的亮度均值和亮度最大值。4.根据权利要求2所述的测定方法，其特征在于，所述根据所述光斑的成像区域的像素信息，确定所述光斑至少一个维度的参数值时，所述测定方法包括：根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，确定所述光斑的尺寸。5.根据权利要求4所述的测定方法，其特征在于，所述根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，确定所述光斑的尺寸，包括：根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，得到每个亮度值对应的像素数量；根据每个亮度值对应的像素数量，确定所述光斑的成像区域中亮度值大于设定阈值的像素总量；根据所述像素总量确定所述光斑的尺寸。6.根据权利要求4所述的测定方法，其特征在于，所述根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，确定所述光斑的尺寸，包括：根据所述光斑的成像区域中每个像素的亮度值，在所述光斑的成像区域绘制关于亮度的等高线图；在所述等高线图中确定对应的亮度值满足设定条件的一条等高线；确定所述等高线所围合出的区域内的像素数量；根据确定的像素数量确定所述光斑的尺寸。7.根据权利要求2...

【专利技术属性】
技术研发人员：林俊国，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44