硫氧化钆烧结体和包含硫氧化钆烧结体的闪烁体、闪烁体阵列、放射线检测器以及放射线检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供光输出高的硫氧化钆烧结体。该课题通过下述硫氧化钆烧结体得以解决，该硫氧化钆烧结体中，410nm的透光率T410相对于512nm的透光率T512的比例(T410/T512)为0.31以上0.61以下，或者在XRD衍射图谱中在2θ＝20～29°处出现的与硫氧化钆不同的相的衍射峰强度Iy相对于在2θ＝30°±1°处出现的硫氧化钆的(102)或(011)的衍射峰强度Ix的比例(Iy/Ix)为0.1以下，含有选自由镨、铽以及铈组成的组中的1种以上的活化剂。

Scintillators, scintillator arrays, radiographic detectors and radiographic devices containing gadolinium sulfide sintered bodies and gadolinium sulfide sintered bodies

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】硫氧化钆烧结体和包含硫氧化钆烧结体的闪烁体、闪烁体阵列、放射线检测器以及放射线检查装置
本专利技术涉及硫氧化钆烧结体和包含硫氧化钆烧结体的闪烁体、闪烁体阵列、放射线检测器以及放射线检查装置。
技术介绍
为了进行医疗诊断、工业用非破坏检查，利用了基于X射线透射成像的图像诊断或基于X射线CT(ComputedTomography：计算机断层摄影)成像的图像诊断。在这些图像诊断装置中，为了将X射线转换成可见光，使用了将陶瓷闪烁体多个排列而进行了阵列化的部件(闪烁体阵列)，该陶瓷闪烁体是由镨活化的硫氧化钆(Gd2O2S:Pr)(以下也称为GOS:Pr)等稀土硫氧化物的烧结体构成的。这些X射线的诊断图像的分辨率通过将闪烁体阵列所具备的各陶瓷闪烁体小型化而提高，但另一方面具有对X射线的灵敏度降低的课题。因此，近年来，希望开发出灵敏度更高的陶瓷闪烁体，例如，专利文献1中公开了，通过调整Gd2O2S:Pr烧结体的杂质金属氧化物或杂质金属硫化物的量，能够抑制闪烁体阵列的光输出的降低。现有技术文献专利文献专利文献1：国际公开第2016/047139号
技术实现思路
专利技术所要解决的课题但是，在专利文献1中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硫氧化钆烧结体，其中，410nm的透光率T410相对于512nm的透光率T512的比例即T410/T512为0.31以上0.61以下，含有选自由镨、铽和铈组成的组中的1种以上的活化剂。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.01.31 JP 2017-0155251.一种硫氧化钆烧结体，其中，410nm的透光率T410相对于512nm的透光率T512的比例即T410/T512为0.31以上0.61以下，含有选自由镨、铽和铈组成的组中的1种以上的活化剂。2.一种硫氧化钆烧结体，其中，在XRD衍射图谱中，在2θ＝20°～29°处出现的与硫氧化钆不同的相的衍射峰强度Iy相对于在2θ＝30°±1°处...

【专利技术属性】
技术研发人员：羽豆耕治，山原圭二，片山利昭，
申请(专利权)人：三菱化学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP