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本申请提供了一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法，应用于电子技术领域，用于解决目前待测设备例如电视或主板老化实验存在难以单独对待测设备进行老化控制的问题。该装置包括：包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元，其特征在于，还包括开关选择...
该专利属于深圳安时达电子服务有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳安时达电子服务有限公司授权不得商用。

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