一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置及其使用方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置，包括：一固定座；一平台，其通过一用于调节其前后位置的平台调节螺丝安装在固定座上；两个分别位于平台的正上方和正下方的第一测针，每个第一测针分别通过一用于调节其纵向位置的纵向调节螺丝安装在固定座上；一安装在固定座上且位于平台的左侧或右侧的第二测针，且该第二测针通过一连接在其后端的第一精调螺丝调节横向位置；以及一安装在固定座上的测量表，且该测量表与一个第一测针相连，另一个第一测针的后端连接有一第二精调螺丝。本发明专利技术通过第一测针和第二测针代替圆柱头进行测量，同时通过两步校准，确定外弧面的弧面最高点和外径最大点，进一步确保测量准确性。

A measuring device for measuring the size of plunger ring and its application

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置及其使用方法
本专利技术涉及一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置及其使用方法。
技术介绍
柱塞环在生产、使用等阶段时往往需要测量其外径尺寸，目前常规是采用圆柱头进行测量，在进行测量时柱塞环的基准面往往是远离平台的，这会导致测量不精确，同时柱塞环并非常规的中空圆柱结构，其具有一外弧面，柱塞环的外径尺寸的测量，必须先确定其外弧面的弧面最高点，目前在测量时往往对此有所忽略或在进行弧面最高点的寻找时遇到困难，导致测量不精确。
技术实现思路
本专利技术的目的，就是为了解决上述问题而提供了一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置及其使用方法，通过第一测针和第二测针代替圆柱头进行测量，测量结果更精确，同时通过两步校准，确定外弧面的弧面最高点和外径最大点，从而在测量柱塞环外径时，进一步确保测量准确性。本专利技术的目的是这样实现的：本专利技术的一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置，包括：一固定座；一平台，其通过一用于调节其前后位置的平台调节螺丝安装在固定座上；两个分别位于平台的正上方和正下方的第一测针，每个第一测针分别通过一用于调节其纵向位置的纵向调节螺丝安装在固定座上；一安装在固定座上且位于平台的左侧或右侧的第二测针，且该第二测针通过一连接在其后端的第一精调螺丝调节横向位置；以及一安装在固定座上的测量表，且该测量表与一个第一测针相连，另一个第一测针的后端连接有一第二精调螺丝。上述的一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置，其中，平台为圆形平台。上述的一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置的使用方法，包括以下步骤：步骤一：调整平台的位置：选取一位置标准件，将位置标准件置于平台上，并使该位置标准件的基准面紧贴平台，通过纵向调节螺丝和第二精调螺丝调节第一测针的纵向位置，同时通过第一精调螺丝调节第二测针的横向位置，使第一测针和第二测针紧贴位置标准件的外弧面，随后通过平台调节螺丝调整平台的前后位置，并观察测量表的读数，当读数为最大值时，锁紧平台调节螺丝，此时，第一测针与位置标准件的外弧面的弧面最高点接触；步骤二：调整第二测针的位置：取下步骤一中位于平台上的位置标准件，选取一外径标准件，将外径标准件置于平台上，并使该外径标准件的基准面紧贴平台，通过第一精调螺丝调节第二测针的横向位置，从而调节外径标准件的横向位置，并观察测量表的读数，当读数为最大值时，锁紧第一精调螺丝，此时，两个第一测针之间距离为外径标准件的最大直径；步骤三：测量柱塞环的外径尺寸：取下步骤二中位于平台上的外径标准件，将需要测量的柱塞环的基准面紧贴平台，并将柱塞环紧贴第二测针和两个第一测针，此时，测量表上的读数为柱塞环的外径尺寸。本专利技术用于测量柱塞环尺寸的测量装置及其使用方法，具有以下有益效果：1.通过第一测针和第二测针代替圆柱头进行测量，测量结果更精确；2.通过两步校准，确定外弧面的弧面最高点和外径最大点，从而在测量柱塞环外径时，进一步确保测量准确性；3.在进行校准和测量时，均将基准面紧贴平台，保证测量准确性；4.通过纵向调节螺丝和第二精调螺丝调整第一测针的纵向位置，通过第一精调螺丝调节第二测针的横向位置，使第一测针和第二测针位置更精确。附图说明图1是本专利技术的一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置的结构示意图；图2是本专利技术的一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置的左视图。