一种材料应变原位EBSD观察试验用夹具制造技术

本实用新型专利技术的一种材料应变原位EBSD观察试验用夹具，包括U型夹头，夹持夹具和定位螺栓，夹持夹具包括上夹具和下夹具，上夹具中心设有方形观察口，用于进行试样观察；下夹具用于放置试样，上夹具和下夹具夹持试样后，采用螺栓，通过圆孔与夹头固定。试验时，将试样安装固定后，首先放入拉伸炉内进行拉伸观察成像后，找到待观察区域，进行EBSD观察成像，重复上述步骤，完成材料应变原位EBSD观察试验。本实用新型专利技术的夹具实现了材料应变下的原位EBSD观察，且该夹具适用于不同厚度与形状的试样，通过夹具自身刻度尺确定尺寸同时能够对试样进行准确定位，便于试样观察。

A clamp for in-situ EBSD observation test of material strain

【技术实现步骤摘要】
一种材料应变原位EBSD观察试验用夹具
：本技术属于试样拉伸与EBSD观察
，具体涉及一种材料应变原位EBSD观察试验用夹具。
技术介绍
：EBSD技术也被称为电子背散射衍射(ElectronBackscatteredDiffraction，简称EBSD)或取向成像显微技术(OrientationImagingMicroscopy，简称OIM)等。在扫描电子显微镜中样品被高角度倾斜，以便背散射(即衍射)的信号EBSP被充分强化到能被荧光屏接收(在显微镜样品室内)，荧光屏与一个CCD相机相连，EBSP能直接或经放大储存图像后在荧光屏上观察到，EBSD不仅能测量各取向在样品中所占的比例，还能知道这些取向在显微组织中的分布，可应用于取向关系测量的范例有：推断第二相和基体间的取向关系、穿晶裂纹的结晶学分析、单晶体的完整性、EBSD测量的是样品中每一点的取向，那么不同点或不同区域的取向差异也就可以获得，从而可以研究晶界或相界等界面，晶粒尺寸及形状的分析，晶界、亚晶及孪晶性质的分析。拉伸过程中材料应变的EBSD观察：含拉伸/压缩功能的激光高温成像仪，可以实现高温环境中受力状态下材料的组织/本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种材料应变原位EBSD观察试验用夹具，其特征在于，用于夹持薄片/膜状金属试样或金属丝试样，包括夹头，夹持夹具和定位螺栓，其中：所述夹头为U型夹头，所述的U型夹头夹持端表面设有圆孔，用于与夹持夹具固定；所述的夹持夹具包括上夹具和下夹具，所述的上夹具包括上夹具夹持端，所述的上夹具夹持端表面设有圆孔，所述的上夹具中心设有方形观察口，用于进行试样观察；所述的下夹具用于放置试样，具体包括下夹具夹持端和下夹具平行段，所述的下夹具夹持端表面设有圆孔；所述的U型夹头夹持端表面圆孔，上夹具夹持端表面圆孔和下夹具夹持端表面圆孔孔径一致，所述的上夹具和下夹具夹持试样后，采用定位螺栓，通过圆孔与夹头固定，其中：...

【技术特征摘要】
1.一种材料应变原位EBSD观察试验用夹具，其特征在于，用于夹持薄片/膜状金属试样或金属丝试样，包括夹头，夹持夹具和定位螺栓，其中：所述夹头为U型夹头，所述的U型夹头夹持端表面设有圆孔，用于与夹持夹具固定；所述的夹持夹具包括上夹具和下夹具，所述的上夹具包括上夹具夹持端，所述的上夹具夹持端表面设有圆孔，所述的上夹具中心设有方形观察口，用于进行试样观察；所述的下夹具用于放置试样，具体包括下夹具夹持端和下夹具平行段，所述的下夹具夹持端表面设有圆孔；所述的U型夹头夹持端表面圆孔，上夹具夹持端表面圆孔和下夹具夹持端表面圆孔孔径一致，所述的上夹具和下夹具夹持试样后，采用定位螺栓，通过圆孔与夹头固定，其中：当所述的材料应变原位EBSD观察试验用夹具夹持金属丝试样时，所述的下夹具平行段两端设有金属丝试样固定端头，用于金属丝试样缠绕固定。2.根据权利要求1所述的一种材料应变原位EBSD观察试验用夹具，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：申勇峰，周金华，王国富，薛文颖，张大征，刘燕，
申请(专利权)人：东北大学，无锡天辰冷拉型钢有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁,21