一种QFN芯片的自动测试印字收料设备制造技术

本发明专利技术公开了一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，包括设备柜，所述设备柜顶端设置有转盘站，且设备柜顶端依次设置有沿转盘站外圆周分布的振动盘入料站、转向站、测试站、镭射站、不良品排出站、封装卷盘式收料机构和tray盘式收料机构，所述设备柜顶端靠近转盘站与镭射站之间位置处设有镭射打标转盘，所述设备柜顶端靠近转向站和振动盘之间位置处设有用于检测芯片方向的影像检测机构，所述设备柜顶端靠近测试站和镭射站之间位置处设有第一打标检测机构。本发明专利技术自动化程度高，节省人力，提高工作效率，操作简便，减少操作工序，提高了生产效率，出料方式多样，满足不同生产需要。

【技术实现步骤摘要】
一种QFN芯片的自动测试印字收料设备
本专利技术涉及半导体行业
，尤其涉及一种QFN芯片的自动测试印字收料设备。
技术介绍
QFN(QuadFlatNo-leadPackage，方形扁平无引脚封装)，表面贴装型封装之一。现在多称为LCC。QFN是日本电子机械工业会规定的名称。封装四侧配置有电极触点，由于无引脚，贴装占有面积比QFP小，高度比QFP低。QFN芯片制品生产工艺复杂、生产设备昂贵、测试参数多，收料模式多，现有的QFN芯片印字收料设备，效率不高、生产周期长、生产成本高，自动化程度不高，所以现提出一种QFN芯片的自动测试印字收料设备。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备。为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，包括设备柜，所述设备柜顶端设置有转盘站，且设备柜顶端依次设置有沿转盘站外圆周分布的振动盘入料站、转向站、测试站、镭射站、不良品排出站、封装卷盘式收料机构和tray盘式收料机构，所述设备柜顶端靠近转盘站与镭射站之间位置处设有镭射打标转盘，所述设备柜顶端靠近转向站和振动盘之间位置处设有用于检测芯片方向的影像检测机构，所述设备柜顶端靠近测试站和镭射站之间位置处设有第一打标检测机构，所述设备柜顶端靠近镭射站与镭射打标转盘之间位置处设有第二打标检测机构，所述设备柜顶端靠近镭射站与转盘站之间位置处设有镭射打标转盘。进一步的，所述转盘站包括转盘，且转盘侧壁边缘位置处固定设置有等距离呈环形分布的真空吸料笔，转盘底端设有驱动其旋转的转盘驱动马达，所述转盘驱动马达底端设有支架，且支架通过螺栓与设备柜形成固定连接，所述转盘站顶端套设有防护罩，所述防护罩顶端连接有L形支撑架，且L形支撑架远离防护罩一端与设备柜顶端通过螺栓固定。进一步的，所述振动盘入料站包括振动盘座，且所述振动盘座顶端一侧设有振动盘，所述振动盘座顶端设有导料盘，所述导料盘侧壁边缘位置处设有呈环形分布的环形导料槽，所述导料盘侧壁边缘沿切线方向设置有导料槽，所述导料槽一端与转盘相靠近，且导料槽另外一端与环形导料槽相连通。进一步的，所述转向站包括用于与设备柜固定连接的转向站支架，且转向站支架一侧设有转向驱动马达，所述转向驱动马达的输出轴连接有转向轴，且转向轴连接有导模架。进一步的，所述测试站的数量为N个，且N为正整数，所述测试站包括用于与设备柜固定连接的测试站支架，且测试站支架顶端一侧设有引脚插座，且引脚插座通过信号线连接有开尔文测试仪。进一步的，所述镭射打标转盘包括用于与设备柜连接的打标盘支架，且打标盘支架一侧设有打标盘驱动马达，所述打标盘驱动马达输出轴固定连接有打标盘。进一步的，所述镭射站包括用于与设备柜连接的镭射站支架，且镭射站支架顶端固定设置有倾斜设置的镭射器，所述镭射器优选为费雷斯镭射器。进一步的，所述第一打标检测机构包括固定设置在设备柜顶端的可调支架，且可调支架一侧设有光源发生器和影像传感器。进一步的，所述第二打标检测机构包括与设备柜顶端固定连接的基座，且基座顶端固定设置有D影像检测器。进一步的，所述不良品排出站一侧设有与转盘站相适配的进料孔，且不良品排出站内设有入料盒，所述不良品排出站内设有连通入料盒和进料孔的滑道，所述不良品排出站数量为N个，且N为正整数。本专利技术的有益效果为：与现有技术相比，该设备可以对QFN芯片进行自动测试印字，自动化程度高，节省人力，提高工作效率，操作简便，减少操作工序，提高了生产效率，出料方式多样，满足不同生产需要。附图说明图1为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备去除防护罩时的俯视结构示意图；图2为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备的俯视结构示意图；图3为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备的立体结构示意图；图4为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备tray盘式收料机构的结构示意图；图5为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备封装卷盘式收料机构的结构示意图；图6为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备振动盘入料站的结构示意图；图7为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备转盘站的结构示意图；图8为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备转向站的结构示意图；图9为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备测试站的结构示意图；图10为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备镭射打标转盘的结构示意图；图11为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备镭射站的结构示意图；图12为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备设备柜的结构示意图；图13为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备第二打标检测机构的结构示意图；图14为本专利技术提出的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备不良品排出站的结构示意图。图中：1振动盘入料站、1-1振动盘、1-2导料盘、1-3导料槽、1-4振动盘座、2转盘站、2-1真空吸料笔、2-2转盘、2-3转盘驱动马达、2-4支架、3转向站、3-1转向站支架、3-2转向轴、3-3转向驱动马达、4测试站、4-1测试站支架、4-2引脚插座、5镭射打标转盘、5-1打标盘、5-2打标盘驱动马达、5-3打标盘支架、6镭射站、6-1镭射站支架、6-2镭射器、7第一打标检测机构、7-1可调支架、7-2光源发生器、7-3影像传感器、8第二打标检测机构、8-13D影像检测器、8-2基座、9不良品排出站、9-1进料孔、9-2入料盒、10封装卷盘式收料机构、11tray盘式收料机构、12设备柜、13L形支撑架、14防护罩。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。参照图1-14，包括设备柜12，设备柜12顶端一侧外壁设有振动盘入料站1，且设备柜12顶端外壁靠近振动盘入料站1位置处设有转盘站2，振动盘入料站1包括振动盘座1-4，且振动盘座1-4顶端一侧设有振动盘1-1，振动盘座1-4顶端设有导料盘1-2，导料盘1-2侧壁边缘位置处设有呈环形分布的环形导料槽，导料盘1-2侧壁边缘沿切线方向设置有导料槽1-3，导料槽1-3一端与转盘2-2相靠近，且导料槽1-3另外一端与环形导料槽相连通，QFN芯片由振动盘入料站1进入，经过振动盘入料站1选料，由导料槽1-3排出进入到转盘站2中，转盘站2包括转盘2-2，且转盘2-2侧壁边缘位置处固定设置有等距离呈环形分布的真空吸料笔2-1，转盘2-2底端设有驱动其旋转的转盘驱动马达2-3，转盘驱动马达2-3底端设有支架2-4，且支架2-4通过螺栓与设备柜12形成固定连接，转盘站2顶端套设有防护罩14，防护罩14顶端连接有L形支撑架13，且L形支撑架13远离防护罩14一端与设备柜12顶端通过螺栓固定，通过真空吸料笔2-1对QFN芯片进行吸附固定，设备柜12顶端外壁靠近转盘站2边缘位置处设有用于实现芯片转向的转向站3，在转向站3与振动盘入料站1之间位置处设有影像检测机构，影像检测机构识别QFN芯片的方向，当QFN芯片转移到转向站3时，转向站3作用，对QFN芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，包括设备柜(12)，其特征在于，所述设备柜(12)顶端设置有转盘站(2)，且设备柜(12)顶端依次设置有沿转盘站(2)外圆周分布的振动盘入料站(1)、转向站(3)、测试站(4)、镭射站(6)、不良品排出站(9)、封装卷盘式收料机构(10)和tray盘式收料机构(11)，所述设备柜(12)顶端靠近转盘站(2)与镭射站(6)之间位置处设有镭射打标转盘(5)，所述设备柜(12)顶端靠近转向站(3)和振动盘之间位置处设有用于检测芯片方向的影像检测机构，所述设备柜(12)顶端靠近测试站(4)和镭射站(6)之间位置处设有第一打标检测机构(7)，所述设备柜(12)顶端靠近镭射站(6)与镭射打标转盘(5)之间位置处设有第二打标检测机构(8)，所述设备柜(12)顶端靠近镭射站(6)与转盘站(2)之间位置处设有镭射打标转盘(5)。

【技术特征摘要】
1.一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，包括设备柜(12)，其特征在于，所述设备柜(12)顶端设置有转盘站(2)，且设备柜(12)顶端依次设置有沿转盘站(2)外圆周分布的振动盘入料站(1)、转向站(3)、测试站(4)、镭射站(6)、不良品排出站(9)、封装卷盘式收料机构(10)和tray盘式收料机构(11)，所述设备柜(12)顶端靠近转盘站(2)与镭射站(6)之间位置处设有镭射打标转盘(5)，所述设备柜(12)顶端靠近转向站(3)和振动盘之间位置处设有用于检测芯片方向的影像检测机构，所述设备柜(12)顶端靠近测试站(4)和镭射站(6)之间位置处设有第一打标检测机构(7)，所述设备柜(12)顶端靠近镭射站(6)与镭射打标转盘(5)之间位置处设有第二打标检测机构(8)，所述设备柜(12)顶端靠近镭射站(6)与转盘站(2)之间位置处设有镭射打标转盘(5)。2.根据权利要求1所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述转盘站(2)包括转盘(2-2)，且转盘(2-2)侧壁边缘位置处固定设置有等距离呈环形分布的真空吸料笔(2-1)，转盘(2-2)底端设有驱动其旋转的转盘驱动马达(2-3)，所述转盘驱动马达(2-3)底端设有支架(2-4)，且支架(2-4)通过螺栓与设备柜(12)形成固定连接，所述转盘站(2)顶端套设有防护罩(14)，所述防护罩(14)顶端连接有L形支撑架(13)，且L形支撑架(13)远离防护罩(14)一端与设备柜(12)顶端通过螺栓固定。3.根据权利要求2所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，其特征在于，所述振动盘入料站(1)包括振动盘座(1-4)，且所述振动盘座(1-4)顶端一侧设有振动盘(1-1)，所述振动盘座(1-4)顶端设有导料盘(1-2)，所述导料盘(1-2)侧壁边缘位置处设有呈环形分布的环形导料槽，所述导料盘(1-2)侧壁边缘沿切线方向设置有导料槽(1-3)，所述导料槽(1-3)一端与转盘(2-2)相靠近，且导料槽(1-3)另外一端与环形导料槽相连通。4.根据权利要求3所述的一种QFN芯片的自动测试印字收料设备...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾兵，
申请(专利权)人：上海赢朔电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31