【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】自适应功率控制环路
技术介绍
专利
本公开总体上涉及功率管理，更具体地涉及图形处理单元(GPU)中的功率管理。相关领域的描述处理器越来越多地用于需要优化功耗的环境中。例如，处理器是支持计算的智能手机、膝上型计算机、便携式游戏设备等的重要组成部分，其中期望的是使功耗最小化以延长电池寿命。处理器通常还包含图形处理单元(GPU)以增强处理器的图形功能。GPU允许电子设备以相对高的速率显示复杂图形，从而增强用户体验。但是，GPU也可以增加处理器的功耗。附图说明通过参考附图，本领域技术人员可以更好地理解本公开，并且其众多特征和优势是显而易见的。不同附图中使用的相同参考符号指代相同或相似物品。图1是根据一些实施方案的采用自适应功率控制的处理系统的框图。图2是根据一些实施方案的示出用于在图1的处理系统处执行动态功率电平管理的功率控制环路的框图。图3是根据一些实施方案的示出图1的功率控制环路所采用的各种功率电平调整因子的图。图4是根据一些实施方案的执行自适应功率控制的方法的流程图。具体实施方式图1至图4示出了用于通过根据GPU当前正在处理的特定工作负载启用功率管理设置的调整以改变...
【技术保护点】
1.一种方法，其包括：识别连续数量的测量周期中与图形处理单元(GPU)处的处理工作负载相关联的第一性能度量，其中所述连续数量的测量周期包括当前测量周期和至少一个先前测量周期；确定所述连续数量的测量周期超过最小滞后数；确定未来测量周期中要应用于所述GPU的估计的优化；以及基于所述估计的优化，基于所述估计的优化来调整所述未来测量周期中所述GPU处的功率电平设置。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.02.02 EP 17154351.5;2017.01.26 US 15/416,9551.一种方法，其包括：识别连续数量的测量周期中与图形处理单元(GPU)处的处理工作负载相关联的第一性能度量，其中所述连续数量的测量周期包括当前测量周期和至少一个先前测量周期；确定所述连续数量的测量周期超过最小滞后数；确定未来测量周期中要应用于所述GPU的估计的优化；以及基于所述估计的优化，基于所述估计的优化来调整所述未来测量周期中所述GPU处的功率电平设置。2.如权利要求1所述的方法，其中调整所述功率电平设置包括改变所述GPU处的核心时钟频率和存储器时钟频率中的至少一个。3.如权利要求1所述的方法，其中识别所述第一性能度量包括识别所述GPU的平均利用率百分比、所述GPU的平均操作温度以及在所述当前测量周期期间消耗的平均累积功率中的至少一个。4.如权利要求1所述的方法，其中识别所述第一性能度量包括基于所述当前测量周期中所述GPU的当前处理工作负载以及基于所述未来测量周期中所述GPU的预期未来处理工作负载来识别所述第一性能度量。5.如权利要求1所述的方法，其中所述最小滞后数基于所述第一性能度量与性能度量阈值之间的关系而随时间变化。6.如权利要求1所述的方法，其还包括：识别所述连续数量的测量周期中所述第一性能度量超过性能度量阈值；以及将所述功率电平设置调整为所述未来测量周期中的性能优化的设置。7.如权利要求1所述的方法，其还包括：识别所述连续数量的测量周期中所述第一性能度量低于性能度量阈值；以及将所述功率电平设置调整为所述未来测量周期中的功率节省优化的设置。8.如权利要求1所述的方法，其中调整所述GPU处的所述功率电平设置包括基于所识别的第一性能度量与性能度量阈值之间的差异，在所述GPU处将所述未来测量周期中的所述功率电平设置调整当前功率电平的大小。9.一种包含一组可执行指令的非暂时性计算机可读介质，所述可执行指令组用于操纵处理器以：识别连续数量的测量周期中与图形处理单元(GPU)处的处理工作负载相关联的第一性能度量，其中所述连续数量的测量周期包括当前测量周期和至少一个先前测量周期；确定所述连续数量的测量周期超过最小滞后数；确定未来测量周期中要应用于所述GPU的估计的优化；以及基于所述估计的优化调整所述未来测量周期中所述GPU处的功率电平设置。10.如权利要求9所述的非暂时性计算机可读介质，其中所述处理器还用于：识别所述连续数量的测量周期中所述第一性能...
【专利技术属性】
技术研发人员：权顺奎，黄俊，沙赫里亚·佩泽什基，亚历山大·萨比诺·杜纳斯，
申请(专利权)人：ATI科技无限责任公司，
类型：发明
国别省市：加拿大,CA
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