具体实施方式下面将结合附图，对本专利技术作进一步说明。请参阅图1至图2，图中示出了一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置，包括：一固定座1；一平台3，其通过一用于调节其前后位置的平台调节螺丝2安装在固定座上1；两个分别位于平台3的正上方和正下方的第一测针4，每个第一测针4分别通过一用于调节其纵向位置的纵向调节螺丝41安装在固定座1上；一安装在固定座1上且位于平台3的左侧的第二测针5，且该第二测针5通过一连接在其后端的第一精调螺丝51调节横向位置；以及一安装在固定座1上的测量表6，且该测量表6与一个第一测针4相连，另一个第一测针4的后端连接有一第二精调螺丝42，用于二次精调该第一测针4的纵向位置；平台3为圆形平台；一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置的使用方法，包括以下步骤：步骤一：调整平台3的位置：选取一位置标准件(图中未示)，将位置标准件置于平台3上，并使该位置标准件的基准面紧贴平台3，通过纵向调节螺丝41和第二精调螺丝42调节第一测针4的纵向位置，同时通过第一精调螺丝51调节第二测针5的横向位置，使第一测针4和第二测针5紧贴位置标准件的外弧面，随后通过平台调节螺丝2调整平台3的前后位置，并观察测量表6的读数，当读数为最大值时，锁紧平台调节螺丝2，此时，第一测针4与位置标准件的外弧面的弧面最高点接触；步骤二：调整第二测针5的位置：取下步骤一中位于平台3上的位置标准件，选取一外径标准件(图中未示)，将外径标准件置于平台3上，并使该外径标准件的基准面紧贴平台3，通过第一精调螺丝51调节第二测针5的横向位置，从而调节外径标准件的横向位置，并观察测量表6的读数，当读数为最大值时，锁紧横向调节螺丝51，此时，两个第一测针4之间距离为外径标准件的最大直径；步骤三：测量柱塞环7的外径尺寸：取下步骤二中位于平台3上的外径标准件，将需要测量的柱塞环7的基准面紧贴平台，并将柱塞环紧贴第二测针5和两个第一测针4，此时，测量表6上的读数为柱塞环的外径尺寸。本专利技术通过第一测针4和第二测针5代替常规的圆柱头进行测量，接触点更小，测量结果更精确；通过步骤一和步骤二进行两步校准，确定外弧面的弧面最高点和外径最大点，从而在测量柱塞环7外径时，进一步确保测量准确性；在进行校准和测量时，均将位置标准件、外径标准件和柱塞环7的基准面紧贴平台3，保证测量准确性；通过纵向调节螺丝41和第二精调螺丝42调整第一测针4的纵向位置，通过第一精调螺丝51调节第二测针5的横向位置，使第一测针4和第二测针5位置更精确。以上实施例仅供说明本专利技术之用，而非对本专利技术的限制，有关
的技术人员，在不脱离本专利技术的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，因此所有等同的技术方案也应该属于本专利技术的范畴，应由各权利要求所限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：一固定座；一平台，其通过一用于调节其前后位置的平台调节螺丝安装在所述固定座上；两个分别位于所述平台的正上方和正下方的第一测针，每个所述第一测针分别通过一用于调节其纵向位置的纵向调节螺丝安装在所述固定座上；一安装在所述固定座上且位于所述平台的左侧或右侧的第二测针，且该第二测针通过一连接在其后端的第一精调螺丝调节横向位置；以及一安装在所述固定座上的测量表，且该测量表与一个所述第一测针相连，另一个所述第一测针的后端连接有一第二精调螺丝。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：一固定座；一平台，其通过一用于调节其前后位置的平台调节螺丝安装在所述固定座上；两个分别位于所述平台的正上方和正下方的第一测针，每个所述第一测针分别通过一用于调节其纵向位置的纵向调节螺丝安装在所述固定座上；一安装在所述固定座上且位于所述平台的左侧或右侧的第二测针，且该第二测针通过一连接在其后端的第一精调螺丝调节横向位置；以及一安装在所述固定座上的测量表，且该测量表与一个所述第一测针相连，另一个所述第一测针的后端连接有一第二精调螺丝。2.如权利要求1所述的一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置，其特征在于，所述平台为圆形平台。3.如权利要求1所述的一种用于测量柱塞环尺寸的测量装置的使用方法，其特征在于，所述测量装置的使用方法包括以下步骤：步骤一：调整所述平台的位置：选取一位置标准件，将所述位置标准件置于所述平台上，并使该位置标准件的基准面紧贴所述平台，通过所述纵向调节螺丝和第二精调螺丝调节所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡东平，任卓道，
申请(专利权)人：上海摩虹轴承有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31