电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统制造方法及图纸

电磁波检测装置(10)具有：照射部(11)、第一检测部(17)、存储部(19)、以及控制部(20)。照射部(11)照射电磁波。第一检测部(17)具有多个检测元件。多个检测元件根据照射位置来检测照射于对象(ob)的电磁波的反射波。存储部(19)存储包括发射的电磁波的发射方向的第一关联信息。控制部(20)基于多个检测元件中的检测出电磁波的反射波的检测元件的位置来更新第一关联信息。

Electromagnetic Wave Detection Device, Program and Electromagnetic Wave Detection System

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统相关申请的相互参照本申请要求2017年2月23在日本申请的日本特愿2017-032029的优先权，并将在先申请的全部内容引入于此以用于参照。
本专利技术涉及一种电磁波检测装置、程序以及电磁波检测系统。
技术介绍
近年来，开发了一种从发射的电磁波的反射波的检测结果来获得与周围相关的信息的装置。例如，已知一种使用激光雷达来测量物体的位置的装置(参考专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2011-220732号公报。
技术实现思路
第一观点的电磁波检测装置包括：发射电磁波的照射部；第一检测部，具有根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波的多个检测元件；存储部，存储包括发射的所述电磁波的发射方向的第一关联信息；以及控制部，基于在所述多个检测元件中的检测到所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述第一关联信息。另外，第二观点的电磁波检测系统包括：发射电磁波的照射部；第一检测部，具有根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波的多个检测元件；存储部，存储包括发射的所述电磁波的发射方向的第一关联信息；以及控制部，基于在所述多个检测元件中的检测出所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述第一关联信息。另外，本公开的第三观点的程序使装置执行如下步骤：发射电磁波；由多个检测元件根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波；基于在所述多个检测元件中的检测出所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新包括发射的所述电磁波的发射方向的第一关联信息。附图说明图1是示出第一实施方式的电磁波检测装置的概略结构的结构图。图2是用于说明图1的电磁波检测装置的行进部中的像素在第一状态和第二状态下的电磁波的行进方向的电磁波检测装置的结构图。图3是示出第一实施方式的第一关联信息的一个例子的图。图4是示出第一实施方式的第二关联信息的一个例子的图。图5是示出用于说明图1的照射部、第二检测部、以及控制部所构成的测距传感器的测距原理的电磁波的发射时刻和检测时刻的时序图。图6是用于说明第一实施方式中控制部控制用于重复获取图像信息以及距离信息的各部位的时序图。图7是用于说明在第一实施方式中行进部的任意的像素处于第一状态时的电磁波的行进状态的电磁波检测装置的结构图。图8是用于说明仅图5的任意的像素处于第二状态时的电磁波的行进状态的电磁波检测装置的结构图。图9是用于说明在第一实施方式中的控制部执行的第一关联信息的更新处理的流程图。图10是示出第二实施方式的第三关联信息的一个例子的图。图11是示出第二实施方式的第四关联信息的一个例子的图。图12是用于说明在第二实施方式中的控制部执行的第一关联信息的更新处理的流程图。具体实施方式以下，参照附图对应用了本专利技术的电磁波检测装置的实施方式进行说明。在根据已经获得的信息来推定发射的电磁波的发射方向的情况下，有时实际的发射方向与推定的发射方向不同。因此，应用了本专利技术的电磁波检测装置构成为能够减小实际的电磁波的发射方向与推定的电磁波的发射方向之间的差异。如图1所示，本公开的一实施方式的电磁波检测装置10构成为包括：照射部11、行进方向改变部12、存储部19、控制部20、以及电磁波检测部21。电磁波检测部21具有：前段光学系统13、行进部14、第一后段光学系统15、第二后段光学系统16、第一检测部17、以及第二检测部18。在之后的图中，连结各功能块的虚线表示控制信号或者通信信息的流动。虚线所示的通信可以是有线通信，也可以是无线通信。另外，从各功能块突出的实线表示波束状的电磁波。照射部11发射例如红外线、可视光线、紫外线、以及电波中的至少一种电磁波。在第一实施方式中，照射部11发射红外线。照射部11经由行进方向改变部12将发射的电磁波间接地照射到对象ob上。在第一实施方式中，照射部11发射宽度较窄的例如0.5°的波束状的电磁波。另外，在第一实施方式中，照射部11能够呈脉冲状发射电磁波。例如，照射部11包括LED(LightEmittingDiode)以及LD(LaserDiode)等。照射部11基于后述的控制部20的控制，来切换电磁波的发射以及停止。行进方向改变部12具有能够改变方向的反射面。行进方向改变部12基于从后述的控制部20输出的驱动信号，改变反射面的方向。反射面通过根据驱动信号来改变从照射部11发射的电磁波的行进方向，来改变照射位置并照射对象ob。即，行进方向改变部12通过从照射部11发射的电磁波来扫描对象ob。