状态分析装置、状态分析方法、以及存储介质制造方法及图纸

实施方式的状态分析装置具有数据分类部、分析部、判定部。数据分类部将输入的数据分类至与多个管理项目的每个对应的多个验证项目的每个。分析部基于由数据分类部分类后的数据而执行与多个管理项目和多个验证项目的各组合对应的分析。判定部基于分析部分析出的分析结果而以管理项目和验证项目的组合为单位对分析结果进行综合判断。

State Analysis Device, State Analysis Method and Storage Media

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】状态分析装置、状态分析方法、以及存储介质
本专利技术的实施方式涉及状态分析装置、状态分析方法、以及存储介质。
技术介绍
目前正尝试使用在制造过程中积累的数据来解析在制造现场产生的不良原因等的状态。为了根据所积累的数据对产品的状态进行分析，提供可视化界面。在现存的可视化界面中，存在对状态进行分析的分析方法受限或者无法追加分析方法的情况。现有技术文献专利文献专利文献1：日本国特开2010－250769号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题本专利技术所要解决的课题在于提供一种能够通过各种各样的分析方法对在产品中产生的状态进行分析的状态分析装置、状态分析方法、以及存储介质。用于解决课题的手段实施方式的状态分析装置具有数据分类部、分析部、判定部。数据分类部对输入的数据符合与多个管理项目的各个对应的多个验证项目的哪一个进行分类。分析部基于由上述数据分类部分类后的上述数据而对上述多个管理项目和上述多个验证项目的各组合中的不良(指与目标变量具有关联性的数据，在本说明书的以下的说明中为同样的意思。在本说明书中作为实施例举出以发现成为不良产生、成品率降低的原因的负面的数据作为目的的分析，因此，为了容易理解而使用了不良这一用语，但并不意味着必然限定于负面的意思)的有无进行分析。判定部基于上述分析部分析出的分析结果针对上述管理项目和上述验证项目的组合的每个对分析结果进行判定。附图说明图1是示出第一实施方式的状态分析装置的结构的框图。图2是示出输入数据的例子的图。图3是示出对数据的变量进行定义的例子的图。图4是示出针对4M的各管理项目分配的多个验证项目的图。图5是示出输入数据的数据要素与4M的管理项目之间的关系的图。图6A是示出针对输入数据的数据要素的验证项目的图。图6B是示出映射结果的图。图7是示出将作为连续值的说明变量离散化的处理的图。图8是示出离散化后的说明变量的图。图9是示出不良率的偏离的图表。图10是示出成品率的偏差的图。图11是示出初期的不良率高的数据的图。图12是示出后期的不良率高的数据的图。图13是示出由不良的偏离分析部进行的t检验的图。图14是示出由不良的偏离分析部进行的t检验的p值的列表的算出结果的图。图15是示出由不良的偏离分析部进行的Fisher检验(费歇尔检验)的图。图16是示出由不良的偏离分析部进行的Fisher检验的p值的列表的算出结果的图。图17是示出由不良的偏差分析部进行的F检验的图。图18是示出由不良的偏差分析部进行的F检验的p值的列表的算出结果的图。图19是示出在检验前被前处理后的数据的图。图20是示出由初期不良分析部进行的t检验的图。图21是示出由初期不良分析部进行的Fisher检验的图。图22是示出由初期不良分析部进行的F检验的p值的列表的算出结果的图。图23是将分析部为不良的偏离分析部的情况下的分析结果进行汇总后的图。图24是将所有的分析部的分析结果进行汇总后的图。图25是示出在判定结果显示部显示的图像的图。图26是示出状态分析装置的处理的流程图。图27是示出状态分析装置的处理的流程图。图28是示出第二实施方式的状态分析装置的结构的框图。图29是示出对数据的变量进行定义的例子的图。图30是示出针对4M的各管理项目分配的多个验证项目的图。图31是统计量以时间系列变化的休哈特的管理图。图32是示出休哈特的异常判定规则的图。图33是示出以时间系列产生的数据的变动的图。图34是示出通过休哈特分析分析的异常的图。图35是示出在休哈特分析中使用的输入数据的图。图36是示出由休哈特分析部进行的统计量的算出结果的图。图37是示出以组单位进行判定处理的结果的图。图38是示出由休哈特分析进行的异常判定的图。图39是示出由休哈特分析部进行的t检验的结果的图。图40是示出由休哈特分析部进行的Fisher检验的结果的图。图41是示出在判定结果显示部显示的图像IM的图。图42是示出状态分析装置的处理的流程图。图43是示出状态分析装置的处理的流程图。具体实施方式以下，参照附图对实施方式的状态分析装置、状态分析方法、以及存储介质进行说明。(第一实施方式)图1是示出第一实施方式的状态分析装置1的结构的框图。状态分析装置1例如是根据在产品的制造过程中积累的各种数据来分析产生不良等的状态是由于何种原因而导致的装置。