磁盘装置以及读取处理方法制造方法及图纸

实施方式提供能够防止读取性能的下降的磁盘装置以及读取处理方法。实施方式所涉及的磁盘装置具备：盘，其具有登记有事先检测出的不能读取的先发不良扇区的第1列表和登记后发不良扇区的第2列表；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；和控制器，其将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表，并将与已登记于所述第2列表的所述第1扇区相对应的第1地址重新分配给第1代替扇区。

Disk Device and Reading Processing Method

【技术实现步骤摘要】
磁盘装置以及读取处理方法相关申请本申请享受以日本专利申请2018－52915号(申请日：2018年3月20日)为在先申请的优先权。本申请通过参照该在先申请而包含在先申请的全部内容。
本专利技术的实施方式涉及磁盘装置以及读取处理方法。
技术介绍
磁盘装置具有：P列表(初始列表)，登记了包含通过出厂前的检查检测出的损伤等缺陷的扇区(以下称为不良扇区)；和G列表(增长列表)，登记在出厂后检测出的不良扇区。通常，在出厂前能够没有问题地写入以及读取的包含较轻的损伤等轻度的缺陷的扇区有可能没有被登记于P列表。这样的包含轻度的缺陷的扇区有可能位于已被登记于P列表的不良扇区等的附近。因此，当在出厂后在已被登记于P列表的不良扇区的附近检测到不良扇区的情况下，位于已被登记于P列表的不良扇区和在出厂后检测出的不良扇区的附近的扇区有可能由于经年劣化(老化)和/或周边的已被登记于P列表和/或G列表的不良扇区的损伤的成长等而变成不良扇区。
技术实现思路
本专利技术的实施方式提供能够防止读取性能的下降的磁盘装置以及读取处理方法。本实施方式涉及的磁盘装置具备：盘，其具有登记有事先检测出的不能读取的先发不良扇区的第1列表和登记后发不良扇区的第2列表；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；和控制器，其将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表，并将与已登记于所述第2列表的所述第1扇区相对应的第1地址重新分配给第1代替扇区。附图说明图1是表示实施方式所涉及的磁盘装置的构成的框图。图2是表示实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。图3是表示实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。图4是表示实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。图5是表示实施方式所涉及的扩展不良扇区的检测方法的一例的图。图6是表示实施方式所涉及的读取处理方法的一例的流程图。图7是表示变形例所涉及的读取处理方法的一例的流程图。具体实施方式以下一边参照附图一边对实施方式进行说明。另外，附图只是一例，并不限定专利技术的范围。(实施方式)图1是表示实施方式所涉及的磁盘装置1的构成的框图。磁盘装置1具备：后述的头盘组件(HDA)、驱动器IC20、头放大集成电路(以下称为头放大器IC或前置放大器)30、易失性存储器70、缓冲存储器(缓存)80、非易失性存储器90、和作为1芯片的集成电路的系统控制器130。另外，磁盘装置1被与主机系统(以下简称为主机)100连接。HDA具有：磁盘(以下称为盘)10、主轴马达(以下称为SPM)12、搭载着头15的臂13、和音圈马达(以下称为VCM)14。盘10被安装于主轴马达12，通过主轴马达12的驱动而旋转。臂13以及VCM14构成致动器。致动器通过VCM14的驱动，控制搭载于臂13的头15而将其移动到盘10上的目标位置为止。盘10以及头15也可以设有2个以上的个数。盘10在其的能够写入数据的区域，分配有：用户能够利用的用户数据区域10a；和写入系统管理所需要的信息的系统区域10b。以下，将与盘10的半径方向正交的方向称为圆周方向。另外，所谓“访问”，设为包含“向盘10写入数据”和“从盘10读取数据”这双方的含义而使用。用户数据区域10a包含代替区域CA。另外，代替区域CA也可以被设置于系统区域10b。系统区域10b包含P列表(初始列表)PL、G列表(增长(Grown)列表)GL和磁道滑移(TrackSlip)信息TSI。P列表PL、G列表GL和磁道滑移信息TSI也可以被保存于后述的易失性存储器70、非易失性存储器90等。另外，在一例中，在系统区域10b，保存P列表PL的记录区域的容量比保存G列表GL的记录区域的容量大。P列表PL包含对通过磁盘装置1的出厂前的盘10的损伤等缺陷(或Defect)的检查事先检测出的具有缺陷的扇区(以下称为不良扇区或先发不良扇区)进行管理的信息。P列表PL基于例如盘10的数据结构的地址映射而生成。扇区为例如向盘10写入数据时的最小单位的记录区域。在一例中，1扇区为512byte或4Kbyte的量的盘10的记录区域。以下，也有将“读取被写入到扇区的数据”简单地表达为“读取扇区”的情况。G列表GL包含用于对在磁盘装置1的出厂后的扇区访问中检测出的不良扇区(以下有时也称为后发不良扇区)进行管理的信息。G列表GL对于通过出厂后的扇区访问中检测出的全部不良扇区，表示这些不良扇区的LBA(LogicalBlockAddress，逻辑块地址)或物理地址等地址与代替这些不良扇区而使用的代替扇区的对应。代替扇区被设置于代替区域CA。以下，为了说明的方便，有时候将“扇区的地址(LBA、物理地址等)”简称为“扇区”。G列表GL在出厂前完全没有登记与后发不良扇区有关的信息(后发不良扇区的地址等)，在出厂后每次检测到后发不良扇区都登记与后发不良扇区有关的信息。磁道滑移(TrackSlip)信息TSI包含对通过磁盘装置1的出厂前的盘10的缺陷的检查检测出的具有整体摆动等缺陷的磁道(以下称为不良磁道)进行管理的信息。头15将滑块作为主体，具备被安装于该滑块的写入头15W和读取头15R。写入头15W向盘10上写入数据。读取头15R读取被记录于盘10上的数据磁道的数据。驱动器IC20按照系统控制器130(详细地说为后述的MPU60)的控制，控制SPM12以及VCM14的驱动。头放大器IC(前置放大器)30具备读取放大器以及写入驱动器。读取放大器对从盘10读取出的读取信号进行放大，向系统控制器130(详细地说为后述的读取/写入(R/W)通道40)输出。写入驱动器将与从R/W通道40输出的信号相应的写入电流向头15输出。易失性存储器70是在电力供给被切断时所保存的数据丢失的半导体存储器。易失性存储器70保存磁盘装置1的各部分的处理所需要的数据等。易失性存储器70为例如SRAM(StaticRandomAccessMemory,静态随机存取存储器)、DRAM(DynamicRandomAccessMemory,动态随机存取存储器)、或SDRAM(SynchronousDynamicRandomAccessMemory,同步动态随机存取存储器)。缓冲存储器80为暂时记录在磁盘装置1与主机100之间发送接收的数据等的半导体存储器。另外，缓冲存储器80也可以与易失性存储器70构成为一体。缓冲存储器80为例如DRAM、SRAM、SDRAM、FeRAM(FerroelectricRandomAccessmemory,铁电随机存取存储器)、或MRAM(MagnetoresistiveRandomAccessMemory,磁阻式随机存取存储器)等。非易失性存储器90为即使电力供给被切断也记录所保存的数据的半导体存储器。非易失性存储器90为例如NOR型或NAND型的闪速ROM(FlashReadOnlyMemory:FROM,闪速只读存储器)。系统控制器(控制器)130使用例如将多个元件集成于一块芯片的被称为System-on-a-Chip(SoC)的大规模集成电路(LSI)而实现。系统控制器130包含读取/写入(R/W)通道40、硬盘控制器(HDC)50、和微型处理器(MP本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁盘装置，具备：盘，其具有登记有事先检测出的不能读取的先发不良扇区的第1列表和登记后发不良扇区的第2列表；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；和控制器，其将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表，并将与已登记于所述第2列表的所述第1扇区相对应的第1地址重新分配给第1代替扇区。

【技术特征摘要】
2018.03.20 JP 2018-0529151.一种磁盘装置，具备：盘，其具有登记有事先检测出的不能读取的先发不良扇区的第1列表和登记后发不良扇区的第2列表；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；和控制器，其将位于从已登记于所述第1列表的第1不良扇区朝向所述盘中不能读取的第2不良扇区的第1方向上的第1扇区登记于所述第2列表，并将与已登记于所述第2列表的所述第1扇区相对应的第1地址重新分配给第1代替扇区。2.根据权利要求1所述的磁盘装置，所述第1扇区位于所述第1不良扇区与所述第2不良扇区之间。3.根据权利要求2所述的磁盘装置，所述控制器在位于所述第1不良扇区与所述第2不良扇区之间的扇区的数目为阈值以下的情况下，将所述第1扇区登记于所述第2列表。4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的磁盘装置，所述控制器将所述第2不良扇区登记于所述第1列表以及所述第2列表。5.根据权利要求4所述的磁盘装置，所述控制器将与已登记于所述第2列表的所述第2不良扇区相对应的第2地址重新分配给第2代替扇区。6.根据权利要求5所述的磁盘装置，所述控制器将与已登记于所述第1列表的所述第2不良扇区相对应的所述第2地址重新分配给第3代替扇区。7.根据权利要求1至3中的任意一项所述的磁盘装置，所述控制器将所述第1扇区登记于所述第1列表。8.根据权利要求7所述的磁盘装置，所述控制器将与已登记于所述第1列表...

【专利技术属性】
技术研发人员：浦田幸雄，
申请(专利权)人：株式会社东芝，东芝电子元件及存储装置株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP