放射线检测器制造技术

本发明专利技术提供一种能提高暗图像的像素值的可靠性的放射线检测器。实施方式涉及的放射线检测器包括：直接检测放射线或与闪烁体联动地来检测放射线的多个检测部；从所述多个检测部分别读取信号电荷的控制部；存储预先求出的暗图像的正常像素值的上限值和下限值以及所述上限值和所述下限值的温度依赖性所涉及的数据的存储部；以及测定放射线检测器的温度的温度传感器。控制部在期望的放射线未进行照射的状态下，读取分别来自多个检测部的信号电荷并拍摄暗图像，获取通过温度传感器测定出的拍摄到暗图像时的温度，从存储部中提取与获取到的温度对应的上限值和所述下限值，利用提取出的上限值和所述下限值，检查拍摄到的暗图像的像素值。

Radiation Detector

【技术实现步骤摘要】
放射线检测器
本专利技术的实施方式涉及一种放射线检测器。
技术介绍
放射线检测器的一个例子包括X射线检测器。在X射线检测器中例如设有：将入射的X射线转换为荧光的闪烁体；设有多个将来自闪烁体的荧光转换为信号电荷的光电转换部(对应于X射线图像的像素)的阵列基板；对多个光电转换部分别读取信号电荷的信号处理电路；以及基于读取出的信号电荷构成X射线图像的图像构成电路。此外，光电转换部中设置有将荧光转换为信号电荷的光电转换元件；对信号电荷的存储和释放进行切换的薄膜晶体管；以及存储信号电荷的存储电容器等。一般，X射线检测器如下述那样构建X射线图像。首先，利用从外部输入的信号识别X射线的入射。接着，在经过预先确定的时间以后，使进行读取的光电转换部的薄膜晶体管变为导通状态，读取所存储的信号电荷。并且，基于对各个光电转换部读取出的信号电荷的值来构成X射线图像。这里，对各个光电转换部读取出的信号电荷的值中包含与X射线的剂量对应的值；以及与光电转换元件、薄膜晶体管的漏电流对应的值。因此，在构成X射线图像时，从各光电转换部的信号电荷的值中减去与各光电转换部的漏电流对应的值，进行偏移处理(偏移校正)。偏移处理中，为了去除与漏电流对应的值，而从X射线的各图像的值(X射线图像的像素值)中减去与暗图像对应的像素的值(暗图像的像素值)。在该情况下，若暗图像的像素值发生变动，则可能无法进行正确的偏移处理。因此，提出了一种在X射线图像的拍摄间歇对暗图像进行拍摄，并定期更新暗图像涉及的数据的技术。然而，拍摄出的暗图像中有时会存在问题。例如，朝向相邻的X射线检测器所照射的X射线的一部分有时会射入正在拍摄暗图像的X射线检测器。在这样的情况下，在漏电流所对应的值中加入了不期望的X射线的入射所对应的值。因此，所获得的暗图像的像素值的可靠性降低。于是，期望开发出能提高暗图像的像素值的可靠性的放射线检测器。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开2000－189411号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题本专利技术所要解决的课题在于提供一种能提高暗图像的像素值的可靠性的放射线检测器。解决技术问题所采用的技术方案实施方式涉及的放射线检测器包括：多个检测部，该多个检测部直接检测放射线或与闪烁体联动地来检测放射线；控制部，该控制部从所述多个检测部分别读取信号电荷；存储部，该存储部存储预先求出的暗图像的正常像素值的上限值和下限值以及所述上限值和所述下限值的温度依赖性所涉及的数据；以及温度传感器，该温度传感器测定放射线检测器的温度。所述控制部在未照射期望的放射线的状态下，从所述多个检测部分别读取所述信号电荷并拍摄暗图像，获取通过所述温度传感器测定出的拍摄到所述暗图像时的温度，从所述存储部中提取与获取到的所述温度对应的所述上限值和所述下限值，利用提取出的所述上限值和所述下限值，检查所述拍摄到的暗图像的像素值。附图说明图1是用于例示X射线检测器的示意立体图。图2是X射线检测器的框图。图3是阵列基板的电路图。图4是信号处理电路的框图。图5是用于例示暗图像的像素值与温度的关系的示意图表。图6是用于例示暗图像的像素值的检查的流程图。具体实施方式下面，参照附图，对实施方式进行例示。另外，各图中，对同样的构成要素标注相同的标号并适当省略详细说明。本实施方式的放射线检测器除了X射线以外，还能应用于γ射线等各种放射线。这里，作为一个例子，以放射线中具有代表性的X射线所涉及的情况为例进行说明。因此，通过将以下实施方式的“X射线”替换为“其它放射线”，从而也能应用于其它放射线。此外，以下所例示的X射线检测器1是对放射线图像即X射线图像进行检测的X射线平面传感器。X射线平面传感器大致分为直接转换方式和间接转换方式。直接转换方式是利用高电场将通过入射X射线在光导电膜内部产生的光导电电荷(信号电荷)直接导入到电荷存储用的存储电容器的方式。间接转换方式是利用闪烁体将X射线转换为荧光(可见光)，利用光电二极管等光电转换元件将荧光转换为信号电荷并将信号电荷导入到存储电容器的方式。以下，作为一个例子示出间接转换方式的X射线检测器1，但本专利技术也能适用于直接转换方式的X射线检测器。另外，直接转换方式的X射线的检测部能应用已知的技术，因此省略详细说明。即，X射线检测器只要具有直接检测X射线或与闪烁体联动地检测X射线的多个检测部即可。此外，X射线检测器1虽然例如能用于一般的医疗等，但并不限定其用途。图1是用于例示X射线检测器1的示意立体图。另外，图1中，省略了偏置线2c3等的绘制。图2是X射线检测器1的框图。图3是阵列基板2的电路图。图4是信号处理电路3的框图。如图1和图2所示，X射线检测器1中设有阵列基板2、信号处理电路3、图像构成电路4以及闪烁体5。此外，能在X射线检测器1中设有收纳阵列基板2、信号处理电路3和闪烁体5的未图示的框体。能在框体的内部设有未图示的支持板。能在支持板的X射线的入射侧的面上设有阵列基板2和闪烁体5。能在支持板的X射线的入射侧相反一侧的面上设有信号处理电路3。此外，能在X射线检测器1中设有收纳图像构成电路4的未图示的壳体。阵列基板2将通过闪烁体5由X射线转换而来的荧光(可见光)转换为电信号。如图1和图3所示，阵列基板2具有基板2a、光电转换部2b、控制线(或栅极线)2c1、数据线(或信号线)2c2以及偏置线2c3。另外，光电转换部2b、控制线2c1、数据线2c2以及偏置线2c3等的数量并不限于所例示的情况。基板2a呈板状，由无碱玻璃等透光性材料形成。在基板2a的一个表面上设置有多个光电转换部2b。光电转换部2b呈矩形，并且设置在由控制线2c1和数据线2c2所划分的区域中。多个光电转换部2b排列成矩阵状。另外，一个光电转换部2b对应于X射线图像中的一个像素(pixel)。本实施方式中，光电转换部2b成为与闪烁体5联动地检测X射线的检测部。多个光电转换部2b中分别设有光电转换元件2b1、以及作为开关元件的薄膜晶体管(TFT；ThinFilmTransistor)2b2。此外，如图3所示，能设置存储电容器2b3，对在光电转换元件2b1中转换得到的信号电荷进行存储。存储电容器2b3例如呈矩形平板状，能设置在各薄膜晶体管2b2的下方。其中，根据光电转换元件2b1的容量，光电转换元件2b1能兼用作存储电容器2b3。光电转换元件2b1例如能以光电二极管等来形成。薄膜晶体管2b2进行电荷的存储以及释放的切换，该电荷是因荧光入射至光电转换元件2b1而产生的。薄膜晶体管2b2具有栅极电极2b2a、漏极电极2b2b以及源极电极2b2c。薄膜晶体管2b2的栅极电极2b2a与对应的控制线2c1电连接。薄膜晶体管2b2的漏极电极2b2b与对应的数据线2c2电连接。薄膜晶体管2b2的源极电极2b2c与对应的光电转换元件2b1和存储电容器2b3电连接。此外，光电转换元件2b1的阳极侧以及存储电容器2b3与对应的偏置线2c3电连接。多条控制线2c1隔开规定间隔相互平行地设置。控制线2c1例如沿着行方向延伸。一条控制线2c1与设置在基板2a的边缘附近的多个布线焊盘2d1的其中一个电连接。一个布线焊盘2d1与设置在柔性印刷基板2e2上的多条布线的其中一条电连接。设置在柔性印刷基板2e1上的多条布线的另一端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放射线检测器，其特征在于，包括：多个检测部，该多个检测部直接检测放射线或与闪烁体联动地来检测放射线；控制部，该控制部从所述多个检测部分别读取信号电荷；存储部，该存储部存储预先求出的暗图像的正常像素值的上限值和下限值以及所述上限值和所述下限值的温度依赖性所涉及的数据；以及温度传感器，该温度传感器测定放射线检测器的温度，所述控制部在未照射期望的放射线的状态下，从所述多个检测部分别读取所述信号电荷并拍摄暗图像，获取由所述温度传感器测定出的拍摄所述暗图像时的温度，从所述存储部中提取与获取到的所述温度对应的所述上限值和所述下限值，利用提取出的所述上限值和所述下限值，检查所述拍摄到的暗图像的像素值。

【技术特征摘要】
2018.03.12 JP 2018-0445901.一种放射线检测器，其特征在于，包括：多个检测部，该多个检测部直接检测放射线或与闪烁体联动地来检测放射线；控制部，该控制部从所述多个检测部分别读取信号电荷；存储部，该存储部存储预先求出的暗图像的正常像素值的上限值和下限值以及所述上限值和所述下限值的温度依赖性所涉及的数据；以及温度传感器，该温度传感器测定放射线检测器的温度，所述控制部在未照射期望的放射线的状态下，从所述多个检测部分别读取所述信号电荷并拍摄暗图像，获取由所述温度传感器测定出的拍摄所述暗图像时的温度，从所述存储部中提取与获取到的所述温度对应的所述上限值和所述下限值，利用提取出的所述上限值和所述下限值，...

【专利技术属性】
技术研发人员：金刚寺豊久，
申请(专利权)人：佳能电子管器件株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP