【技术实现步骤摘要】
一种脉冲激光加热的高压样品测试装置
本技术涉及材料特性研究领域，尤其是一种能够对高压条件下的样品进行稳定加热及光谱测量的一种脉冲激光加热的高压样品测试装置。
技术介绍
研究材料的某些特性随外加压力的变化具有重要意义，高压光谱测量技术是一种典型的研究方法，比如包括X射线散射在内的技术，通常采用顶砧等压力施加装置对待测材料样品施加压力，同时结合光谱技术对材料进行测量，在一般的顶砧装置中，样品位于压力媒介及垫圈内，然后由加压设备通过支撑盘对顶砧施加压力从而对样品施压。现有技术缺陷一：对高压下的样品进行光谱测量特别是X射线衍射测量时，顶砧后方的支撑盘的开口较小，X射线入射及出射的角度受限，从而会限制光谱能够测量的各参数的范围，另外，顶砧、垫圈及支撑盘的结构会影响光收集的效率从而影响实验精度；现有技术缺陷二：常用的金属垫圈在X射线下会产生如寄生布拉格散射等散射效应，并对X射线的强度产生衰减，尤其是在X射线以较大的角度入射时，衰减会更严重，从而影响光谱测量的信噪比；现有技术缺陷三：某些实验需要将样品加热至较高温度，由于样品位于上下顶砧之间的垫圈中且承受高压，现有技术采用的加热...
【技术保护点】
1.一种脉冲激光加热的高压样品测试装置，包括下支撑盘(1)、下顶砧(2)、上顶砧(3)、上支撑盘(4)、垫圈(5)、特氟龙环(6)、样品(7)、消色差透镜I(8)、光阑(9)、消色差透镜II(10)、滤光片(11)、分束器I(12)、分束器II(13)、光谱仪(14)、示波器(15)、光电二极管(16)、信号发生器(17)、激光器(18)、分束器III(19)、反射镜(20)、聚焦透镜(21)、光电倍增管(22)和摄像机(23)，xyz为三维空间坐标系，光电倍增管(22)的输出端连接示波器(15)的输入端，光电二极管(16)的输出端连接示波器(15)的输入端，信号发生器(1...
【技术特征摘要】
1.一种脉冲激光加热的高压样品测试装置，包括下支撑盘(1)、下顶砧(2)、上顶砧(3)、上支撑盘(4)、垫圈(5)、特氟龙环(6)、样品(7)、消色差透镜I(8)、光阑(9)、消色差透镜II(10)、滤光片(11)、分束器I(12)、分束器II(13)、光谱仪(14)、示波器(15)、光电二极管(16)、信号发生器(17)、激光器(18)、分束器III(19)、反射镜(20)、聚焦透镜(21)、光电倍增管(22)和摄像机(23)，xyz为三维空间坐标系，光电倍增管(22)的输出端连接示波器(15)的输入端，光电二极管(16)的输出端连接示波器(15)的输入端，信号发生器(17)的输出端连接激光器(18)的触发端；消色差透镜I(8)、光阑(9)、消色差透镜II(10)、滤光片(11)、分束器I(12)、分束器II(13)和光谱仪(14)依次位于上顶砧(3)正上方并组成了成像光路，从样品(7)发出的光依次通过上顶砧(3)、消色差透镜I(8)、光阑(9)、消色差透镜II(10)和滤光片(11)，到达分束器I(12)并被分成相同的两束光，其中一束光偏转后进入光电倍增管(22)并转换为电信号输入示波器(15)，另一束光沿原路传播并在分束器II(13)处被再次分束，其中波长大于760纳米的部分进入光谱仪(14)，用于对样品(7)进行热成像、波长小于或等于760纳米的部分进入摄像机(23)，用于对样品(7)进行光学成像；光谱仪(14)的光入口具有快门及针孔，所述快门能够可控地开启或关闭，所述针孔的位置及大小能够调节以控制进入光谱仪(14)的光量，并能够用于光束的准直，根据光谱仪(14)记录的热辐射能够计算出样品(7)的温度；激光器(18)、分束器III(19)、反射镜(20)和聚焦透镜(21)组成了加热激光光路，激光器(18)发射的激光被分束器III(19)分成相同的两束，其中一束经过反射镜(20)反射后依次通过聚焦透镜(21)和上顶砧(3)并入射到样品(7)，另一束偏转后，射到...
【专利技术属性】
技术研发人员：方蓉，张向平，方晓华，
申请(专利权)人：金华职业技术学院，
类型：新型
国别省市：浙江,33
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