光学检测设备制造技术

本实用新型专利技术提供一种光学检测设备，适于检测待测物。光学检测设备包括平台、取像元件、至少二侧光源、至少二反射元件以及检测单元。平台具有安装开口，其中平台用以承载待测物，且待测物对应于安装开口设置。取像元件与前述二侧光源分别设置于平台的上方与下方，其中取像元件对位于安装开口，且图像获取待侧物。前述二反射元件设置于安装开口。前述二反射元件系分别对应于前述二侧光源，且各反射元件位于取像元件与对应的侧光源之间。各侧光源与对应的反射元件可提供待侧物一侧向光线，藉以取像元件获取待侧物的图像。检测单元接收待侧物的图像，藉以检测待侧物。

Optical testing equipment

【技术实现步骤摘要】
光学检测设备
本技术涉及一种检测设备，尤其涉及一种光学检测设备。
技术介绍
在面板(panel)的制作过程中，因制程上的缺陷或失误，可能导致面板点亮时产生亮点或碎亮点。因此，在面板制作完成后，皆会采用光学检测设备对面板进行检测，判断面板是否存在亮点或碎亮点，若有，则进一步取得亮点或碎亮点的所在位置，以进行补修的程序。然而，在光学检测过程中，取得的图像可能包含有面板中的亮点、面板中的碎亮点以及附着于面板上的异物等图像，一有不慎，便可能将附着于面板上的异物误判为亮点或碎亮点，从而在检测过程中产生误宰(overkill)的情事。一般来说，光学检测设备配设有侧光源，用以投射侧向光线至面板，以取得附着于面板上的异物的图像。然而，受限于侧向光线投射至面板的角度限制，难以缩减侧光源与面板之间的距离，致使投射至面板的光线的亮度不足，从而影响到检测准确度。
技术实现思路
本技术提供一种光学检测设备，有助于提高检测准确度。本技术的光学检测设备，适于检测待测物。光学检测设备包括平台、取像元件、至少二侧光源、至少二反射元件以及检测单元。平台具有安装开口，其中平台用以承载待测物，且待测物对应于安装开口设置。取像元件与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学检测设备，适于检测待测物，其特征在于，所述光学检测设备包括：平台，具有安装开口，其中所述平台用以承载所述待测物，且所述待测物对应于所述安装开口设置；取像元件，设置于所述平台的上方，图像获取待侧物；至少二侧光源，设置于所述平台的下方，且对位于所述安装开口；至少二反射元件，设置于所述安装开口，其中所述至少二反射元件系分别对应于所述至少二侧光源，且各所述反射元件位于所述取像元件与对应的所述侧光源之间，其中，各所述侧光源与对应的所述反射元件可提供所述待侧物一侧向光线，藉以所述取像元件获取所述待侧物的图像；以及检测单元，接收所述待侧物的图像，藉以检测所述待侧物。

【技术特征摘要】
2018.07.06 TW 1072091981.一种光学检测设备，适于检测待测物，其特征在于，所述光学检测设备包括：平台，具有安装开口，其中所述平台用以承载所述待测物，且所述待测物对应于所述安装开口设置；取像元件，设置于所述平台的上方，图像获取待侧物；至少二侧光源，设置于所述平台的下方，且对位于所述安装开口；至少二反射元件，设置于所述安装开口，其中所述至少二反射元件系分别对应于所述至少二侧光源，且各所述反射元件位于所述取像元件与对应的所述侧光源之间，其中，各所述侧光源与对应的所述反射元件可提供所述待侧物一侧向光线，藉以所述取像元件获取所述待侧物的图像；以及检测单元，接收所述待侧物的图像，藉以检测所述待侧物。2.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，还包括：至少二载架，连接所述平台背向所述取像元件的一侧，且分别配置用以承载所述至少二侧光源，其中所述至少二载架分别对应于所述至少二反射元件设置，且各所述载架具有朝向对应的所述反射元件的出光开口，各所述侧光源投射出的所述侧向光线经由对应的所述出光开口射向对应的所述反射元件。3.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：张祥毅，古振男，
申请(专利权)人：由田新技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71