表面检测方法技术

本发明专利技术的表面检测方法，首先建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型，并且在撷取被测物的被测物超音波图像及被测物光学影像之后，透过比对被测物超音波图像及被测物光学影像两种结果的方式达到表面检测目的，不但可以获得准确的检测结果，更可大幅缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程，以相对更为积极、可靠的手段，避免问题产品连续性产出，以及监控生产线设备的妥善率。

【技术实现步骤摘要】
表面检测方法
本专利技术有关一种检测技术，特别是指一种可以缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程需求的表面检测方法。
技术介绍
在现今的加工制造领域中，对于产品表面质量检测极为重要，除可藉以检测产品的加工完成度，藉以维护产品的加工质量外，更可藉由产品表面所产生的瑕疵，进一步发现相关的加工设备是否发生异常或耗损。传统对于产品的表面检测方法多采目视检测方式，一般情况下，质检人员在以目测方式检查产品上、下表面的表面状态之后，即需做出相关的检测判断，其检测结果往往因人而异，且偶有因为落检而无法实时反映产品加工质量的全貌。随着科技的演进，数位影像辨视能力越来越进步，相关的自动表面检测系统孕育而生，已知透过光学仪器(如红外线扫描仪)扫描的方式，检测产品表面瑕疵；由于光学扫描以点构成线再构成面的方式达到检验目的，必须耗费较长的时间，相对拉长随机采样的间隔，相对较不符合现今自动化连续加工制程需求。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术即在提供一种可以缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程需求的表面检测方法。本专利技术的表面检测方法，基本上包括下列步骤：(a)建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型；(b)设定检测项目的范围及比对值，依照所需的检测项目，透过软体于该至少一超音波图像模型当中设定至少一与检测项目对应的超音波图像检测范围及超音波比对值，以及利用软体于该至少一光学影像模型当中设定至少一与检测项目对应的光学影像检测范围及光学比对值；(c)提供一被测物；(d)撷取该被测物的被测物超音波图像及被测物光学影像，利用至少一超音波成像设备撷取该被测物的被测物超音波图像，以及利用至少一数位相机撷取该被测物的被测物光学影像；(e)比对被测物超音波图像及被测物光学影像，透过软体依照所设定的超音波图像检测范围及超音波比对值，将该被测物超音波图像的数位图像资讯与该至少一超音波图像模型的数位图像资讯进行比对，以及透过软体依照所设定的光学影像检测范围及光学比对值，将该被测物光学影像的数位影像资讯与该至少一光学影像模型的数位影像资讯进行比对；(f)输出比对结果。据以，本专利技术的表面检测方法，可透过比对被测物超音波图像及被测物光学影像两种结果的方式完达到表面检测的目的，不但可以获得准确的检测结果，更可大幅缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程。依据上述技术特征，该至少一超音波图像模型或该至少一光学影像模型可以透过软体建置而成；该超音波图像模型及该光学影像模型相对应于该被测物。依据上述技术特征，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像之后，完成该至少一超音波图像模型。依据上述技术特征，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像之后，完成该至少一光学影像模型。依据上述技术特征，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像，透过软体修饰完成该至少一超音波图像模型。依据上述技术特征，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像，透过软体修饰完成该至少一光学影像模型。该表面检测方法，在比对被测物超音波图像及被测物光学影像时，进一步将该至少一超音波图像模型与被测物光学影像重叠的方式，以及将该至少一光学影像模型与被测物超音波图像重叠的方式，进行交叉比对。该被测物可为一停滞于一加工生产在线的产品或半成品。该被测物为一于一加工生产在线移动的产品或半成品。该被测物为一自一加工生产在线移出的产品或半成品。该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一显示装置。该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一控制装置。该表面检测方法，透过至少一传输介面，将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面所连接的至少一显示装置及至少一控制装置。本专利技术所揭露的表面检测方法，主要透过比对被测物超音波图像及被测物光学影像两种结果的方式完达到表面检测目的，不但可以获得准确的检测结果，更可大幅缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程，以相对更为积极、可靠的手段，避免问题产品连续性产出，以及监控生产线设备的妥善率。附图说明图1为本专利技术的基本流程图。图2为本专利技术可能实施的被测物超音波图像撷取方式及被测物光学影像撷取方式示意图。图3为本专利技术当中被测物超音波图像与超音波图像模型的比对状态示意图。图号说明：S1(a)步骤S2(b)步骤S3(c)步骤S4(d)步骤S5(e)步骤S6(f)步骤A1超音波图像模型A2被测物超音波图像10被测物20生产线30超音波成像设备40数位相机50软体60传输介面71显示装置72控制装置。具体实施方式本专利技术主要提供一种可以缩短检测时间，尤适合应用自动化连续加工制程需求的表面检测方法，请同时配合参照图1及图2所示，本专利技术的表面检测方法，基本上至少包括下列步骤。(a)步骤S1建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型；原则上，该至少一超音波图像模型或该至少一光学影像模型可以透过软体建置而成；该超音波图像模型及该光学影像模型相对应于该被测物。(b)步骤S2设定检测项目的范围及比对值，依照所需的检测项目，透过软体于该至少一超音波图像模型当中设定至少一与检测项目对应的超音波图像检测范围及超音波比对值；利用软体于该至少一光学影像模型当中设定至少一与检测项目对应的光学影像检测范围及光学比对值。(c)步骤S3提供一被测物10；于实施时，该被测物可以为一停滞于一加工生产在线的产品或半成品；该被测物10亦可以如图所示，为一于一加工生产线20上移动的产品或半成品；当然，该被测物可以为一自一加工生产在线移出的产品或半成品。(d)步骤S4撷取该被测物10的被测物超音波图像及被测物光学影像；可如图所示，利用至少一超音波成像设备30撷取该被测物10的被测物超音波图像，以及利用至少一数位相机40撷取该被测物10的被测物光学影像。(e)步骤S5比对被测物超音波图像及被测物光学影像，透过软体50依照所设定的超音波图像检测范围及超音波比对值，将该被测物超音波图像的数位图像资讯与该至少一超音波图像模型的数位图像资讯进行比对；以及，透过软体50依照所设定的光学影像检测范围及光学比对值，将该被测物光学影像的数位影像资讯与该至少一光学影像模型的数位影像资讯进行比对。(f)步骤S6输出比对结果；可透过至少一传输介面60将被测物超音波图像比对结果及被测物光学影像比对结果输出至该至少一传输介面60所连接的装置；于实施时，可透过该至少一传输介面60连接至少一显示装置71，或者透过该至少一传输介面60连接至少一控制装置72；当然，亦可如图所示，透过该至少一传输介面60连接至少一显示装置71及至少一控制装置72，除可利用显示装置71实时呈现比对结果之外，更可利用控制装置72依照比对结果，实时对检测有瑕疵的被测物10加以处置(例如移出生产线或加以剃除)。本专利技术的表面检测方法，在比对被测物超音波图像时，可如图3所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种表面检测方法，其特征在于，至少包括下列步骤：(a)建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型；(b)设定检测项目的范围及比对值，依照所需的检测项目，透过软体于该至少一超音波图像模型当中设定至少一与检测项目对应的超音波图像检测范围及超音波比对值，以及利用软体于该至少一光学影像模型当中设定至少一与检测项目对应的光学影像检测范围及光学比对值；(c)提供一被测物；(d)撷取该被测物的被测物超音波图像及被测物光学影像，利用至少一超音波成像设备撷取该被测物的被测物超音波图像，以及利用至少一数位相机撷取该被测物的被测物光学影像；(e)比对被测物超音波图像及被测物光学影像，透过软体依照所设定的超音波图像检测范围及超音波比对值，将该被测物超音波图像的数位图像资讯与该至少一超音波图像模型的数位图像资讯进行比对，以及透过软体依照所设定的光学影像检测范围及光学比对值，将该被测物光学影像的数位影像资讯与该至少一光学影像模型的数位影像资讯进行比对；(f)输出比对结果。

【技术特征摘要】
1.一种表面检测方法，其特征在于，至少包括下列步骤：(a)建立至少一超音波图像模型及至少一光学影像模型；(b)设定检测项目的范围及比对值，依照所需的检测项目，透过软体于该至少一超音波图像模型当中设定至少一与检测项目对应的超音波图像检测范围及超音波比对值，以及利用软体于该至少一光学影像模型当中设定至少一与检测项目对应的光学影像检测范围及光学比对值；(c)提供一被测物；(d)撷取该被测物的被测物超音波图像及被测物光学影像，利用至少一超音波成像设备撷取该被测物的被测物超音波图像，以及利用至少一数位相机撷取该被测物的被测物光学影像；(e)比对被测物超音波图像及被测物光学影像，透过软体依照所设定的超音波图像检测范围及超音波比对值，将该被测物超音波图像的数位图像资讯与该至少一超音波图像模型的数位图像资讯进行比对，以及透过软体依照所设定的光学影像检测范围及光学比对值，将该被测物光学影像的数位影像资讯与该至少一光学影像模型的数位影像资讯进行比对；(f)输出比对结果。2.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该至少一超音波图像模型或该至少一光学影像模型透过软体建置而成；该超音波图像模型及该光学影像模型相对应于该被测物。3.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一超音波成像设备撷取该实体模型的超音波图像之后，完成该至少一超音波图像模型。4.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一对应于被测物的实体模型之后，利用至少一数位相机撷取该实体模型的光学影像之后，完成该至少一光学影像模型。5.如权利要求1所述的表面检测方法，其特征在于，该表面检测方法，在完成一...

【专利技术属性】
技术研发人员：林志杰，王献国，
申请(专利权)人：高思设计股份有限公司，林志杰，王献国，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71