一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法制造方法及图纸

本申请提供了一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法，应用于电子技术领域，用于解决目前待测设备例如电视或主板老化实验存在难以单独对待测设备进行老化控制的问题。该装置包括：包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择单元和开关单元，所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接，所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端，所述开关单元的另一端连接待测设备。本申请通过控制开关选择单元控制接入的每一台待测设备的通电与断电，实现对单台或多台待测设备的老化的独立控制。

A Device and Method for Intelligent Aging Control of Tested Equipment

【技术实现步骤摘要】
一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法
本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法。
技术介绍
随着科技的不断发展，智能电视的种类也越来越多，功能也越来越复杂。为了确保生产的智能电视或主板更加安全可靠，各生产厂家通常会将刚生产的智能电视或主板放到特定环境下进行老化试验，传统的老化试验一般通过人工来控制不同待测设备的老化测试，这不仅效率低，还容易出现人为失误，目前市场的开关难以同时单独控制待测设备的老化测试。可见，目前待测设备例如电视或主板老化实验存在难以单独对待测设备进行老化控制的问题。
技术实现思路
为此，本专利技术提供一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法，以解决现有技术中难以单独对待测设备进行老化控制的技术问题。一种实现待测设备智能老化控制的装置，包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择单元和开关单元，所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接，所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端，所述开关单元的另一端连接待测设备；所述电源，用于为所述微控制处理器、所述存储单元、所述输入单元及所述开关选择单元供电；所述存储单元，用于存储开关单元的地址；所述输入单元，用于接收测试指令及所述待测设备的测试时间，并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器；所述微控制处理器，用于根据所述测试指令、所述开关单元的地址及所述测试时间生成对应开关单元的电平控制信号，并将所述电平控制信号发送至开关选择单元；所述开关选择单元，用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平，通过所述高低电平控制所述开关单元中对应开关的闭合或断开；所述开关单元，用于根据所述开关选择单元的电平信号控制对应待测设备中各电路的上电或断电。一种实现待测设备智能老化控制的方法，包括：接收输入的待测设备、所述待测设备的测试指令及测试时间；根据所述待测设备的测试位置及所述测试指令中的测试对象确定开关单元的地址；根据预先配置的所述开关单元的地址与所述开关单元的映射关系，选择对应的开关单元；根据所述测试时间确定所述地址中对应开关单元的闭合时间；通过电平控制信号控制选择的所述中开关单元的断开/闭合的状态及闭合的时间，完成对所述待测设备的老化测试。在本专利技术实施例中，通过微控制处理器将接收的测试指令及所述待测设备的测试时间转化成对应开关单元的电平控制信号，并通过开关选择单元根据该电平控制信号控制对应开关单元的闭合或断开，使得开关单元可以根据该电平控制信号一直闭合或在某一时刻断开，由于不同的开关单元可以在接入不同的待测设备，使得本专利技术提供的智能老化控制的装置和方法可实现对单台或多台待测设备的老化的独立控制。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术一实施例中提供的电路的模块结构示意图；图2为本专利技术另一实施例中提供的电路的模块结构示意图；图3为本专利技术又一实施例中提供的电路的模块结构示意图；图4为本专利技术再一实施例中提供的电路的模块结构示意图；图5为本专利技术一实施例中提供的开关选择单元的电路结构示意图；图6为本专利技术一实施例中提供的开关矩阵关系的示意图；图7为本专利技术一实施例中提供的开关单元电路结构示意图；图8为本专利技术另一实施例中提供的开关单元电路结构示意图；图9为本专利技术一实施例中提供的实现待测设备智能老化控制的方法的流程图；图10为本专利技术实施例图1中步骤20的具体流程示意图；图11为本专利技术实施例图1中步骤30的具体流程示意图；图12为本专利技术另一实施例中提供的实现待测设备智能老化控制的方法的流程图；图13为本专利技术实施例图12中步骤60的具体流程示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。以下结合具体附图对本专利技术的实现进行详细的描述：图1示出了本专利技术一实施例所提供的实现待测设备智能老化控制的装置，为了便于说明。仅示出了与本实施例相关的部分，详述如下：如图1所示，本专利技术所提供的实现待测设备智能老化控制的装置包括：微控制处理器101、存储单元102、电源103、输入单元104，还包括开关选择单元105和开关单元106。其中，所述存储单元102、所述电源103、所述输入单元104及所述开关选择单元105的一端均与所述微控制处理器101连接，所述开关选择单元105的另一端连接所述开关单元106的一端，所述开关单元106的另一端连接待测设备107。具体的，所述电源103，用于为所述微控制处理器101、所述存储单元102、所述输入单元104及所述开关选择单元105供电；所述存储单元102，用于存储开关单元106的地址；所述输入单元104，用于接收测试指令及所述待测设备107的测试时间，并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器101；所述微控制处理器101，用于根据所述测试指令、所述开关单元106的地址及所述测试时间生成对应开关单元106的电平控制信号，并将所述电平控制信号发送至开关选择单元105；所述开关选择单元105，用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平，通过所述高低电平控制所述开关单元106中对应开关的闭合或断开；所述开关单元106，用于根据所述开关选择单元105的电平信号控制对应待测设备107中各电路的上电或断电。进一步的，所述开关选择单元105包括工位开关引脚和状态开关引脚，所述开关单元包括工位开关单元和状态开关单元，所述开关选择单元通过所述工位开关引脚连接所述工位开关单元，并通过所述状态开关引脚连接所述状态开关单元。具体的，所述工位开关引脚，用于根据所述工位开关引脚的高低电平控制所述工位开关单元的闭合或断开，控制与工位开关单元对应工位的待测设备的测试使能。所述状态开关引脚，用于根据所述状态开关引脚的高低电平控制所述状态开关单元的闭合或断开，控制所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间；所述工位开关单元，用于控制与所述工位开关单元对应工位的测试使能；所述状态开关单元，用于控制所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间，控制所述待测设备中不同电路的老化测试时长。在本专利技术的另一个实施方式中，所述装置还包括：电压转换单元108，所述电压转换单元的一端与电源103连接，所述电压转换单元108的另一端与所述第二开关单元106b连接。进一步的，电压转换单元108用于当所述电源103的电压与所述待测设备107的工作电压不相同时，将所述电源输出的电压转换为所述待测设备的工作电压。在其中一个实施例中，当所述待测设备的工作电压低于所述电源的输出电压时，与对应待测设备连接的第二开关单元106b为MOS管开关。具体的，第一开关单元106a包括第一工位开关单元和第一状态开关单元，其中，该第一工位开关单元用于确定本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种实现待测设备智能老化控制的装置，包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择单元和开关单元，所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接，所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端，所述开关单元的另一端连接待测设备；所述电源，用于为所述微控制处理器、所述存储单元、所述输入单元及所述开关选择单元供电；所述存储单元，用于存储开关单元的地址；所述输入单元，用于接收测试指令及所述待测设备的测试时间，并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器；所述微控制处理器，用于根据所述测试指令、所述开关单元的地址及所述测试时间生成对应开关单元的电平控制信号，并将所述电平控制信号发送至开关选择单元；所述开关选择单元，用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平，通过所述高低电平控制所述开关单元中对应开关的闭合或断开；所述开关单元，用于根据所述开关选择单元的电平信号控制对应待测设备中各电路的上电或断电。

【技术特征摘要】
1.一种实现待测设备智能老化控制的装置，包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择单元和开关单元，所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接，所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端，所述开关单元的另一端连接待测设备；所述电源，用于为所述微控制处理器、所述存储单元、所述输入单元及所述开关选择单元供电；所述存储单元，用于存储开关单元的地址；所述输入单元，用于接收测试指令及所述待测设备的测试时间，并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器；所述微控制处理器，用于根据所述测试指令、所述开关单元的地址及所述测试时间生成对应开关单元的电平控制信号，并将所述电平控制信号发送至开关选择单元；所述开关选择单元，用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平，通过所述高低电平控制所述开关单元中对应开关的闭合或断开；所述开关单元，用于根据所述开关选择单元的电平信号控制对应待测设备中各电路的上电或断电。2.根据权利要求1所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，所述开关选择单元包括工位开关引脚和状态开关引脚，所述开关单元包括工位开关单元和状态开关单元，所述开关选择单元通过所述工位开关引脚连接所述工位开关单元，并通过所述状态开关引脚连接所述状态开关单元；所述工位开关引脚，用于根据所述工位开关引脚的高低电平控制所述工位开关单元的闭合或断开，控制与工位开关单元对应工位的待测设备的测试使能；所述状态开关引脚，用于根据所述状态开关引脚的高低电平控制所述状态开关单元的闭合或断开，控制所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间；所述工位开关单元，用于控制与所述工位开关单元对应工位的测试使能；所述状态开关单元，用于控制所述待测设备中与所述状态开关单元对应电路的闭合时间，控制所述待测设备中不同电路的老化测试时长。3.根据权利要求1所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，还包括：电压转换单元，所述电压转换单元的一端与电源连接，所述电压转换单元的另一端与所述开关单元连接；电压转换单元用于当所述电源电压与所述待测设备的工作电压不相同时，将所述电源输出的电压转换为所述待测设备的工作电压。4.根据权利要求3所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，当所述待测设备的工作电压低于所述电源的输出电压时，与对应待测设备连接的开关单元为MOS管开关。5.根据权利要求3所述的一种实现待测设备智能老化控制的装置，其特征在于，还包括计时单元，所述计时单元与所述微控制处理器连接；所述微控制处理器还用于将所述测试时间转换对应开关单元的测试时长，并将所述测试时长发送给所述计时单元；当接收到计时单元反馈的计时结束的信号时，生成对应开关单元的低电平的控制信号，并将所述低电平的控制信号发送给所述开关选择单元；所述计时单元，用于当所述微控制处理器控制所述待测设备中的电路上电时，启动计时；当所述待测设备的上电时间达到所述测试时长时，向所述微控制处理器发送计时结束...

【专利技术属性】
技术研发人员：万乔，范小健，袁亚文，余明火，
申请(专利权)人：深圳安时达电子服务有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44