光学检测设备制造技术

本实用新型专利技术提供一种光学检测设备，适于检测待测物。光学检测设备包括平台、取像元件、至少二侧光源、至少二反射元件以及检测单元。平台具有安装开口，其中平台用以承载待测物，且待测物对应于安装开口设置。取像元件与前述二侧光源分别设置于平台的上方与下方，其中取像元件对位于安装开口，且图像获取待侧物。前述二反射元件设置于安装开口。前述二反射元件系分别对应于前述二侧光源，且各反射元件位于取像元件与对应的侧光源之间。各侧光源与对应的反射元件可提供待侧物一侧向光线，藉以取像元件获取待侧物的图像。检测单元接收待侧物的图像，藉以检测待侧物。

Optical testing equipment

【技术实现步骤摘要】
光学检测设备
本技术涉及一种检测设备，尤其涉及一种光学检测设备。
技术介绍
在面板(panel)的制作过程中，因制程上的缺陷或失误，可能导致面板点亮时产生亮点或碎亮点。因此，在面板制作完成后，皆会采用光学检测设备对面板进行检测，判断面板是否存在亮点或碎亮点，若有，则进一步取得亮点或碎亮点的所在位置，以进行补修的程序。然而，在光学检测过程中，取得的图像可能包含有面板中的亮点、面板中的碎亮点以及附着于面板上的异物等图像，一有不慎，便可能将附着于面板上的异物误判为亮点或碎亮点，从而在检测过程中产生误宰(overkill)的情事。一般来说，光学检测设备配设有侧光源，用以投射侧向光线至面板，以取得附着于面板上的异物的图像。然而，受限于侧向光线投射至面板的角度限制，难以缩减侧光源与面板之间的距离，致使投射至面板的光线的亮度不足，从而影响到检测准确度。
技术实现思路
本技术提供一种光学检测设备，有助于提高检测准确度。本技术的光学检测设备，适于检测待测物。光学检测设备包括平台、取像元件、至少二侧光源、至少二反射元件以及检测单元。平台具有安装开口，其中平台用以承载待测物，且待测物对应于安装开口设置。取像元件与前述二侧光源分别设置于平台的上方与下方，其中取像元件对位于安装开口，且图像获取待侧物。前述二反射元件设置于安装开口。前述二反射元件系分别对应于前述二侧光源，且各反射元件位于取像元件与对应的侧光源之间。各侧光源与对应的反射元件可提供待侧物一侧向光线，藉以取像元件获取待侧物的图像。检测单元接收待侧物的图像，藉以检测待侧物。本技术的光学检测设备，还包括：至少二载架，连接平台背向取像元件的一侧，且分别配置用以承载二侧光源，其中二载架分别对应于二反射元件设置，且各载架具有朝向对应的反射元件的出光开口，各侧光源投射出的侧向光线经由对应的出光开口射向对应的反射元件。本技术的光学检测设备，还包括：至少二限位件，设置于安装开口的周围，且彼此相对，二限位件配置用以卡制待测物。本技术的光学检测设备，各限位件包括承载部，朝向安装开口延伸，且配置用以承载待测物。本技术的光学检测设备，二限位件分别对位于二侧光源，且二限位件分别设置于二反射元件背向二侧光源的一侧。本技术的光学检测设备，还包括：至少一定位件，设置于其中一限位件的对侧，且配置用以推抵待测物抵靠其中一限位件。本技术的光学检测设备，还包括：背光源，与取像元件分别设置于平台的相对两侧，其中背光源对位于安装开口，背光源配置用以投射背光线至待测物，并由取像元件取得待侧物的另一图像，检测单元电性耦接取像元件、背光源以及各侧光源。本技术的光学检测设备，各侧向光线为平行光，平行于待侧物的表面。本技术的光学检测设备，各侧向光线与待侧物的表面之间的夹角落在130度至180度之间。基于上述，本技术的光学检测设备通过反射元件的设置，能够缩减侧光源与待测物之间的距离，使投射至待测物的侧向光线的亮度提升且均匀，从而有助于提高检测准确度。为让本技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。附图说明图1是本技术一实施例的光学检测设备的局部截面示意图；图2是本技术一实施例的光学检测设备的局部俯视示意图；图3是本技术一实施例的光学检测设备的电路示意图。附图标号说明：10：面板11：表面100：光学检测设备110：平台111：安装开口120：取像元件130：背光源131：背光线140：反射元件150：侧光源151：侧向光线160：检测单元170：载架171：出光开口180：限位件181：承载部190：定位件191：推块192：控制部具体实施方式图1是本技术一实施例的光学检测设备的局部截面示意图。图2是本技术一实施例的光学检测设备的局部俯视示意图。图3是本技术一实施例的光学检测设备的电路示意图。为求清楚表示，图2省略示出设置于平台110的上方的取像元件120。请参考图1至图3，在本实施例中，光学检测设备100可用以检测待测物中存在的瑕疵，其中待测物可为面板10，但不限于此。在其他实施例中，待测物也可以是导光板、偏光片或其他光学元件。光学检测设备100包括平台110、取像元件120、背光源130、至少二反射元件140、至少二侧光源150以及检测单元160，假定背光源130位于整体设备的底侧，背光源130、前述二侧光源150、平台110以及取像元件120例如是由下往上依序排列。沿此排列方向，前述二侧光源150设置于背光源130的上方，且位于平台110的下方。平台110设置于前述二侧光源150的上方，且取像元件120设置于平台110的上方。进一步而言，前述二侧光源150并列于平台110与背光源130之间，且平台110位于前述二侧光源150与取像元件120之间。也就是说，背光源130与取像元件120分别位于平台110的相对两侧，且背光源130与平台110之间的距离大于任一侧光源150与平台110之间的距离。平台110具有安装开口111，其中平台110用以承载面板10，且面板10对应于安装开口111设置，举例来说，面板10的至少部分与安装开口111相重叠。取像元件120对位于安装开口111，且取像元件120可为线扫描相机或面扫描相机，但不限于此。背光源130对位于安装开口111，配置用以朝向安装开口111投射背光线131，以照射对应于安装开口111设置的面板10。进一步而言，背光线131可在穿透面板10后射向取像元件120，其中取像元件120依据穿透面板10的背光线131取得混合瑕疵表面图像。其中，混和瑕疵表面图像可包含有面板10中的亮点、面板10中的碎亮点以及附着于面板10上的异物等图像，以下分别称为亮点图像、碎亮点图像以及异物图像。在本实施例中，各侧光源150的所在位置是以不阻碍背光线131射向面板10的路径为原则，其中各侧光源150正对一个反射元件140，且各反射元件140位于取像元件120与对应的侧光源150之间，并且各反射元件140的所在位置是以不阻碍背光线131射向面板10的路径为原则。进一步而言，各侧光源150所投射的侧向光线151并非直接射向面板10，而是先射向对应的反射元件140，接着，经由对应的反射元件140反射至面板10。如此为之，有助于提高侧向光线151投射至面板10的均匀度与亮度。侧向光线151可在穿透面板10后射向取像元件120，其中取像元件120依据穿透面板10的侧向光线151取得异物表面图像。其中，异物表面图像包含有异物图像。也就是说，混和瑕疵表面图像的组成与异物表面图像的组成不同。特别说明的是，各侧光源150用以沿对应的传递路径投射侧向光线151至对应的反射元件140，且前述二传递路径互不重叠，也就是说，前述二侧光源150与前述二反射元件140的排列方式是以不干涉任一侧向光线151的传递路径为原则。如图1所示，前述二反射元件140设置于平台110，且对位安装开口111中，举例来说，前述二反射元件140可分别固定于安装开口111中的相对两内壁面。背光源130、前述二侧光源150以及前述二反射元件140依序由下往上排列，且沿此排列方向，各侧光源150位于背光源130与对应的反射元件1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学检测设备，适于检测待测物，其特征在于，所述光学检测设备包括：平台，具有安装开口，其中所述平台用以承载所述待测物，且所述待测物对应于所述安装开口设置；取像元件，设置于所述平台的上方，图像获取待侧物；至少二侧光源，设置于所述平台的下方，且对位于所述安装开口；至少二反射元件，设置于所述安装开口，其中所述至少二反射元件系分别对应于所述至少二侧光源，且各所述反射元件位于所述取像元件与对应的所述侧光源之间，其中，各所述侧光源与对应的所述反射元件可提供所述待侧物一侧向光线，藉以所述取像元件获取所述待侧物的图像；以及检测单元，接收所述待侧物的图像，藉以检测所述待侧物。

【技术特征摘要】
2018.07.06 TW 1072091981.一种光学检测设备，适于检测待测物，其特征在于，所述光学检测设备包括：平台，具有安装开口，其中所述平台用以承载所述待测物，且所述待测物对应于所述安装开口设置；取像元件，设置于所述平台的上方，图像获取待侧物；至少二侧光源，设置于所述平台的下方，且对位于所述安装开口；至少二反射元件，设置于所述安装开口，其中所述至少二反射元件系分别对应于所述至少二侧光源，且各所述反射元件位于所述取像元件与对应的所述侧光源之间，其中，各所述侧光源与对应的所述反射元件可提供所述待侧物一侧向光线，藉以所述取像元件获取所述待侧物的图像；以及检测单元，接收所述待侧物的图像，藉以检测所述待侧物。2.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，还包括：至少二载架，连接所述平台背向所述取像元件的一侧，且分别配置用以承载所述至少二侧光源，其中所述至少二载架分别对应于所述至少二反射元件设置，且各所述载架具有朝向对应的所述反射元件的出光开口，各所述侧光源投射出的所述侧向光线经由对应的所述出光开口射向对应的所述反射元件。3.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：张祥毅，古振男，
申请(专利权)人：由田新技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71