【技术实现步骤摘要】
平面电容-涡流双模态传感器检测系统及缺陷判定方法
本专利申请涉及电磁无损检测
，尤其是一种平面电容-涡流双模态传感器检测系统及缺陷判定方法。
技术介绍
电磁无损检测领域中，涡流成像技术用于金属导体检测，电容成像技术用于非导体检测，由于目前没有能同时实现涡流成像与电容成像的技术，如何快速、高效地实现表面包覆绝缘层的金属试样缺陷检测及缺陷类型区分是一个技术难题。
技术实现思路
本专利技术需要解决的技术问题是提供一种新型的平面电容-涡流双模态传感器检测系统及缺陷判定方法，可以快速、高效地实现表面包覆绝缘层的金属试样缺陷检测及缺陷类型区分。为了解决上述问题，本专利技术所采用的技术方案是：一种平面电容-涡流双模态传感器检测系统，包括用于检测的平面电容-涡流双模态传感器、与平面电容-涡流双模态传感器的输入端连接的信号发生器、与平面电容-涡流双模态传感器的输出端连接的检测模式切换装置、与检测模式切换装置连接的电荷放大器和电压放大器、通过检测模式切换装置与电荷放大器和电压放大器均连接的锁相放大器、与锁相放大器连接的数据采集卡、与数据采集卡连接的计算机和信号处理模块，信号发生器还...
【技术保护点】
1.一种平面电容‑涡流双模态传感器检测系统，其特征在于：包括用于检测的平面电容‑涡流双模态传感器(1)、与平面电容‑涡流双模态传感器(1)的输入端连接的信号发生器(2)、与平面电容‑涡流双模态传感器(1)的输出端连接的检测模式切换装置、与检测模式切换装置连接的电荷放大器(3)和电压放大器(4)、通过检测模式切换装置与电荷放大器(3)和电压放大器(4)均连接的锁相放大器(5)、与锁相放大器(5)连接的数据采集卡(6)、与数据采集卡(6)连接的计算机和信号处理模块(7)，信号发生器(2)还连接锁相放大器(5)，数据采集卡(6)还连接检测模式切换装置；平面电容‑涡流双模态传感器(...
【技术特征摘要】
1.一种平面电容-涡流双模态传感器检测系统，其特征在于：包括用于检测的平面电容-涡流双模态传感器(1)、与平面电容-涡流双模态传感器(1)的输入端连接的信号发生器(2)、与平面电容-涡流双模态传感器(1)的输出端连接的检测模式切换装置、与检测模式切换装置连接的电荷放大器(3)和电压放大器(4)、通过检测模式切换装置与电荷放大器(3)和电压放大器(4)均连接的锁相放大器(5)、与锁相放大器(5)连接的数据采集卡(6)、与数据采集卡(6)连接的计算机和信号处理模块(7)，信号发生器(2)还连接锁相放大器(5)，数据采集卡(6)还连接检测模式切换装置；平面电容-涡流双模态传感器(1)的探头内设有对应配合的激励线圈和检测线圈，激励线圈与信号发生器(2)和检测模式切换装置均连接，检测线圈与检测模式切换装置连接。2.根据权利要求1所述的平面电容-涡流双模态传感器检测系统，其特征在于：检测模式切换装置包括单刀单掷开关Ⅰ(84)、单刀单掷开关Ⅱ(85)、单刀双掷开关Ⅰ(86)、单刀双掷开关Ⅱ(87)，激励线圈一端与信号发生器(2)电压输出端连接、另一端与单刀单掷开关Ⅰ(84)的端口连接；检测线圈一端与单刀单掷开关Ⅱ(85)的端口连接、另一端与单刀双掷开关Ⅰ(86)的端口一连接，单刀双掷开关Ⅰ(86)的端口二与电压放大器(4)输入端连接、端口三与电荷放大器(3)输入端连接；单刀双掷开关Ⅱ(87)的端口一与电压放大器(4)的输出端连接、端口二与电荷放大器(3)的输出端连接、端口三与锁相放大器(5)的输入端口连接；信号发生器(2)的参考信号输出端口与锁相放大器(5)的参考信号输入端口连接，锁相放大器(5)的输出端口、数据采集卡(6)和计算机和信号处理模块(7)依次连接；数据采集卡(6)与单刀单掷开关Ⅰ(84)、单刀单掷开关Ⅱ(85)、单刀双掷开关Ⅰ(86)、单刀双掷开关Ⅱ(87)的对应端口连接。3.根据权利要求2所述的平面电容-涡流双模态传感器检测系统，其特征在于：平面电容-涡流双模态传感器(1)的探头包括传感器盒体(11)、设置在传感器盒体(11)底部用于固定PCB探头...
【专利技术属性】
技术研发人员：殷晓康，符嘉明，李晨，谷悦，李伟，陈国明，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：山东,37
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