状态分析装置1例如具备存储部10、数据分类部100、分析部200、判定部300、显示部400。存储部10例如具备输入数据存储部11、变量定义数据存储部12、4M·验证项目主存储部13。数据分类部100例如具备4M定义部110、验证项目定义部120、数据分割部130。分析部200例如具备前处理部210、分析处理部220。判定部300具备分析结果汇总部310、汇总结果判定部320。显示部400例如具备判定结果显示部410。数据分类部100、分析部200、以及判定部300分别通过CPU(CentralProcessingUnit)等处理器执行程序(软件)来实现。数据分类部100、分析部200、以及判定部300的功能部中的一部分或者全部可以通过LSI(LargeScaleIntegration)、ASIC(ApplicationSpecificIntegratedCircuit)、FPGA(Field-ProgrammableGateArray)等硬件实现，也可以通过软件与硬件的协作实现。存储部10是供各种数据存储的存储装置。存储部10例如由HDD(HardDiscDrive)、闪存、EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableReadOnlyMemory)、ROM(ReadOnlyMemory)、或者RAM(RandomAccessMemory)等实现。在输入数据存储部11存储有在产品的制造过程中取得的各种输入数据。图2是示出输入数据的例子的图。输入数据例如是1个产品的数据由1行(记录)表现的形式的数据。输入数据例如是从多达数百的多个制造工序收集的数百万种的庞大的数据。输入数据的说明变量(独立变量)可以像数据1那样为范畴分类(离散数据)的形式，也可以像数据2那样为数值(连续值数据)。输入数据的目标变量(从属变量)是像结果1那样用0或者1(例如良品或者不良品)表示的数据、或者是结果2那样的像成品率那样表示品质的程度的连续值数据。数据按照时间系列的顺序排列。在变量定义数据存储部12，对输入数据的数据要素是说明变量还是目标变量进行定义并存储。图3是示出对数据的变量进行定义的例子的图。如图所示，图2的数据1以及数据2是说明变量，结果1以及结果2被定义为目标变量。在4M·验证项目主存储部13，存储有用于对输入数据的数据要素进行分类的管理项目和验证项目。图4是示出针对4M的各管理项目分配的多个验证项目的图。管理项目例如由在品质管理中使用的4M的项目定义。4M例如是由人(Man)、机械(Machine)、材料(Material)、以及方法(Method)定义的管理项目。未被分类至4M的、其他(Other)的管理项目可以在4M·验证项目主存储部13中定义。这些管理项目可以由用户任意输入。管理项目可以使用上述的4M以外的项目，能够任意地变更以及追加。验证项目是用于发现针对4M的各管理项目定义的品质本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种状态分析装置，具备：数据分类部，对输入的数据符合与多个管理项目的各个对应的多个验证项目的哪一个进行分类；分析部，基于由上述数据分类部分类后的上述数据，执行与上述多个管理项目和上述多个验证项目的各组合对应的分析；以及判定部，基于上述分析部分析出的分析结果，以上述验证项目相对于上述管理项目的组合为单位对分析结果进行判定。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.01.31 JP 2017-0154971.一种状态分析装置，具备：数据分类部，对输入的数据符合与多个管理项目的各个对应的多个验证项目的哪一个进行分类；分析部，基于由上述数据分类部分类后的上述数据，执行与上述多个管理项目和上述多个验证项目的各组合对应的分析；以及判定部，基于上述分析部分析出的分析结果，以上述验证项目相对于上述管理项目的组合为单位对分析结果进行判定。2.根据权利要求1所述的状态分析装置，其中，上述分析部在执行上述分析时识别上述数据的数据形式，并基于上述数据形式来选择用于执行上述分析的分析方法。3.根据权利要求2所述的状态分析装置，其中，上述分析部在选择上述分析方法时，基于上述数据形式而针对上述验证项目的每个选择对上述数据应用的分析方法。4.根据权利要求2所述的状态分析装置，其中，上述分析部在识别上述数据的上述数据形式时，判定上述数据是连续值数据还是离散数据，当判定为上述数据是上述连续值数据的情况下，将上述数据离散化处理为离散数据。5.根据权利要求1或...

【专利技术属性】
技术研发人员：林哲也，西泽实，伴野幸造，采泰臣，松本茂，
申请(专利权)人：株式会社东芝，东芝数字解决方案株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP