一种高精度光学引导局部成像方法技术

本发明专利技术公开了一种高精度光学引导局部成像方法，包括成像相机、成像镜头、光轴平移光路组件用于拍摄定位工件；方法包括如下步骤：（1）调整成像相机的像素量和分辨率，使成像相机采用低像素量/低分辨率拍摄定位工件，同时保证拍到定位工件所有的工件特征点；（2）调整成像相机和成像镜头，提高定位工件的工件特征点的范围内的图像分辨率；（3）调整光轴平移光路组件，得到成像局部区域及成像无效区域，屏蔽掉两个工件特征点之间的成像无效区域成像到成像相机中；（4）将工件特征点的局部区成像到成像相机，使得工件特征点局部高分辨率成像，提高了定位精度；（5）去除无效区域成像而降低总像素量，得到最终成像，提高了传输与图像处理速度。

A high precision optical guided local imaging method

【技术实现步骤摘要】
一种高精度光学引导局部成像方法
本专利技术涉及光伏太阳能
，具体为一种高精度光学引导局部成像方法，其主要应用于需要光学局部成像定位的场合，如光伏叠瓦串焊机，硅片/电池片激光划线机，光伏丝网印刷机，串焊机等。
技术介绍
光学成像引是用相机拍摄工件得到工件图片，通过算法计算得到工件特征点所在的位置坐标从而引导机械动作的一种方法，拍摄视野与相机的像素质个数比值决定了定位的精度。当多个特征点所在位置间距较大时，拍摄视野大定位精度降低。在相同的视野情况下，高精度需要高像素量的相机导致成本高。高像素量导到图像传输与处理时间变长，不利于高速用应场合。相机技术上提高像素量有限，限制工件特征点的定位精度提高。
技术实现思路
为了克服上述问题，本专利技术提供一种高精度光学引导局部成像方法。本专利技术的技术方案是提供一种高精度光学引导局部成像方法，其特征在于，包括成像相机、成像镜头、光轴平移光路组件用于拍摄定位工件；所述成像方法包括如下步骤：（1）调整成像相机的像素量和分辨率，使成像相机采用低像素量/低分辨率拍摄所述定位工件，同时保证拍到所述定位工件所有的工件特征点；（2）调整所述成像相机和所述成像镜头，提高所述定位工件的工件特征点的范围内的图像分辨率；（3）调整所述光轴平移光路组件，得到成像局部区域及成像无效区域，屏蔽掉两个工件特征点之间的所述成像无效区域成像到所述成像相机中；（4）将工件特征点的局部区成像到所述成像相机，使得工件特征点局部高分辨率成像，提高了定位精度；（5）去除无效区域成像而降低总像素量，得到最终成像提高了传输与图像处理速度。进一步的，所述成像相机内包括有相机传感器。进一步的，所述光轴平移光路组件包括有平行反光镜或斜方棱镜。进一步的，所述步骤（3）中，调整所述光轴平移光路组件包括平移后光轴中心及平移前光轴中心。本专利技术的有益效果是：本专利技术的一种高精度光学引导局部成像方法具有如下优点：①本专利技术的成像方法采用多特征局部成像，从而使相机视野变小，提高了定位精度；②本专利技术的成像方法消除多特征点之间有无效区域在相机中的无效成像，减小了图像大小，提高了图像的传输和处理速度；③本专利技术的成像方法在相同视野下，对相机的像素总量要求降低，利于成本下降；④本专利技术的成像方法有保证定位精度时图像的总像素量下降，提高了传输与处理时间，更适当高速运行；在现有的相机技术上，可得更高的光学引导定位精度。附图说明图1是本专利技术的成像方法的布局示意图；图2是本专利技术的成像方法的布局分解示意图。附图标记：成像相机1、相机传感器11、成像镜头2、光轴平移光路组件3、平行反光镜31、斜方棱镜32、工件特征点4、成像局部区域5、成像无效区域6、定位工件7。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例，进一步阐述本专利技术。如图1和图2所示，本专利技术的一种高精度光学引导局部成像方法，其特征在于，包括成像相机1、成像镜头2、光轴平移光路组件3用于拍摄定位工件7；所述成像方法包括如下步骤：（1）调整成像相机1的像素量和分辨率，使成像相机1采用低像素量/低分辨率拍摄所述定位工件7，同时保证拍到所述定位工件7所有的工件特征点4；（2）调整所述成像相机1和所述成像镜头2，提高所述定位工件7的工件特征点4的范围内的图像分辨率；（3）调整所述光轴平移光路组件3，调整所述光轴平移光路组件3包括平移后光轴中心及平移前光轴中心，得到成像局部区域5及成像无效区域6，成像无效区域6不成像到相机中，屏蔽掉两个工件特征点4之间的所述成像无效区域6成像到所述成像相机1中；（4）将工件特征点4的局部区成像到所述成像相机1，使得工件特征点4局部高分辨率成像，提高了定位精度；（5）去除无效区域成像而降低总像素量，得到最终成像提高了传输与图像处理速度。本专利技术一个较佳实施例中，所述成像相机1内包括有相机传感器11。本专利技术一个较佳实施例中，所述光轴平移光路组件3包括有平行反光镜31或斜方棱镜32。以上实施例仅为本专利技术其中的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本专利技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本专利技术的保护范围。因此，本专利技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度光学引导局部成像方法，其特征在于，包括成像相机、成像镜头、光轴平移光路组件用于拍摄定位工件；所述成像方法包括如下步骤：（1）调整成像相机的像素量和分辨率，使成像相机采用低像素量/低分辨率拍摄所述定位工件，同时保证拍到所述定位工件所有的工件特征点；（2）调整所述成像相机和所述成像镜头，提高所述定位工件的工件特征点的范围内的图像分辨率；（3）调整所述光轴平移光路组件，得到成像局部区域及成像无效区域，屏蔽掉两个工件特征点之间的所述成像无效区域成像到所述成像相机中；（4）将工件特征点的局部区成像到所述成像相机，使得工件特征点局部高分辨率成像；（5）去除无效区域成像而降低总像素量，得到最终成像。

【技术特征摘要】
1.一种高精度光学引导局部成像方法，其特征在于，包括成像相机、成像镜头、光轴平移光路组件用于拍摄定位工件；所述成像方法包括如下步骤：（1）调整成像相机的像素量和分辨率，使成像相机采用低像素量/低分辨率拍摄所述定位工件，同时保证拍到所述定位工件所有的工件特征点；（2）调整所述成像相机和所述成像镜头，提高所述定位工件的工件特征点的范围内的图像分辨率；（3）调整所述光轴平移光路组件，得到成像局部区域及成像无效区域，屏蔽掉两个工件特征点之间的所述成像无效区域成像到所述成像相机中；（4）将...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐红帅，徐康宁，王雅，韦孟锑，
申请(专利权)人：威米深智苏州工业技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32