获取数据接口门限电压的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了获取数据接口门限电压的方法及系统，属于通信技术领域。通过对信号眼图进行扫描，提取符合预设范围的有效电压对，再根据有效电压对计算数据接口的门限电压，从而可避免信号眼图中“消顶”(或“消底”)的电压对的干扰，保证了经计算后的有效门限电压的准确性，进而更为精准的了解数据接口的信号幅度、jitter抖动、信号采样的稳定度和可靠度以及抗干扰噪声能力等特性，对数据接口性能进行准确判断。

The Method and System of Obtaining Data Interface Threshold Voltage

【技术实现步骤摘要】
获取数据接口门限电压的方法及系统
本专利技术涉及通信
，尤其涉及获取数据接口门限电压的方法及系统。
技术介绍
随着科技的发展及进步，对DDR(全称：DoubleDataRateSDRAM，双倍数据速率存储)内存颗粒速率带宽的要求越来越高。相应的，对信号眼图的眼宽和眼高也提出了更大的挑战和更高的要求。芯片部件特性、封装特性、IO特性、PCB(PrintedCircuitBoard，中文名称：印制电路板)传输线、DDR颗粒特性以及DDR颗粒配置布局和芯片制程工艺、电压、温度漂动等等指标要求越来越高。信号眼图一直是一个能够衡量高速信号完整性的一个核心指标，通过眼图能够比较直观地看出这个高速信号的信号跳变切换的特性，信号幅度、jitter(微分零点交叉口)抖动、信号采样的稳定度和可靠度(建立保持时间)以及抗干扰噪声能力等等。随着DDR内存颗粒速率的提高，每个环节对眼图的影响都尤为明显。目前，通常根据信号眼图确定数据接口的最佳门限电压，但是由于调节门限电压的相关寄存器的调整范围有限，对于信号眼图比较高(或信号眼图比较低)的情况时，容易出现“消顶”(或“消底”)的情况，而对于这种情况无法准确获取数据接口的最佳门限电压，进而无法准确的确定信号的信号幅度、jitter抖动、信号采样的稳定度和可靠度以及抗干扰噪声能力等特性，无法准确的对数据接口性能进行准确判断。
技术实现思路
针对信号眼图的“消顶”或“消底”情况无法准确获取数据接口的最佳门限电压的问题，现提供一种旨在可忽略“消顶”或“消底”的情况能够准确的获取数据接口门限电压的获取数据接口门限电压的方法及系统。一种获取数据接口门限电压的方法，包括下述步骤：获取数据接口的信号眼图；对所述信号眼图进行扫描，提取符合预设范围的电压对，将所述电压对作为有效电压对；获取所有的所述有效电压对，根据所有的有效电压对计算所述数据接口的门限电压。优选的，获取数据接口的信号眼图的步骤，包括：采用示波器对所述数据接口进行扫描，生成所述信号眼图。优选的，所述预设范围为所述电压对的最大电压小于所述信号眼图的最大电压阈值，且所述电压对的最小电压大于所述信号眼图的最小电压阈值。优选的，对所述信号眼图进行扫描，提取符合预设范围的电压对，将所述电压对作为有效电压对的步骤，包括：逐个将所述信号眼图中每一个电压对的最大电压与所述信号眼图的最大电压阈值进行比较，将所述电压对的最小电压于所述信号眼图的最小电压阈值进行比较，获取电压对的最大电压小于所述信号眼图的最大电压阈值，且所述电压对的最小电压大于所述信号眼图的最小电压阈值，并将所述电压对作为有效电压对。优选的，获取所有的所述有效电压对，根据所有的有效电压对计算所述数据接口的门限电压的步骤，包括：获取所有的所述有效电压对，将所有的有效电压对对应电压进行相加并除以有效电压对的个数，以获取所述数据接口的门限电压。本专利技术还提供了一种获取数据接口门限电压的系统，包括：获取单元，用于获取数据接口的信号眼图；扫描单元，用于对所述信号眼图进行扫描，提取符合预设范围的电压对，将所述电压对作为有效电压对；计算单元，用于获取所有的所述有效电压对，根据所有的有效电压对计算所述数据接口的门限电压。优选的，所述获取单元采用示波器对所述数据接口进行扫描，生成所述信号眼图。优选的，所述预设范围为所述电压对的最大电压小于所述信号眼图的最大电压阈值，且所述电压对的最小电压大于所述信号眼图的最小电压阈值。优选的，所述扫描单元逐个将所述信号眼图中每一个电压对的最大电压与所述信号眼图的最大电压阈值进行比较，将所述电压对的最小电压于所述信号眼图的最小电压阈值进行比较，获取电压对的最大电压小于所述信号眼图的最大电压阈值，且所述电压对的最小电压大于所述信号眼图的最小电压阈值，并将所述电压对作为有效电压对。优选的，所述计算单元获取所有的所述有效电压对，将所有的有效电压对对应电压进行相加并除以有效电压对的个数，以获取所述数据接口的门限电压。上述技术方案的有益效果：本技术方案中，通过对信号眼图进行扫描，提取符合预设范围的有效电压对，再根据有效电压对计算数据接口的门限电压，从而可避免信号眼图中“消顶”(或“消底”)的电压对的干扰，保证了经计算后的有效门限电压的准确性，进而更为精准的了解数据接口的信号幅度、jitter抖动、信号采样的稳定度和可靠度以及抗干扰噪声能力等特性，对数据接口性能进行准确判断。附图说明图1为信号眼图的一种实施例的示意图；图2为体现“消顶”、“消底”的信号眼图示意图；图3本专利技术所述的获取数据接口门限电压的方法的一种实施例示意图；图4为采用获取数据接口门限电压的方法获取门限电压的一种实施例的信号眼图示意图；图5为获取数据接口门限电压的方法的另一种实施例示意图；图6为获取数据接口门限电压的系统的一种实施例的模块示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。门限电压Vref是用来给信号接收方作为对输入进来的信号做高低电平判断的门限电平。比如：对DDR3颗粒而言，如果Vref＝0.75V，当颗粒接收到来的数据信号高于0.75V电平的时候(比如0.8V)，颗粒会将这个信号当做是有效高电平来处理；同样的，当颗粒接收到来的数据信号低于0.75V的时候(比如0.5V)就不会认为这个信号是个有效高电平信号。这样对于一个高电平信号有效的采样信号宽度就是从上升沿Vref(0.75V)的地方算起，到下降沿Vref(0.75V)的地方截止。这一段时间当中的时钟对这个信号采样的话都是可以采到想要的有效高电平信号(这里只是为了解释一下Vref的概念和实际作用，实际情况比如Vref的有效电平的采样会额外余量预留一定的卡控余量，但不影响这里关于Vref概念和实际作用)。从眼图余量和系统稳定性的角度考虑，理想情况是希望Vref的值对应的有效数据采样宽度(眼宽)能够最大化。而一旦Vref设定的位置不合理，太高或者太低，都会导致有效的数据采样眼宽非常小，数据在传输过程过很容易出现采错的情况而导致数据通信传输错误，引发各种问题，极大地降低了系统的稳定性和可靠性。然而，实际的情况中，可能存在由于测量位置选择不当等原因可导致所测得的模拟眼图波形跟实际接收端的波形不一致的情况，从而影响对其性能的判断准确度。为了能够更加方便直观地查看当前待测信号的相关眼图情况，而不用每次去测量实际的模拟眼图波形，目前多数DDR都将实际模拟2D眼图进行数字量化处理对应生成一个数字化的2D眼图，如图1所示，由若干采样点对组成一个数字化眼图轮廓。这些采样点对的采样过程如下：水平方向上，从校准之后DQS采样时钟的默认位置(图1中150ps对应的位置)开始，左移一个单位的延迟(比如10ps)的位置，对应图1中垂直方向上双箭头的位置点。此时调整垂直方向上Vref的值(通过调整寄存器的方式实现Vref的不同值)，从最小的Vref值调整到最大的Vref值，记录最小的值和最大的值(分别对应上图中箭头所指的最小Vref移动值和最大V本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种获取数据接口门限电压的方法，其特征在于，包括下述步骤：获取数据接口的信号眼图；对所述信号眼图进行扫描，提取符合预设范围的电压对，将所述电压对作为有效电压对；获取所有的所述有效电压对，根据所有的有效电压对计算所述数据接口的门限电压。

【技术特征摘要】
1.一种获取数据接口门限电压的方法，其特征在于，包括下述步骤：获取数据接口的信号眼图；对所述信号眼图进行扫描，提取符合预设范围的电压对，将所述电压对作为有效电压对；获取所有的所述有效电压对，根据所有的有效电压对计算所述数据接口的门限电压。2.根据权利要求1所述的获取数据接口门限电压的方法，其特征在于，获取数据接口的信号眼图的步骤，包括：采用示波器对所述数据接口进行扫描，生成所述信号眼图。3.根据权利要求1所述的获取数据接口门限电压的方法，其特征在于，所述预设范围为所述电压对的最大电压小于所述信号眼图的最大电压阈值，且所述电压对的最小电压大于所述信号眼图的最小电压阈值。4.根据权利要求3所述的获取数据接口门限电压的方法，其特征在于，对所述信号眼图进行扫描，提取符合预设范围的电压对，将所述电压对作为有效电压对的步骤，包括：逐个将所述信号眼图中每一个电压对的最大电压与所述信号眼图的最大电压阈值进行比较，将所述电压对的最小电压于所述信号眼图的最小电压阈值进行比较，获取电压对的最大电压小于所述信号眼图的最大电压阈值，且所述电压对的最小电压大于所述信号眼图的最小电压阈值，并将所述电压对作为有效电压对。5.根据权利要求1所述的获取数据接口门限电压的方法，其特征在于，获取所有的所述有效电压对，根据所有的有效电压对计算所述数据接口的门限电压的步骤，包括：获取所有的所述有效电压对，将所有的有效电压对...

【专利技术属性】
技术研发人员：傅祥，叶佳星，
申请(专利权)人：晶晨半导体上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31