偏光片精度精密测量盘制造技术

本实用新型专利技术公开了一种偏光片精度精密测量盘，包括固定座、上层盘和下层盘，所述上层盘的外轮廓为螺旋线，所述下层盘的外轮廓为标准圆，所述上层盘的最大外轮廓边缘与下层盘的外轮廓边缘位于同一竖直面内，在所述固定座上设置有旋转轴，所述旋转轴依次穿过下层盘和上层盘的中心,所述下层盘和上层盘均能绕旋转轴转动,在所述上层盘的上盘面边缘设置有一圈刻度，该刻度用于显示下层盘的外轮廓和上层盘的外轮廓之间的径向宽度L。结构简单，使用方便，成本低，采用圆盘式设计，避免测量时磕伤偏光片，且读数简单直接，提高测量效率。

Polarizer Precision Measuring Disk

【技术实现步骤摘要】
偏光片精度精密测量盘
本技术属于测量工具领域，具体涉及一种偏光片精度精密测量盘。
技术介绍
在TFT-LCD生产过程中，对偏光片的贴附精度要求较为严格，如果贴附精度过大，会引起屏幕漏光，如果贴附精度过小,会导致背光胶带无法贴附或胶带爬框，贴附精度不合格会严重影响偏光片贴附的良率，造成不必要的损失，因此，必须对偏光片的贴附精度进行检测。现有的贴附精度测量检测通常采用光学计测仪器或游标卡尺，光学计测仪器有以下不足之处：1、设备结构复杂，造价成本高；2、当偏光片贴附出现滑移或者溢胶时，精度测量结果偏差较大；3、设备调整校正操作复杂，需专业人员维护。游标卡尺有以下不足之处：1、测量过程中容易磕伤到偏光片；2、测量间距比较小，操作难度大，人员测量误差大；3、游标卡尺属于精密测量仪器，成本高，保管难度大。
技术实现思路
针对上述技术问题，本技术旨在提供一种结构简单，测量方便快捷的偏光片精度精密测量盘。为此，本技术所采用的技术方案为：一种偏光片精度精密测量盘，包括固定座、上层盘和下层盘，所述上层盘的外轮廓为螺旋线，所述下层盘的外轮廓为标准圆，所述上层盘的最大外轮廓边缘与下层盘的外轮廓边缘位于同一竖直面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种偏光片精度精密测量盘，其特征在于：包括固定座(1)、上层盘(2)和下层盘(3)，所述上层盘(2)的外轮廓为螺旋线，所述下层盘(3)的外轮廓为标准圆，所述上层盘(2)的最大外轮廓边缘与下层盘(3)的外轮廓边缘位于同一竖直面内，在所述固定座(1)上设置有旋转轴(4)，所述旋转轴(4)依次穿过下层盘(3)和上层盘(2)的中心,所述下层盘(3)和上层盘(2)均能绕旋转轴(4)转动,在所述上层盘(2)的上盘面边缘设置有一圈刻度(5)，该刻度(5)用于显示下层盘(3)的外轮廓和上层盘(2)的外轮廓之间的径向宽度L。

【技术特征摘要】
1.一种偏光片精度精密测量盘，其特征在于：包括固定座(1)、上层盘(2)和下层盘(3)，所述上层盘(2)的外轮廓为螺旋线，所述下层盘(3)的外轮廓为标准圆，所述上层盘(2)的最大外轮廓边缘与下层盘(3)的外轮廓边缘位于同一竖直面内，在所述固定座(1)上设置有旋转轴(4)，所述旋转轴(4)依次穿过下层盘(3)和上层盘(2)的中心,所述下层盘(3)和上层盘(2)均能绕旋转轴(4)转动,在所述上层盘(2)的上盘面边缘设置有一圈刻度(5)，该刻度(5)用于显示下层盘(3)的外轮廓和上层盘(2)的外轮廓之间的径向宽度L。2.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡佩，
申请(专利权)人：重庆工程职业技术学院，
类型：新型
国别省市：重庆,50