LVDT位移传感器性能测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种LVDT位移传感器性能测试系统，属于LVDT位移传感器性能测试系统技术领域，包括可编程逻辑器CPLD、可编程门阵列FPGA、DA/AD芯片；CPLD分别与FPGA、所述DA/AD芯片连接，CPLD还连接有ROM存储器，DA/AD芯片还连接LVDT电路；ROM存储器存储有标定数据；LVDT电路通过连接器连接计算机；还包括有电源，电源与所述LVDT电路电连接，电源与所述连接器电连接。本实用新型专利技术方波转化成正弦波，转化电路先通过高通滤波器将0‑3.3V方波中的直流部分滤除，然后通过有源低通滤波器留下相应频率的正弦波，经过由AD5453构成的可编程增益电路调节幅值，最终通过功率放大器提高了带载能力，检测精度高，满足检测需求；通过嵌入式FPGA实现了无需重复装卡LVDT位移传感器，省时省力，提高了检测效率。

Performance Testing System of LVDT Displacement Sensor

【技术实现步骤摘要】
LVDT位移传感器性能测试系统
本技术涉及飞机滑油附件测试
，具体涉及一种LVDT位移传感器性能测试系统。
技术介绍
飞机上很多燃滑油附件，比如伺服阀、活门等都有LVDT位移传感器，LVDT属于直线位移传感器，其结构主要由一个初级线圈、两个次级线圈、铁芯、线圈骨架以及外壳等部件组成，工作原理相当于是铁芯可动变压器，当衔铁移动时，两个次级线圈产生的感应电动势相反变化，一个线圈的感应电动势增大，另一个线圈的感应电动势减小；相应地，反向移动时则一个线圈的感应电动势减小，另一个线圈的感应电动势增大。根据引出线形式，两个相位相反的次级线圈可分为两线制、三线制和四线制；其中：两线制是两个次级线圈首位相连，输出电压一般情况在中间位为零，左右两个方向电压对称(成正V字型)，但是左右两个方向波形的相位相反；三线制是将两个次级线圈首尾相连的点引出，四线制为两个次级线圈独立引出，三线和四线制一般需要后级电路进行处理计算，得到对应的位移值。安装于飞机的LVDT传感器在飞机行进的过程中其检测位移信号频率最高可达3000～4000HZ，测试频率非常高，而且由于应用对象的特殊性，要求飞机LVDT传感器具备包本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LVDT位移传感器性能测试系统，其特征在于：包括可编程逻辑器CPLD、可编程门阵列FPGA、DA/AD芯片；所述CPLD分别与所述FPGA、所述DA/AD芯片连接，所述CPLD还连接有ROM存储器，所述DA/AD芯片还连接LVDT电路；所述ROM存储器存储有标定数据；所述LVDT电路通过连接器连接计算机；还包括有电源，所述电源与所述LVDT电路电连接，所述电源与所述连接器电连接。

【技术特征摘要】
1.一种LVDT位移传感器性能测试系统，其特征在于：包括可编程逻辑器CPLD、可编程门阵列FPGA、DA/AD芯片；所述CPLD分别与所述FPGA、所述DA/AD芯片连接，所述CPLD还连接有ROM存储器，所述DA/AD芯片还连接LVDT电路；所述ROM存储器存储有标定数据；所述LVDT电路通过连接器连接计算机；还包括有电源，所述电源与所述LVDT电路电连接，所述电源与所述连接器电连接。2.根据权利要求1所述的LVDT位移传感器性能测试系统，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：王欢，张鹏，
申请(专利权)人：北京航顺泰达科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11