一种自适应的批量轴检测持尺治具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种自适应的批量轴检测持尺治具，包括测量装置和产品置放台，所述的测量装置包括底座、持尺夹、千分尺，所述的产品置放台包括二个通过活页设置在底座一端的重台，每个所述的重台顶部设置一置物凹槽，所述的持尺夹夹住所述千分尺，使千分尺的开口向上，所述持尺夹通过微调装置连接底座，所述的微调装置包括滑轨和旋转块，所述的滑轨固定于底座上并设置有滑块，所述的旋转块通过转台连接滑块，所述的转台与旋转块固定并使旋转块与滑块可沿垂直轴旋转，所述的持尺夹通过贯穿旋转块的连接杆与旋转块连接。本实用新型专利技术可实现快速批量对轴进行测量。

An Adaptive Ruler for Batch Axis Detection

【技术实现步骤摘要】
一种自适应的批量轴检测持尺治具
本专利技术涉及轴检测持尺治具，特别涉及治具的位置自适应结构。
技术介绍
轴的批量检测是工业生产过程中常见的一个重要环节，检测的效率对生产具有直接影响。常规的检测方式以手持待测轴和千分尺进行人工测量为主，无法保证配合的速度和准确程度。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对
技术介绍
中存在的缺点和问题加以改进和创新，提供一种可快速批量进行轴检测的自适应持尺治具。本专利技术的技术方案是构造一种自适应的批量轴检测持尺治具，包括测量装置和产品置放台，所述的测量装置包括底座、持尺夹、千分尺，所述的产品置放台包括二个通过活页设置在底座一端的重台，每个所述的重台顶部设置一置物凹槽，所述重台可以收拢至底座的两侧或者展开使二个重台上的置物凹槽呈共线状态，所述的持尺夹夹住所述千分尺，使千分尺的开口向上，所述持尺夹通过微调装置连接底座，使得二个重台展开时，千分尺的测量口位于展开的二个置物凹槽之间，所述的微调装置包括滑轨和旋转块，所述的滑轨固定于底座上并设置有滑块，所述的旋转块通过转台连接滑块，所述的转台与旋转块固定并使旋转块与滑块可沿垂直轴旋转，所述的持尺夹通过贯穿旋转块的连接杆与旋转块连接。在其中一个实施例中，所述的底座的四角设置有水平调节螺栓。在其中一个实施例中，所述的二个重台在远离千分尺的一端分别设置有相互配合的锁紧装置，在收拢至底座的两侧时，锁紧装置可将二个重台和底座夹紧。在其中一个实施例中，所述的二个重台顶部设置有垂直置物凹槽方向的缺口。在其中一个实施例中，所述的底座上设置有相互垂直的二个玻璃气泡水平仪。本专利技术的优点和有益效果：本专利技术设置有可展开的二个重台，在使用时，只需将重台展开，并将待测轴放置于置物凹槽内，千分尺的测量口即处于待测轴的两端，手持千分尺的螺旋套管即可对轴的直径进行测量，而滑轨与旋转块使得千分尺的位置需要微调时，通过滑块与滑轨的配合、旋转块与转台的配合进行快速调节，方便省时，尤其适用批量测量的应用场景。附图说明图1是实施例的整体结构示意图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的首选实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容更加透彻全面。需要说明的是，当元件被认为是“设置”在另一个元件上，它可以是直接设置或连接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。除非另有定义，本文中所使用的所有的技术和科学术语与本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施目的，不是旨在限制本专利技术。实施例1如图1所示，一种自适应的批量轴检测持尺治具，包括测量装置和产品置放台，所述的测量装置包括底座1、持尺夹2、千分尺3，所述的产品置放台包括二个通过活页设置在底座1一端的重台4，每个所述的重台4顶部设置一置物凹槽5，所述重台4可以收拢至底座1的两侧或者展开使二个重台4上的置物凹槽5呈共线状态，所述的持尺夹2夹住所述千分尺3，使千分尺3的开口向上，所述持尺夹2通过微调装置连接底座1，使得二个重台4展开时，千分尺3的测量口位于展开的二个置物凹槽5之间，所述的微调装置包括滑轨6和旋转块7，所述的滑轨6固定于底座1上并设置有滑块8，所述的旋转块7通过转台9连接滑块8，所述的转台9与旋转块7固定并使旋转块7与滑块8可沿垂直轴旋转，所述的持尺夹2通过贯穿旋转块7的连接杆10与旋转块7连接。所述的底座1的四角设置有水平调节螺栓11。所述的二个重台4在远离千分尺3的一端分别设置有相互配合的锁紧装置12，在收拢至底座1的两侧时，锁紧装置12可将二个重台4和底座1夹紧。所述的二个重台4顶部设置有垂直置物凹槽5方向的缺口13。所述的底座1上设置有相互垂直的二个玻璃气泡水平仪14。本专利技术设置有可展开的二个重台，在使用时，只需将重台展开，并将待测轴a放置于置物凹槽内，千分尺的测量口即处于待测轴的两端，手持千分尺的螺旋套管即可对轴的直径进行测量，而滑轨与旋转块使得千分尺的位置需要微调时，通过滑块与滑轨的配合、旋转块与转台的配合进行快速调节，方便省时，尤其适用批量测量的应用场景。本专利技术所述的实施例仅仅是对本专利技术的优选实施方式进行的描述，并非对本专利技术构思和范围进行限定，在不脱离本专利技术设计思想的前提下，本领域中工程技术人员对本专利技术的技术方案做出的各种变型和改进，均应落入本专利技术的保护范围，本专利技术请求保护的
技术实现思路
，已经全部记载在权利要求书中。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自适应的批量轴检测持尺治具，其特征在于：包括测量装置和产品置放台，所述的测量装置包括底座、持尺夹、千分尺，所述的产品置放台包括二个通过活页设置在底座一端的重台，每个所述的重台顶部设置一置物凹槽，所述重台可以收拢至底座的两侧或者展开使二个重台上的置物凹槽呈共线状态，所述的持尺夹夹住所述千分尺，使千分尺的开口向上，所述持尺夹通过微调装置连接底座，使得二个重台展开时，千分尺的测量口位于展开的二个置物凹槽之间，所述的微调装置包括滑轨和旋转块，所述的滑轨固定于底座上并设置有滑块，所述的旋转块通过转台连接滑块，所述的转台与旋转块固定并使旋转块与滑块可沿垂直轴旋转，所述的持尺夹通过贯穿旋转块的连接杆与旋转块连接。

【技术特征摘要】
1.一种自适应的批量轴检测持尺治具，其特征在于：包括测量装置和产品置放台，所述的测量装置包括底座、持尺夹、千分尺，所述的产品置放台包括二个通过活页设置在底座一端的重台，每个所述的重台顶部设置一置物凹槽，所述重台可以收拢至底座的两侧或者展开使二个重台上的置物凹槽呈共线状态，所述的持尺夹夹住所述千分尺，使千分尺的开口向上，所述持尺夹通过微调装置连接底座，使得二个重台展开时，千分尺的测量口位于展开的二个置物凹槽之间，所述的微调装置包括滑轨和旋转块，所述的滑轨固定于底座上并设置有滑块，所述的旋转块通过转台连接滑块，所述的转台与旋转块固定并使旋转块与滑块可沿垂直...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘义，
申请(专利权)人：长沙世茂机械有限公司，
类型：新型
国别省市：湖南,43