需要说明的是，行进方向改变部12沿一维方向或者二维方向扫描对象ob。在第一实施方式中，行进方向改变部12沿二维方向扫描对象ob。行进方向改变部12构成为使从照射部11发射并反射的电磁波的照射区域中的至少一部分包括在电磁波检测装置10的电磁波的检测范围中。因此，能够在电磁波检测装置10中检测经由行进方向改变部12照射于对象ob的电磁波的至少一部分。需要说明的是，在第一实施方式中，行进方向改变部12构成为使从照射部11发射并由行进方向改变部12反射的电磁波的照射区域中的至少一部分包括在第一检测部17以及第二检测部18中的检测范围中。因此，在第一实施方式中，能够由第一检测部17以及第二检测部18检测经由行进方向改变部12照射于对象ob的电磁波的至少一部分。行进方向改变部12包括例如MEMS(MicroElectroMechanicalSystems)镜、棱镜、以及电流镜等。在第一实施方式中，行进方向改变部12包括MEMS镜。前段光学系统13包括例如透镜以及镜中的至少一种，并使作为存在于电磁波的照射区域中的被摄体的对象ob的图像成像。行进部14可以设置在一次成像位置或者该一次成像位置的附近，该一次成像位置是通过前段光学系统13对从前段光学系统13远离规定的位置的对象ob的图像进行成像的位置。在第一实施方式中，行进部14设置在该一次成像位置。行进部14具有通过了前段光学系统13的电磁波入射的作用面as。作用面as由沿着二维状排列的多个像素(行进元件)px构成。作用面as是在后述的第一状态以及第二状态中的至少一个的状态下，使电磁波产生例如反射以及透过等作用的面。行进部14能够使每个像素px在第一状态与第二状态之间切换，该第一状态使入射到作用面as上的电磁波沿第一方向d1行进，该第二状态使入射到作用面as上的电磁波沿第二方向d2行进。在第一实施方式中，第一状态是将入射到作用面as上的电磁波沿第一方向d1反射的第一反射状态。另外，第二状态是将入射到作用面as上的电磁波沿第二方向d2反射的第二反射状态。在第一实施方式中，进一步具体来说，行进部14在每个像素px上包括反射电磁波的反射面。行进部14通过改变每个像素px的反射面的方向，从而使每个像素px切换第一反射状态以及第二反射状态。在第一实施方式中，行进部14包括例如DMD(DigitalMicromirrorDevice：数字微镜器件)。DMD通过驱动构成作用面as的微小的反射面，从而能够将每个像素px切换到该反射面相对于作用面as倾斜+12°以及－12°中的任一倾斜状态。需要说明的是，作用面as与DMD中载置微小的反射面的基板的板面平行。行进部14基于后述的控制部20的控制，使每个像素px切换第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电磁波检测装置，包括：发射电磁波的照射部；第一检测部，具有根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波的多个检测元件；存储部，存储包括发射的所述电磁波的发射方向的第一关联信息；以及控制部，基于在所述多个检测元件中的检测到所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述第一关联信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.02.23 JP 2017-0320291.一种电磁波检测装置，包括：发射电磁波的照射部；第一检测部，具有根据照射位置来检测照射于对象的所述电磁波的反射波的多个检测元件；存储部，存储包括发射的所述电磁波的发射方向的第一关联信息；以及控制部，基于在所述多个检测元件中的检测到所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述第一关联信息。2.如权利要求1所述的电磁波检测装置，其特征在于，还包括行进方向改变部，通过根据驱动信号来改变从所述照射部发射的电磁波的行进方向，来改变照射位置并照射到对象上，所述存储部存储将所述驱动信号以及改变了行进方向的所述电磁波的发射方向相关联的第一关联信息，所述控制部基于当将所述驱动信号输出至所述行进方向改变部时的所述多个检测元件中的检测出所述电磁波的反射波的检测元件的位置，来更新所述第一关联信息。3.如权利要求1或2所述的电磁波检测装置，其特征在于，所述存储部存储将所述发射方向以及所述检测元件的位置相关联的第二关联信息，所述控制部基于输出的所述驱动信号、和根据检测出所述电磁波的反射波的元件的位置以及所述第二关联信息计算出的所述发射方向来更新所述第一关联信息。4.如权利要求1-3中任一项所述的电磁波检测装置，其特征在于，还包括具有使照射于所述对象的所述电磁波的反射波根据所述照射位置行进到不同的所述检测元件的多个行进元件的行进部，所述存储部存储第三关联信息以及第四关联信息，所述第三关联信息将所述行进元件的位置以及该行进元件使所述电磁波的反射波行进的检测元件的位置相关联，第四关联信息将所述发射方向以及所述行进元件的位置相关联，所述控制部基于输出的驱动信号和所述发射方向来更新所述第一关联信息，所述发射方向是基于根据检测出所述电磁波的反射波的元件的位置以及所述第三关联信息计算出的所述行进元件的位置、以及所述第四关联信息计算出的。5.如权利要求1-4中任一项所述的电磁波检测装置，其特征在于，所述控制部更新所述第一关联信息中的所述驱动信号以及所...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈田浩希，内田绘梨，皆川博幸，高山喜央，小野光夫，长谷部笃史，河合克敏，金山幸年，
申请(专利权)人：京瓷株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP